Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at
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M15: Hoch-/Tieftemper<strong>at</strong>ur-Pulverdiffraktion (HT-/LT-XRD)<br />
Neben den reinen Heiz-/Kühl-Kammern gibt es<br />
Probenkammern, in denen Proben bei hoher Temper<strong>at</strong>ur<br />
während <strong>der</strong> Reaktion mit Gasen untersucht<br />
werden können, sowie Kammern zur Untersuchung<br />
von dünnen Schichten und von Texturphänomenen<br />
bei hohen /tiefen Temper<strong>at</strong>uren.<br />
Anwendungsbereiche<br />
Wegen <strong>der</strong> vielfältigen Möglichkeiten, die die<br />
Röntgendiffraktion bietet, findet sie breite Anwendung<br />
in <strong>der</strong> Grundlagenforschung, in <strong>der</strong> angewandten<br />
Forschung und bei <strong>der</strong> Qualitätskontrolle<br />
in allen Bereichen <strong>der</strong> M<strong>at</strong>erialforschung, in <strong>der</strong><br />
Werkstoffindustrie und in <strong>der</strong> Pharmazie. Typische<br />
Anwendungsgebiete sind:<br />
Erforschung und Entwicklung neuer<br />
Werkstoffe<br />
Dünnschicht- und Nanostruktur-Forschung<br />
Untersuchung /Überwachung <strong>der</strong> Struktur<br />
und Zusammensetzung von Metallen während<br />
des Herstellungsprozesses<br />
Erforschung von K<strong>at</strong>alys<strong>at</strong>oren zur<br />
Verarbeitung von Erdöl und Chemikalien<br />
Bestimmung <strong>der</strong> Zusammensetzung von<br />
Zementen und an<strong>der</strong>en Baustoffen<br />
Erforschung <strong>der</strong> Wirkung von Arznei-Substanzen<br />
in Abhängigkeit von ihrer Kristallstruktur<br />
sowie Überwachung des Herstellungs- und<br />
Alterungsprozesses<br />
Untersuchung dünner Schichten für Halbleiter-<br />
Bauelemente wie z.B. Leuchtdioden, schnelle<br />
Transistoren und Infrarot-Detektoren<br />
Christian Resch, Bernhard Winkler, Petra Kotnik<br />
Anton Paar GmbH<br />
Methoden: —<br />
Lösungen:<br />
L11 | L19 | L21<br />
Institute:<br />
I1 | I3 | I15<br />
Kontakte:<br />
K37<br />
Arzneimittel | Dünnschichten | Hochtemper<strong>at</strong>ur-Kammer | Hochtemper<strong>at</strong>ur-Pulverdiffraktion<br />
HT-XRD | K<strong>at</strong>alys<strong>at</strong>oren | Kristallstruktur | LT-XRD | Pulverdiffraktion<br />
Röntgenbeugung/diffraktion | Strukturbestimmung | Tieftemper<strong>at</strong>ur-Kammer<br />
Tieftemper<strong>at</strong>ur-Pulverdiffraktion | Werkstoffanalyse | XRD | Zement<br />
Index Kontakte Institute Lösungen Methoden<br />
<strong>Handbuch</strong> <strong>der</strong> <strong>Nanoanalytik</strong> <strong>Steiermark</strong> <strong>2005</strong><br />
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