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1 Überblick über die Sensorik

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Seite 119<br />

236 5.1 Halleffekt-Sensoren 5.1.2 Hallgeneratoren 237<br />

Bild 5.1.2-1<br />

Temperaturabhängigkeit von Hallkoeffizienten bei unterschiedlich dotiertem Silizium<br />

(nach [5.3])<br />

Man erkennt, daß <strong>die</strong> hohe Ladungsträgerbeweglichkeit der III-V-Halbleiter Indiumantimonid<br />

(InSb) und Indiumarsenid (InAs) verbunden ist mit einem relativ kleinen Bandabstand<br />

W g . In <strong>die</strong>sem Fall setzt <strong>die</strong> intrinsische Elektron-Lochpaarerzeugung (Band<br />

2, Abschnitt 2.2.4), <strong>die</strong> den Halleffekt stark vermindert (Bilder 5.1.1-4 und 5.1.2-1), bei<br />

relativ niedrigen Temperaturen ein. Dieses kann nur durch eine starke Dotierung verhindert<br />

werden, <strong>die</strong> ihrerseits den Hallkoeffizienten herabsetzt. Tab. 5.1.2-2 zeigte einen<br />

Überblick über <strong>die</strong> zur Herstellung von Hallsensoren eingesetzten Werkstoffe, deren<br />

Anwendungsbereich und wesentliche Merkmale.<br />

Tab. 5.1.2-2 Einsatz verschiedener Halbleiterwerkstoffe als Hallgeneratoren (nach [5.5])<br />

Bild 5.1.2-2<br />

Aufbau von Halbleiter-Hallgeneratoren mit umdotierten aktiven Schichten (nach<br />

[5.2, 5.8]):<br />

a) Wegen der starken Abhängigkeit des Hallkoeffizienten von der Ladungsträgerdichte<br />

wird <strong>die</strong> Dotierung der Sensorschicht (schwach implantierter Bereich)<br />

häufig über Ionenimplantation (Band 2, Abschnitt 8.2-5) eingestellt, auch Epitaxieverfahren<br />

können angewendet werden. Die ohmsche Kontaktierung über eine<br />

Metallschicht erfolgt in Bereichen, bei denen <strong>die</strong> Dotierung vergrößert worden ist<br />

(stark implantierte Bereiche, s. Band 2, Abschnitt 9.2)<br />

b) Fertigung eines GaAs-Hallsensors in Planartechnologie<br />

Hallgeneratoren aus den mono- oder polykristallinen Werkstoffen Indiumarsenid und -

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