Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at

M29: Rasterkraftmikroskopie (AFM) – Phase Imaging
Weiterführende Literatur
[1] S. N. Magonov, V. Elings, M. H. Whangbo
(1997) „Phase imaging and stiffness in tapping-mode
atomic force microscopy”. Surface
Science 375, L385 – 91.
[2] M. J. D’Amato, M. S. Marcus, M. A. Eriksson,
R. W. Carpick (2004) „Phase imaging
and the lever-sample tilt angle in dynamic
atomic force microscopy”. APL Vol. 85(20),
4738 – 40.
[3] Kendall K, Tabor D (1971) „An ultrasonic study
of the area of contact between stationary
and sliding surfaces“. Proc. R. Soc. A323,
321– 40.
[4] S. Morita, R. Wiesendanger, E. Meyer (Eds.)
(2002) „Noncontact atomic force microscopy“.
Springer-Verlag, Heidelberg, 439 Seiten.
[5] E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz (2004)
„Scanning probe microscopy – The lab on a
tip“. Springer-Verlag, 210 Seiten.
Ursula Haas
JOANNEUM RESEARCH Forschungsgesellschaft mbH
Institut für Nanostrukturierte Materialien und Photonik
Methoden:
M28 | M19
Lösungen:
L2
Institute:
Kontakte:
I10
K13
AFM | Oberflächenelastizität | Phase Imaging | Phasensignal | Rasterkraftmikroskopie | Tapping Mode
78
Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005