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Optimierung der elektrischen Eigenschaften von lateralen ...

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104 Kapitel 4 Statisches Verhalten <strong>von</strong> SJ‐LDMOS‐Transistoren<br />

_________________________________________________________________________________________________________________<br />

Dadurch, dass das optimale Design <strong>der</strong> gleichförmige SJ während des Durchbruch‐<br />

eintritts bereits eine hohe Oberflächenfeldstärke nahe dem Sourcebereich bedingt,<br />

kann ein positiver Wert <strong>von</strong> ∆ND o<strong>der</strong> ein negativer Wert <strong>von</strong> ∆NA, <strong>der</strong> eine Verschie‐<br />

bung des Durchbruchs in Richtung Source bewirkt, die Durchbruchspannung <strong>der</strong><br />

gleichförmigen SJ stärker verringern als bei <strong>der</strong> ungleichförmigen SJ, <strong>der</strong>en Feld‐<br />

stärke im Sourcebereich relativ klein ist. Analog dazu bewirkt ein negativer Wert <strong>von</strong><br />

∆ND o<strong>der</strong> ein positiver Wert <strong>von</strong> ∆NA eine Verschiebung des Durchbruchs in Richtung<br />

Drain. Nun ist aber die Feldstärke im Drainbereich <strong>der</strong> beiden SJ‐Strukturen ver‐<br />

gleichbar klein, daher führt <strong>der</strong> Durchbrucheffekt in Richtung Drain zu einem nicht<br />

so steilen Abfall <strong>der</strong> Durchbruchspannung. Aus diesem Grund tendiert die gleich‐<br />

förmige SJ bei Abweichungen <strong>von</strong> <strong>der</strong> optimalen Kompensationsbedingung leicht zu<br />

dem beobachteten unsymmetrischen Durchbrucheffekt, während die ungleichför‐<br />

mige SJ das Feld gleichmäßiger verteilt und dadurch den substratgestützten Aus‐<br />

räumungseffekt unterdrückt.<br />

4.6 Auswirkung hexagonaler Säulenanordnungen<br />

Bisher wurde bei <strong>der</strong> Säulengestaltung <strong>von</strong> einer rechteckförmigen Anordnung aus‐<br />

gegangen. Die Säulenstruktur lässt sich jedoch auch noch mit einer hexagonalen An‐<br />

ordnung realisieren, wie in Abb. 4.35 veranschaulicht. Um nur den Einfluss des Lay‐<br />

outs zu ermitteln, werden die Abmessungen und Dotierungen <strong>der</strong> Kompensations‐<br />

struktur unverän<strong>der</strong>t gehalten.<br />

Die Simulationsberechnungen ergeben, dass sich die hexagonale Säulenanordnung<br />

geringfügig auf die bisher erzielte Durchbruchspannung auswirkt (U(BR)DSS = 637 V<br />

für gleichförmige SJ und U(BR)DSS = 634,7 V für ungleichförmige SJ), wohl aber auf den<br />

spezifischen Durchlasswi<strong>der</strong>stand (RDS(on)⋅A = 10,39 Ω⋅mm 2 für gleichförmige SJ und<br />

RDS(on)⋅A = 10,94 Ω⋅mm 2 für ungleichförmige SJ). Dies deutet auf eine Reduzierung <strong>der</strong><br />

effektiven Querschnittsfläche hin, wodurch die Ladungsträger stärker behin<strong>der</strong>t<br />

werden. Simuliertes Durchlass‐ und Durchbruchverhalten für beide SJ‐Strukturen<br />

mit hexagonaler Säulenanordnung zeigen Abb. 4.36 bis 4.38, welche zu erkennen<br />

geben, dass die Stromflusslinien im Zickzack <strong>von</strong> Drain nach Source laufen und dass<br />

zwischen rechteckiger und hexagonaler Säulenanordnung grundsätzlich kein großer<br />

Unterschied hinsichtlich charakteristischer Merkmale <strong>der</strong> Potentiallinien, <strong>der</strong> Feld‐<br />

stärkeverteilung und <strong>der</strong> Verteilung <strong>der</strong> Stoßionisationsrate beim Durchbruch be‐<br />

steht. In Abb. 4.39 und Abb. 4.40 sind die Sensitivitäten auf nichtideale Dotierung für<br />

beide SJ‐Strukturen mit hexagonaler Säulenanordnung dargestellt. Die Schwankun‐<br />

gen <strong>der</strong> Durchbruchspannung liegen ungefähr innerhalb gleicher Grenzen wie bei<br />

<strong>der</strong> orthogonalen Säulenanordnung. Im Gegensatz dazu weist jedoch die hexagonale<br />

Säulenanordnung einen höheren spezifischen Durchlasswi<strong>der</strong>stand auf. Aus <strong>der</strong><br />

hexagonalen Ausführungsform kann man somit im Hinblick auf statische Eigen‐<br />

schaften keinen Vorteil ziehen.

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