Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at

M24: Photoemissions-Elektronenmikroskopie (PEEM)
Die Beleuchtung einer Oberfläche mit Photonen,
deren Energie größer als die mittlere Austrittsarbeit
der Probenoberfläche (typisch ungefähr 5 eV) ist,
bewirkt die Emission von Photoelektronen. Das
PEEM-Bild spiegelt lokale Änderungen der Photoelektronenausbeute
wider, und der Kontrast wird in
erster Näherung durch Unterschiede in der lokalen
Austrittsarbeit bestimmt. Diese ist stark von der
chemischen Zusammensetzung der Oberfläche abhängig
und erlaubt beispielsweise die Detektion unterschiedlicher
kristallographischer Orientierungen
oder kleinster Adsorbatkonzentrationen. Für dieses
„klassische“ PEEM werden, abhängig vom Bereich
der Austrittsarbeit, Standardlaborlichtquellen wie
Quecksilber- (hν max = 4,9 eV) und Deuteriumlampen
(hv max = 6,4 eV) verwendet.
Svetlozar Surnev, Michael Ramsey, Falko Netzer
Karl-Franzens-Universität Graz
Institut für Physik, Bereich Experimentalphysik,
Oberflächen- und Grenzflächenphysik
Methoden: —
Lösungen:
L41
Institute:
I11
Kontakte:
K36
Austrittsarbeit | Deuteriumlampe | Elektronenbild | PEEM
Photoemissions-Elektronenmikroskopie | Quecksilberlampe
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Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005