Aufbau und Charakterisierung eines Guinier-Diffraktometers
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Anhang A - 30<br />
[18] L. W. Finger, D. E. Cox, A. P. Jephcoat:<br />
A Correction for Powder Diffraction Peak Asymmetry due to Axial<br />
Divergence<br />
J. Appl. Cryst., Band 27 (1994) S. 892ff<br />
A.6 Liste der verwendeten Programme<br />
[19] GUINKR<br />
[20] Topas<br />
[21] Jade<br />
[22] Rietica<br />
[23] SimRef<br />
Version 1.00/F, Lehrstuhl für Kristallographie <strong>und</strong> Strukturphysik<br />
(Universität Erlangen)<br />
Version 2.0, Bruker AXS (1999)<br />
Release 5.0.26, Materials Data Inc. (1995)<br />
Version 1.71, B. A. Hunter (1997)<br />
Version 2.6, H. Ritter, J. Ihringer, J.K. Maichle <strong>und</strong> W. Prandl<br />
Institut für Kristallographie der Universität Tübingen (1998)<br />
[24] G670 Imaging Plate <strong>Guinier</strong> Camera<br />
Version3.0, Huber Diffraktionstechnik GmbH (1999)<br />
[25] PowderCell<br />
Version 2.3, W.Kraus <strong>und</strong> G. Nolze<br />
Federal Institute for Materials Research and Testing (1999)<br />
Weitere verwendete Programme:<br />
Word 97<br />
Excel 97<br />
Corel Draw 8<br />
Delpi 5<br />
IDL