Aufbau und Charakterisierung eines Guinier-Diffraktometers
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<strong>Charakterisierung</strong> des <strong>Diffraktometers</strong> 4 - 2<br />
Dabei wurde die Eindringtiefe t durch die Halbwert-Absorptionslänge ln 2 µ = t<br />
abgeschätzt, wobei für Germanium ein Absorptionskoeffizient µ=361,2cm -1 [05]<br />
bzw. für Quartz ein Absorptionskoeffizient µ=96,3cm -1 [05] angenommen wurde.<br />
Für Cu-Kα1 ist die spektrale Halbwertsbreite nach Hofmann et al. [04] zu<br />
dλ=6·10 -4 Å gegeben. Die Werte für den Anschliffwinkel τ, dem Abstand b=fb<br />
zwischen Kristallmitte <strong>und</strong> Fokallinie, den Monochromatorwinkel θM <strong>und</strong> der<br />
Mosaizität ∆τ sind in Tabelle 3-1 aufgelistet.<br />
- Verbreiterung aufgr<strong>und</strong> der Teilchengröße<br />
Je größer die Zahl der beugenden Netzebenen ist, um so genauer muß die<br />
Beugungsbedingung eingehalten werden, damit es zu einer konstruktiven<br />
Interferenz kommt. Das heißt, daß bei einem kleinen beugenden Kristalliten der<br />
Bereich um einen reziproken Gitterpunkt, innerhalb dessen die Streuamplitude von<br />
Null verschieden ist, größer ist als bei einem großen Kristalliten. Mittels Gleichung<br />
2-34 kann der sich hieraus ergebende Beitrag zur Linienbreite berechnet werden.<br />
Abb.4-1: Linienbreitenbeitrag für verschiedene Teilchengrößen G als Funktion des Beugungswinkels 2θ.<br />
In Abbildung 4-1 ist dieser Beitrag zur Reflexbreite umgerechnet auf den<br />
Winkelbereich ∆2θ über dem Beugungswinkel für verschiedene Teilchengrößen G<br />
aufgetragen. Die aus diesem Beitrag folgende Halbwertsbreite ist unabhängig von<br />
dem Durchmesser des Fokussierkreises.<br />
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