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Aufbau und Charakterisierung eines Guinier-Diffraktometers

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Anhang A - 30<br />

[18] L. W. Finger, D. E. Cox, A. P. Jephcoat:<br />

A Correction for Powder Diffraction Peak Asymmetry due to Axial<br />

Divergence<br />

J. Appl. Cryst., Band 27 (1994) S. 892ff<br />

A.6 Liste der verwendeten Programme<br />

[19] GUINKR<br />

[20] Topas<br />

[21] Jade<br />

[22] Rietica<br />

[23] SimRef<br />

Version 1.00/F, Lehrstuhl für Kristallographie <strong>und</strong> Strukturphysik<br />

(Universität Erlangen)<br />

Version 2.0, Bruker AXS (1999)<br />

Release 5.0.26, Materials Data Inc. (1995)<br />

Version 1.71, B. A. Hunter (1997)<br />

Version 2.6, H. Ritter, J. Ihringer, J.K. Maichle <strong>und</strong> W. Prandl<br />

Institut für Kristallographie der Universität Tübingen (1998)<br />

[24] G670 Imaging Plate <strong>Guinier</strong> Camera<br />

Version3.0, Huber Diffraktionstechnik GmbH (1999)<br />

[25] PowderCell<br />

Version 2.3, W.Kraus <strong>und</strong> G. Nolze<br />

Federal Institute for Materials Research and Testing (1999)<br />

Weitere verwendete Programme:<br />

Word 97<br />

Excel 97<br />

Corel Draw 8<br />

Delpi 5<br />

IDL

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