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1 Überblick über die Sensorik

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Seite 226<br />

450 8.6 Chemisch sensitive Feldeffekttransistoren (CHEMFETs) 8.6 Chemisch sensitive Feldeffekttransistoren (CHEMFETs) 451<br />

Der Drainstrom chemisch aktiver MOS-Transistoren oberhalb der Abschnürspannung<br />

(Sättigungsbereich der MOS-Kennlinien) wird durch <strong>die</strong> Standardtheorie (Band 2, Abschnitt<br />

10.4.1: dort werden auch <strong>die</strong> einzelnen Größen weiter erläutert) beschrieben:<br />

Bild 8.6-3:<br />

CHEMFET mit einem chemisch passiviertem Referenzsystem, in welches das<br />

Meßgas nicht eindringen kann (nach [1.1]).<br />

Die durch <strong>die</strong> chemische Reaktion gesteuerte elektrische Größe ist dabei in vielen Fällen<br />

<strong>die</strong> Gatespannung U G , welche durch <strong>die</strong> EMK der Ladungsdoppelschicht beeinflußt<br />

wird. Alternativ dazu können sich aber auch andere Größen, wie <strong>die</strong> Flachbandspannung<br />

U a<br />

FB<br />

ändern, <strong>die</strong> ihrerseits nach (2) von einer Anzahl von Werkstoffparametern<br />

(Arbeitsfunktionen, Oxid- und Grenzflächenladungen u.a.) beeinflußt wird. Alle <strong>die</strong>se<br />

Größen hängen empfindlich von den Randbedingungen der chemischen Reaktion und<br />

dem Zustand und Reinheitsgrad des Systems Gatemetall-Gateoxid-Halbleiteroberfläche<br />

ab.<br />

Aus der empfindlichen Abhängigkeit von vielen – in ihrer Auswirkung sehr unterschiedlichen<br />

– Werkstoffgrößen ergibt sich auch <strong>die</strong> grundsätzliche Schwierigkeit der<br />

CHEMFETs: Der Zustand des Systems ändert sich stark mit dem Kontaminationsgrad,<br />

der in den meisten Fällen schwer zu kontrollieren ist, da der einstellbare Temperaturbereich<br />

aufgrund der Anwesenheit von Flüssigkeiten oder durch den technologischen Aufbau<br />

der Sensoren stark eingeschränkt ist. Die Sensorkennlinien sind daher in vielen Fällen<br />

wenig langzeitstabil: Häufig verlieren <strong>die</strong> Sensoren nach einiger Zeit ihre Empfindlichkeit.<br />

Darüber hinaus erfordert <strong>die</strong> Einführung passiver miniaturisierter Referenzsysteme<br />

(Bild 8.6-3) eine zusätzliche Materialoptimierung.<br />

Eine Reihe von Variationsmöglichkeiten ergibt sich für <strong>die</strong> Einkopplung der potentialbildenden<br />

Prozesse durch chemisch reagierende Substanzen in <strong>die</strong> Halbleiteroberfläche.<br />

Hierfür können z.B. poröse Gatemetallschichten oder spezielle Gatekonstruktionen<br />

verwendet werden wie in Bild 8.6-4.<br />

Auf dem Gebiet der chemisch sensitiven Halbleiterbauelemente werden zur Zeit noch<br />

umfangreiche Forschungsarbeiten durchgeführt mit den Zielsetzungen:<br />

– Entwicklung neuer Systeme und Werkstoffkombinationen mit höherer Stabilität<br />

und geringerer Anfälligkeit gegenüber Kontamination und Desensibilisierung (z.B.<br />

durch Einführung von Schutz- und chemischen Sperrschichten)<br />

– Begünstigung vorbestimmter chemischer Reaktionen durch Katalysatorzusätze<br />

– Entwicklung von Sensoren mit einer (lokalen) Aufheizung, um bestimmte chemische<br />

Reaktionen zu fördern<br />

– Entwicklung "intelligenter" Sensoren, <strong>die</strong> aufgrund einer integrierten Datenverarbeitung<br />

<strong>die</strong> ermittelten Daten besser auswerten können<br />

– Entwicklung von Sensorarrays, d.h. einer Vielzahl gleichzeitig betriebener chemischer<br />

Sensoren mit bevorzugter Empfindlichkeit für bestimmte Reaktionen.

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