Aufbau und Charakterisierung eines Guinier-Diffraktometers
Aufbau und Charakterisierung eines Guinier-Diffraktometers
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<strong>Charakterisierung</strong> des <strong>Diffraktometers</strong> 4 - 5<br />
Die Halbwertsbreite des Quartz-Monochromators sollte somit r<strong>und</strong> doppelt so groß<br />
sein wie die des Germanium-Monochromators.<br />
Vergleicht man den Linienbreitenbeitrag der Teilchengröße mit dem, durch die Dicke<br />
der Probe <strong>und</strong> der chromatischen Dispersion gegebenen Beitrag, so ist er erst bei<br />
Teilchengrößen von wenigen µm <strong>und</strong> kleiner relevant.<br />
Aufgr<strong>und</strong> des r<strong>und</strong> 1,6 mal so großen Umfangs des Fokussierkreises der Bildplatte<br />
gegenüber dem des <strong>Guinier</strong>-<strong>Diffraktometers</strong>, ist der Einfluß der Probendicke <strong>und</strong> in<br />
Additionsstellung auch der Einfluß der chromatischen Dispersion auf die Halbwerts-<br />
breiten bei der Bildplatte kleiner als beim <strong>Guinier</strong>-Diffraktometer. In Additionsstellung<br />
ist die Halbwertsbreite durch die chromatische Dispersion beim <strong>Guinier</strong>-Diffrak-<br />
tometer um 0,005° konstant über dem Beugungswinkel größer als bei der Bildplatte.<br />
Beim Linienbreitenbeitrag durch die Probendicke nimmt der Unterschied in der<br />
Halbwertsbreite zwischen <strong>Guinier</strong>-Diffraktometer <strong>und</strong> Bildplatte mit steigendem<br />
Beugungswinkel zu. Für eine Probendicke von 100µm ist bei einem Beugungswinkel<br />
von 100°, der Probendickenbeitrag zur Halbwertsbreite bei der Bildplatte um 0,045°<br />
kleiner. In Subtraktionsstellung ist bei der Bildplatte der Beitrag der chromatischen<br />
Dispersion ab einem Winkel von 29° größer als beim <strong>Guinier</strong>-Diffraktometer. Die<br />
Linienverbreiterung durch die chromatische Dispersion an Probe <strong>und</strong> Monochro-<br />
matorkristall kompensiert sich beim <strong>Guinier</strong>-Diffraktometer bei einem Winkel von<br />
36,5° <strong>und</strong> bei der Bildplatte bereits bei 22,5°.<br />
Nur bei kleinen Beugungswinkeln von 10° <strong>und</strong> weniger, wird die erreichbare<br />
Auflösung fast ausschließlich durch die chromatische Dispersion festgelegt. Bei<br />
größeren Beugungswinkeln wird bei einer Probendicke von 100µm die Reflexbreite in<br />
Additionsstellung fast zu gleichen Teilen durch die chromatische Dispersion <strong>und</strong><br />
durch die Probendicke bestimmt. In der Subtraktionsstellung dominiert immer der<br />
Linienbreitenbeitrag durch die Probendicke. Da sich die Faktoren, die in die<br />
chromatische Reflexverbreiterung eingehen, nicht ändern lassen <strong>und</strong> die<br />
Probendicke einen ebenso starken Einfluß auf die Auflösung hat, sollte stets<br />
versucht werden die Probendicke so gering wie möglich zu halten. Außerdem sollte<br />
die Teilchengröße nicht wesentlich geringer als 10 µm sein, da sonst der zugehörige<br />
Effekt zusätzlich zu einer Begrenzung der erreichbaren Auflösung beiträgt. Im<br />
Vergleich zwischen der Auflösung des <strong>Guinier</strong>-<strong>Diffraktometers</strong> <strong>und</strong> der Bildplatte läßt<br />
sich bemerken, daß in Additionsstellung die Auflösung der Bildplatte deutlich besser<br />
ist als die des <strong>Guinier</strong>-<strong>Diffraktometers</strong>. In Subtraktionsstellung ist die Auflösung