Aufbau und Charakterisierung eines Guinier-Diffraktometers
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<strong>Charakterisierung</strong> des <strong>Diffraktometers</strong> 4 - 12<br />
Abb.4-9: Beugungsdiagramm von Silizium vor (schwarz) <strong>und</strong> nach (grau) Absorptionskorrektur. Auf der<br />
Sek<strong>und</strong>ärachse ist das Verhältnis der Intensitäten nach <strong>und</strong> vor der Korrektur aufgetragen.<br />
Um den Einfluß der Schlitzbreite von der Detektorblende auf Halbwertsbreite <strong>und</strong><br />
Intensität der Beugungsreflexe zu sehen, wurde das Quartz-Triplett, bestehend aus<br />
den Reflexen 122, 023 <strong>und</strong> 301 mit verschiedenen Schlitzbreiten aufgenommen. Die<br />
Messungen wurden, wie alle folgenden, bei einem Röhrenstrom von 35mA <strong>und</strong> einer<br />
Abb.4-10: Einfluß der Schlitzbreite der Detektorblende auf die Reflexbreite <strong>und</strong> die Intensität.
![Umzeichnung und Indizierung einer Laue-Aufnahme [PDF]](https://img.yumpu.com/8457356/1/184x260/umzeichnung-und-indizierung-einer-laue-aufnahme-pdf.jpg?quality=85)
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