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1 Überblick über die Sensorik

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Seite 232<br />

462 Anhang A: Dimensionen und Formelzeichen<br />

Anhang A: Dimensionen und Formelzeichen 463<br />

U 1/m 3 s Rekombinationsrate<br />

U<br />

(i) a V angelegte äußere elektrische Spannung oder von außen<br />

meßbare Spannung (EMK) im System i<br />

U B 1 Betriebsspannung<br />

FB<br />

U a V angelegte äußere elektrische Spannung zur Einstellung<br />

des Flachbandzustandes<br />

br<br />

U a V angelegte äußere elektrische Spannung beim Durchbruch<br />

des pn-Übergangs<br />

U EB V Spannung zwischen Emitter und Basis<br />

U CE V Spannung zwischen Kollektor und Emitter<br />

U CB V Spannung zwischen Kollektor und Basis<br />

U D = U DS V Drain-Spannung relativ zur Source-Elektrode<br />

U G = U GS V Gate-Spannung relativ zur Source-Elektrode<br />

U G<br />

FB<br />

V Gate-Spannung im Flachbandfall<br />

U p V Abschnürpannung<br />

U S V Substratspannung<br />

U s 1/m 2 s Oberflächen-Rekombinationsrate<br />

U sens V Sensorspannung<br />

U T V Einsatzspannung<br />

U th ,∆U th V thermische Spannung<br />

v m/s Teilchengeschwindigkeit<br />

v D m/s Driftgeschwindigkeit<br />

v Dn m/s Driftgeschwindigkeit für Elektronen<br />

v Dp m/s Driftgeschwindigkeit für Löcher<br />

v g m/s Gruppengeschwindigkeit<br />

v n m/s Elektronengeschwindigkeit<br />

v p m/s Löchergeschwindigkeit<br />

v th m/s thermische Geschwindigkeit<br />

v x<br />

+<br />

m/s Teilchengeschwindigkeit in Richtung der pos. x-Achse<br />

V,Vol m 3 Volumen<br />

W (i) eV gesamte Energie (des Systems i)<br />

W kr eV Kristallenergie pro Teilchen<br />

W feld eV Feldenergie pro Teilchen<br />

W A eV Energie eines Akzeptorniveaus<br />

W B eV Energiebarriere<br />

Wo B eV Energiebarriere im thermischen Gleichgewicht<br />

(eingebaute Energiebarriere)<br />

W BI eV Kenngröße bei MIS-Übergängen, |W Fo -W i |<br />

W Bn eV Bandaufbiegung in einem n-Halbleiter<br />

W Bp eV Bandaufbiegung in einem p-Halbleiter<br />

W D eV Energie eines Donatorniveaus<br />

W diff eV Aktivierungsenergie für den Diffusionsprozeß<br />

W F eV Fermienergie = chemisches Potential von Elektronen<br />

W Fo eV Fermienergie im thermischen Gleichgewicht<br />

W F<br />

B<br />

eV Fermienergie am Ort der Barriere<br />

W F<br />

nL<br />

eV Fermienergie von Elektronen im Leitungsband<br />

W<br />

nV F eV Fermienergie von Löchern im Valenzband in der<br />

Energieskala für Elektronen<br />

W F<br />

n<br />

eV Fermienergie im n-Halbleiter<br />

W F<br />

p<br />

eV<br />

W g eV Bandabstand<br />

Fermienergie im p-Halbleiter<br />

W(i) n eV (differentielle) Energie pro Teilchen<br />

(Elektronen, im System i)<br />

W p eV (differentielle) Energie pro Teilchen (Löcher)<br />

W i eV Energie der Bandmitte zw. Valenz- und Leitungsband<br />

W gi<br />

kin<br />

eV gesamte kinetische Energie pro System i<br />

W kin,n eV kinetische Energie pro Teilchen;<br />

abgekürzte Schreibweise: W kin<br />

W kin,n<br />

(x,y,z)<br />

eV kinetische Energie pro Teilchen (in x,y,z-Richtung);<br />

(x,y,z)<br />

abgekürzte Schreibweise:W kin<br />

W L =W pot,n eV potentielle Energie pro Teilchen;Energie der<br />

Leitungsbandkante<br />

abgekürzte Schreibweise:W pot<br />

W Lo eV Energie der Leitungsbandkante im thermischen<br />

Gleichgewicht

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