1 Ãberblick über die Sensorik
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Seite 226<br />
450 8.6 Chemisch sensitive Feldeffekttransistoren (CHEMFETs) 8.6 Chemisch sensitive Feldeffekttransistoren (CHEMFETs) 451<br />
Der Drainstrom chemisch aktiver MOS-Transistoren oberhalb der Abschnürspannung<br />
(Sättigungsbereich der MOS-Kennlinien) wird durch <strong>die</strong> Standardtheorie (Band 2, Abschnitt<br />
10.4.1: dort werden auch <strong>die</strong> einzelnen Größen weiter erläutert) beschrieben:<br />
Bild 8.6-3:<br />
CHEMFET mit einem chemisch passiviertem Referenzsystem, in welches das<br />
Meßgas nicht eindringen kann (nach [1.1]).<br />
Die durch <strong>die</strong> chemische Reaktion gesteuerte elektrische Größe ist dabei in vielen Fällen<br />
<strong>die</strong> Gatespannung U G , welche durch <strong>die</strong> EMK der Ladungsdoppelschicht beeinflußt<br />
wird. Alternativ dazu können sich aber auch andere Größen, wie <strong>die</strong> Flachbandspannung<br />
U a<br />
FB<br />
ändern, <strong>die</strong> ihrerseits nach (2) von einer Anzahl von Werkstoffparametern<br />
(Arbeitsfunktionen, Oxid- und Grenzflächenladungen u.a.) beeinflußt wird. Alle <strong>die</strong>se<br />
Größen hängen empfindlich von den Randbedingungen der chemischen Reaktion und<br />
dem Zustand und Reinheitsgrad des Systems Gatemetall-Gateoxid-Halbleiteroberfläche<br />
ab.<br />
Aus der empfindlichen Abhängigkeit von vielen – in ihrer Auswirkung sehr unterschiedlichen<br />
– Werkstoffgrößen ergibt sich auch <strong>die</strong> grundsätzliche Schwierigkeit der<br />
CHEMFETs: Der Zustand des Systems ändert sich stark mit dem Kontaminationsgrad,<br />
der in den meisten Fällen schwer zu kontrollieren ist, da der einstellbare Temperaturbereich<br />
aufgrund der Anwesenheit von Flüssigkeiten oder durch den technologischen Aufbau<br />
der Sensoren stark eingeschränkt ist. Die Sensorkennlinien sind daher in vielen Fällen<br />
wenig langzeitstabil: Häufig verlieren <strong>die</strong> Sensoren nach einiger Zeit ihre Empfindlichkeit.<br />
Darüber hinaus erfordert <strong>die</strong> Einführung passiver miniaturisierter Referenzsysteme<br />
(Bild 8.6-3) eine zusätzliche Materialoptimierung.<br />
Eine Reihe von Variationsmöglichkeiten ergibt sich für <strong>die</strong> Einkopplung der potentialbildenden<br />
Prozesse durch chemisch reagierende Substanzen in <strong>die</strong> Halbleiteroberfläche.<br />
Hierfür können z.B. poröse Gatemetallschichten oder spezielle Gatekonstruktionen<br />
verwendet werden wie in Bild 8.6-4.<br />
Auf dem Gebiet der chemisch sensitiven Halbleiterbauelemente werden zur Zeit noch<br />
umfangreiche Forschungsarbeiten durchgeführt mit den Zielsetzungen:<br />
– Entwicklung neuer Systeme und Werkstoffkombinationen mit höherer Stabilität<br />
und geringerer Anfälligkeit gegenüber Kontamination und Desensibilisierung (z.B.<br />
durch Einführung von Schutz- und chemischen Sperrschichten)<br />
– Begünstigung vorbestimmter chemischer Reaktionen durch Katalysatorzusätze<br />
– Entwicklung von Sensoren mit einer (lokalen) Aufheizung, um bestimmte chemische<br />
Reaktionen zu fördern<br />
– Entwicklung "intelligenter" Sensoren, <strong>die</strong> aufgrund einer integrierten Datenverarbeitung<br />
<strong>die</strong> ermittelten Daten besser auswerten können<br />
– Entwicklung von Sensorarrays, d.h. einer Vielzahl gleichzeitig betriebener chemischer<br />
Sensoren mit bevorzugter Empfindlichkeit für bestimmte Reaktionen.