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Optimierung der elektrischen Eigenschaften von lateralen ...

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Kapitel 3<br />

Laterale Superjunction‐Leistungs‐<br />

transistoren<br />

In den letzten Jahren hat sich eine rasante Entwicklung im Bereich <strong>der</strong> Leistungs‐<br />

halbleiter vollzogen. Die treibenden Kräfte dafür sind ständige Fortschritte in <strong>der</strong><br />

Mikroelektronik, insbeson<strong>der</strong>e die sogenannte Smart‐Power‐Integration <strong>von</strong> latera‐<br />

len, integrierbaren Leistungstransistoren zusammen mit Ansteuerschaltungen und<br />

Logikfunktionen auf einem Chip. Grundsätzliche Anfor<strong>der</strong>ungen an laterale<br />

Leistungsbauelemente umfassen neben <strong>der</strong> Integrierbarkeit auch hohe Sperrfähigkeit<br />

mit guten Durchlasseigenschaften, hohe Latch‐up‐Festigkeit, gutes Schaltverhalten,<br />

geringe Größe und niedrige Kosten. In dem Bestreben, solche Anfor<strong>der</strong>ungen zu er‐<br />

füllen, wurden im Verlauf <strong>der</strong> Zeit innovative Bauelementekonzepte eingeführt, die<br />

schließlich zu Superjunction‐Bauelementen führten.<br />

3.1 Lateral‐ und Vertikalkonzept bei Leistungs‐MOSFETs<br />

Bei Leistungs‐MOS‐Transistoren unterscheidet man grundsätzlich je nach Strom‐<br />

flussrichtung zwischen Lateral‐ und Vertikaltransistoren. Lateraltransistoren werden<br />

mit <strong>der</strong> klassischen Planartechnologie gefertigt. Der Stromfluss in diesem Transistor<br />

verläuft überwiegend parallel zur Chipoberfläche (Abb. 3.1a). Bei einem <strong>lateralen</strong><br />

Transistoraufbau sind Source‐ und Drainelektroden sowie Kanalgebiet <strong>der</strong><br />

Transistoren in <strong>der</strong> gleichen Ebene an <strong>der</strong> Chipoberfläche angeordnet. Laterale<br />

Leistungs‐MOSFETs sind typischerweise integrierte Bestandteile <strong>von</strong> Smart Power<br />

ICs (siehe Abschn. 3.2). Aufgrund des <strong>lateralen</strong> Stromflusses nahe <strong>der</strong>

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