Aufbau und Charakterisierung eines Guinier-Diffraktometers

Charakterisierung des Diffraktometers 4 - 28
romatoren sondern auch durch den Linienbreitenbeitrag aus der chromatischen
Dispersion unterscheiden. Daher wurden in beiden Aufstellungen die
Beugungsdiagramme von Silizium und Zinkoxid mit verschiedenen Primärstrahl-
blenden aufgenommen. Hierbei betrug die Belichtungszeit 10 Minuten bei einem
Röhrenstrom von 35mA und einer Röhrenspannung von 40kV. Die Bildplatte wurde
sechsfach ausgelesen. Bei dieser und den folgenden Messungen war stets der
„ADC-Gain“ auf 2,5V eingestellt und die „Auto-Korrektur“ aktiviert. Aus den
Messungen von Silizium wurden durch Einzel-Fits der Beugungsreflexe die
Halbwertsbreiten ermittelt. Hierzu wurde das Programm „Topas“ [20] verwendet und
das Reflexprofil durch einen geteilte Pseudo-Voigt-Funktion modelliert, da es sich bei
Abb.4-25: Auf Seite 1 gemessene Halbwertsbreiten von Siliziumreflexen bei variierender Breite der
Primärstrahlblende.
den Auswertungen mit dem Programm „Jade“ [21] zeigte, daß eine Pearson-VII-
Funktion das Reflexprofil nicht ganz exakt beschreibt. Die Abbildungen 4-25 und 4-
26 stellen die gemessenen Halbwertsbreiten in Abhängigkeit des Beugungswinkels
und der Breite der Primärstrahlblende für beide Aufstellungsorte der Bildplatte dar.
Bei den Messungen zeigt sich auf beiden Seiten, daß die Primärstrahlblende keinen
systematischen Einfluß auf die Halbwertsbreite hat. Ein Vergleich der gemessenen
Halbwertsbreiten der beiden Seiten miteinander ergibt, daß sich der Ver-
breiterungseffekt durch die chromatische Dispersion vor allem auf den mittleren