24.11.2012 Aufrufe

Optimierung der elektrischen Eigenschaften von lateralen ...

Optimierung der elektrischen Eigenschaften von lateralen ...

Optimierung der elektrischen Eigenschaften von lateralen ...

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Erfolgreiche ePaper selbst erstellen

Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.

Kapitel 4 Statisches Verhalten <strong>von</strong> SJ‐LDMOS‐Transistoren 71<br />

_________________________________________________________________________________________________________________<br />

Kanaldotierung bei. Wenn die beiden SJ‐Strukturen optimiert sind, benötigt die un‐<br />

gleichförmige SJ eine größere Anzahl implantierter Borionen (also die p‐Dosis) als<br />

die gleichförmige SJ, wie im Kapitel 3 gezeigt, deshalb liegt die Kanaldotierung für<br />

den Fall <strong>der</strong> ungleichförmigen SJ höher als für den Fall <strong>der</strong> gleichförmigen SJ. Dass<br />

das IDSat <strong>der</strong> ungleichförmigen SJ kleiner als bei <strong>der</strong> gleichförmigen SJ ist, ergibt sich<br />

darüber hinaus in Übereinstimmung mit Gl. (4.4). Bei hohen Gatespannungen UGS<br />

weichen die Transferkennlinien <strong>von</strong> <strong>der</strong> Geraden ab; scheinbar verliert <strong>der</strong><br />

Gateansteuerkreis aufgrund des bei hohem <strong>lateralen</strong> Feld auftretenden Quasisätti‐<br />

gungseffekts die Kontrolle über den Drainstrom.<br />

(a)<br />

(b)<br />

Abbildung 4.7: Transferkennlinien mit <strong>der</strong> Temperatur T als Parameter bei UDS =<br />

30V; (a) Gleichförmige SJ (b) Ungleichförmige SJ.

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!