fachtvortrag teseq d.pdf - Schurter
fachtvortrag teseq d.pdf - Schurter
fachtvortrag teseq d.pdf - Schurter
Erfolgreiche ePaper selbst erstellen
Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.
TESEQ – EMV Tagung Zürich 2009<br />
Eric Dudenhoeffer<br />
Engineering Manager<br />
Mitglied von TC 77B/ MT12
Einführung<br />
Aus<br />
wurde<br />
2
Produkt-Portfolio<br />
Automotive<br />
Transienten<br />
ESD bis 30kV<br />
Burst bis 8kV<br />
Surge bis 6.6kV<br />
RF Verstärker Software RF Antennen und GTEM-Zellen<br />
3
Der Weg zum CE-Zeichen<br />
Die anzuwendenden Direktiven müssen eingehalten werden<br />
• EMV Direktive<br />
• Low-voltage Direktive<br />
• Maschinen Direktive<br />
• RTTE Direktive<br />
• Spielzeug Direktive<br />
Diese sind produktabhängig<br />
4
Beispiel: Kaffee-Maschine<br />
EMV Direktive<br />
- Produkt Norm EN 55014-1: Störaussendung<br />
- Produkt Norm EN 55014-2: Störfestigkeit<br />
Low-voltage Direktive<br />
- EN 61010<br />
5
Immunität von Haushaltsgeräten<br />
Produkte Norm EN 55014-2<br />
• ESD IEC / EN 61000-4-2<br />
• HF gestrahlt IEC / EN 61000-4-3<br />
• EFT (Burst) IEC / EN 61000-4-4<br />
• CWS (Surge) IEC / EN 61000-4-5<br />
• HF leitungsgebunden IEC / EN 61000-4-6<br />
• PQT (Netzausfall) IEC / EN 61000-4-11<br />
6
ESD – Das Phänomen<br />
Menschen / Gegenstände können sich aufladen bis zu 10kV oder 20kV<br />
Entladeströme im ns-Bereich mit Spitzung bis zu 100A sind möglich<br />
Insbesondere elektronische Schaltkreise können durch induzierte Pulse wie<br />
auf richtige Signale reagieren → Störung!<br />
7
ESD-Ersatzschaltbild und Pulsformdefinition<br />
ESD ist ein breitbandiges<br />
Phänomen mit Frequenzanteilen<br />
bis in den Multi-<br />
GHz-Bereich<br />
ESD erzeugt zudem HF-<br />
Felder (E-/H-Felder)<br />
ESD ist meistens nicht<br />
destruktiv, aber kann<br />
Schäden erzeugen, die<br />
nicht sofort ersichtlich<br />
sind und erst zu einem<br />
späteren Zeitpunt zu<br />
Fehlfunktion führt<br />
8
9<br />
ESD Testaufbau
ESD – ein sehr aufwändiger Prüfprozess!<br />
Es müssen alle metallischen, berührbare Teile „beschossen“ werden mit<br />
„Contact discharge„ und „Air discharge“ Methode<br />
Mindestens 20 oder 100 Pulse<br />
Beide Polaritäten<br />
Niedere Levels müssen auch getestet werden<br />
In jedem repräsentativen EUT-Betriebszustand und Setup (Zubehör)<br />
Nicht leitende Teile müssen auf Isolation (Air discharge) getestet<br />
werden<br />
Indirekte Entladung (HCP/VCP) falls EUT in Kunststoff-Gehäuse<br />
Höhere Levels testen macht Sinn zum Ermitteln des effektiven Störlevels<br />
In der Fahrzeugindustrie muss sogar jeder Stecker-Pin getestet werden<br />
(Robotergesteuerte Anlagen für bis >150 Pole)<br />
→ Ausführliche ESD-Tests dauern in der Regel ca 1 Tag<br />
10
Bewertungskriterium<br />
Test Spezifikation – Beispiel<br />
Standard<br />
Level<br />
Bewertungskriterium<br />
Ergebnis<br />
EN 55014-2<br />
PASS<br />
EN 61000-4-2:2001<br />
Air 4kV/Contact 8kV<br />
B<br />
PASS<br />
EN 61000-4-4:2004<br />
Mains 2kV<br />
Data 1kV<br />
B<br />
PASS<br />
EN 61000-4-5:2005<br />
Mains sym 1kV<br />
asym 2kV<br />
Data 1kV<br />
B<br />
PASS<br />
EN 61000-4-11:2005<br />
0% -10ms<br />
40% -200ms<br />
70% -500ms<br />
0% -5sec<br />
B<br />
C<br />
C<br />
C<br />
PASS<br />
Klasse A: Keine Funktionsbeeinträchtigung während der Prüfung<br />
Klasse B: Funktionsbeeinträchtigung erlaubt. Nach der Prüfung selbst<br />
wieder herstellbar<br />
Klasse C: Zeitweiliger Funktionsausfall. Wieder herstellbar durch<br />
Bedienereingriff<br />
11
ESD Test in der Praxis<br />
Praktischer ESD TEST am Prüfling<br />
12
Test Report<br />
Beispiel von einem Testreport<br />
13
ESD Tatsachen<br />
Anwendung des aktuellen ESD-<br />
Standards lässt gute Resultate<br />
erwarten<br />
Es sind uns keine Rückmeldungen<br />
bekannt von Problemen durch statische<br />
Entladungen im Betrieb, sofern die<br />
ESD-Prüfung zuvor OK war<br />
Grund: Normierte Testmethode ist<br />
wesentlich strenger als das wirkliche<br />
ESD-Phänomen<br />
Jedoch – für einige EUT‘s ist die<br />
Reproduzierbarkeit der Tests sehr<br />
schlecht<br />
14
Schlechte Reproduzierbarkeit – Wieso?<br />
Test-Aufbau und Prüfprozess werden nicht immer sorgfältig beachtet<br />
In einigen Fällen wird nur der Generator in Frage gestellt<br />
- nur ganz spezielle Prüflinge betroffen (
Neue Norm – IEC 61000-4-2: Edition 2, 2008<br />
Neue Norm wurde im Dezember 2008 publiziert<br />
Hauptziel – bessere Reproduzierbarkeit<br />
• Neuer Kalibrier-Prozess: Messtarget – Oszilloskop mit BW >2GHz<br />
• Annex D: Information über Effekte von Feldern<br />
• Annex E: Kalibrierunsicherheit<br />
• Annex F: Konformitätsaussage im Fall von Differenzen bei Testresultaten<br />
• Aktuelle Generatoren gemäss IEC 61000-4-2: Ed 1, 1995 werden<br />
weiterhin verwendbar sein<br />
16
EFT/Burst – IEC/EN 61000-4-4<br />
EFT / Bursts<br />
IEC / EN 61000-4-4<br />
17
18<br />
Burst ist ein breitbandiges Phänomen mit<br />
Frequenz-Anteilen bis in den 100 MHz-Bereich
19<br />
Burst Testaufbau
Burst Test in der Praxis<br />
Demo am Prüfling<br />
20
Wissenswertes über Burst Pulse<br />
Burst Pulse sind breitbandige Störer – Frequenzinhalte bis >einige 100MHz<br />
Burst Pulse gehören zu den Störungen, die in der Praxis am häufigsten<br />
auftreten<br />
Störeffekt ist meistens nicht destruktiv<br />
Störung wird „leitungsgebunden“ eingekoppelt – hat aber auch einen<br />
relativ hohen Anteil an Abstrahlung<br />
Burst-Tests gewährleisten, dass alle Geräteein-/ausgänge bezüglich HF<br />
geschützt sind<br />
Falls die HF-Schirmung des Gehäuses schlecht ist, merkt man dies generell<br />
während des Burst-Tests<br />
Prüfaufbau und Ausrüstung sind relative günstig (< CHF 16k)<br />
21
Stoss-Spannungen – SURGE – IEC 61000-4-5<br />
Hochenergie-Pulse → Sekundäreffekte durch Blitze oder Schaltvorgänge im<br />
Netz (Grosse Lasten, z.B. Kondensator-Bänke)<br />
22
23<br />
Blitz und Donnerwetter
Genormter Surge Puls<br />
Surge-Pulse sind niederfrequente,<br />
energiereiche Störer<br />
Frequenzinhalte gehen bis ca<br />
100kHz<br />
Pulsamplitude bis mehrere kV<br />
Der Störeffekt ist oft destruktiv<br />
24
Surge Testaufbau<br />
Amplituden Rampen<br />
Phasenlagen Rampen<br />
Unterschiedliche<br />
Koppelarten<br />
25
Surge Test in der Praxis<br />
Demo am Testplatz<br />
26
Spannungsvariation & -Ausfall IEC 61000-4-11<br />
t<br />
Spannungsabfall<br />
70% U – 20 Halbwellen<br />
40% U – 50 Halbwellen<br />
Spannungsunterbruch<br />
0% U (Start bei 0°)<br />
0.5 Halbwellen<br />
t<br />
Spannungsvariation<br />
(nur für spez. Produkte)<br />
27
Netzausfall Test in der Praxis<br />
Demo am Prüfling<br />
28
EMV als entwicklungsbegleitendes Tool<br />
Je später getestet wird – je teuerer kann es werden…<br />
Bauteile Qualifikation<br />
- Gehäuse<br />
- Displays<br />
- Netzteile<br />
- Stecker<br />
Lösungs-Qualifikation<br />
- geschirmte Leitungen<br />
- LWL<br />
- Front und Bedienungskonzept (Folientastatur etc)<br />
- Layout (Multilayer mit Ground etc.)<br />
Zwischenabnahme Prototyp<br />
29
Immunitäts-Anforderungen – z.B. Haushalt-Produkte<br />
Test-Anforderungen für Haushaltgeräte, elektrische Werkzeuge und<br />
ähnliche Ausrüstungen gemäss EN 55014-2<br />
Wichtigste EMV-Prüfungen<br />
Mögliche Geräte<br />
• IEC / EN 61000-4-2 Elektrostatische Ladung NSG 435<br />
• IEC / EN 61000-4-3 Gestrahlte HF-Immunität Diverse<br />
• IEC / EN 61000-4-4 Schnelle Transienten (EFT) NSG 3040<br />
• IEC / EN 61000-4-5 Hochenergie Pulse (Surge) NSG 3040<br />
• IEC / EN 61000-4-6 Geleitete HF-Immunität NSG 4070<br />
• IEC / EN 61000-4-11 Spannungsvariationen NSG 3040<br />
30
Wirtschaftlich EMV testen – Womit?<br />
Kombigenerator + ESD Simulator: ab 35k CHF<br />
- Ueber 60% der Zertifizierungstests machbar<br />
- Bauteile/Baugruppen Qualifikation<br />
- Entwicklungsbegeleitende Tests möglich<br />
- Optimierungstests und Messungen möglich<br />
- Prüfling so vorgetestet, dass die RF-Abnahme<br />
beim Dienstleister mit grosser Wahrscheinlichkeit<br />
beim 1. Mal klappt<br />
- Einsparung von Zeit und Kosten, da keine<br />
weiteren Termine beim Dienstleister nötig<br />
- Vorgeprüfte Produkte (CE-Zeichen!) sind<br />
schneller am Markt<br />
31
Danke für Ihre Aufmerksamkeit<br />
www.<strong>teseq</strong>.com<br />
32