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Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at

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Lösungen<br />

L43: XPS-Untersuchungen an Titanoxid-Schichten<br />

L43: XPS-Untersuchungen an<br />

Titanoxid-Schichten<br />

Titanoxid (TiO 2 ) weist neben guten dielektrischen<br />

Eigenschaften (ε r ~ 100) auch einen hohen<br />

Brechungsindex von ca. 2,5 auf. Da sich TiO 2 außerdem<br />

mit dem PLD(Pulsed Laser Deposition)-<br />

Verfahren i. A. sehr gut reaktiv abscheiden lässt,<br />

ist es für hochreflektierende optische Vielschichtsysteme<br />

ein aussichtsreicher Kandid<strong>at</strong> als Schichtm<strong>at</strong>erial<br />

mit hohem Brechungsindex.<br />

Sauerstofffluss während des reaktiven PLD-Prozesses<br />

eine stabilere TiO 2 -Schicht erzeugt. Der rel<strong>at</strong>ive<br />

Anteil des durch Sputtern reduzierten Titans ist bei<br />

höherem Sauerstofffluss geringer (s. Abb. 3).<br />

Alexan<strong>der</strong> Fian<br />

JOANNEUM RESEARCH Forschungsgesellschaft mbH<br />

Institut für Nanostrukturierte M<strong>at</strong>erialien und Photonik<br />

Die lichtmikroskopische Auswertung von mittels<br />

PLD hergestellten Proben ergibt tendenziell geringer<br />

Schichtdefekte (Droplets, Partikel) für niedrigere<br />

Laserstrahlungs-Intensitäten bei <strong>der</strong> Verdampfung<br />

(Abb. 1). Durch Vari<strong>at</strong>ion des O 2 -Flusses während<br />

<strong>der</strong> reaktiven Abscheidung ist nur ein geringer Einfluss<br />

auf die Schichtqualität erreichbar.<br />

Für die XPS-Messungen mussten die Proben<br />

vor <strong>der</strong> Messung durch Sputtern gereinigt werden.<br />

Es zeigten sich unterschiedlich starke Verunreinigungen<br />

<strong>der</strong> Schichten, die sich ohne Reinigung<br />

bei <strong>der</strong> quantit<strong>at</strong>iven XPS-Analyse stark auswirken<br />

würden. Die Peakposition des Ti-2p-Dubletts bei<br />

den ungereinigten Proben entspricht jedoch mit<br />

einem „chemical shift“ von 4,8 eV im Vergleich zum<br />

metallischen Peak genau jener des TiO 2 (s. Abb. 2).<br />

Die Sputterreinigung <strong>der</strong> TiO x -Schichten vor <strong>der</strong><br />

XPS-Messung zeigte eine deutliche Reduktion des<br />

M<strong>at</strong>erials (präferentielles Sputtern von Sauerstoff).<br />

Zum direkten Vergleich wurden die verschiedenen<br />

Proben gleich lange (20 Minuten) mit einer Sputterenergie<br />

von 500 eV von Kohlenstoffverunreinigungen<br />

befreit. Hier zeigt es sich, dass ein höherer<br />

Abbildung 1:<br />

Lichtmikroskopische Aufnahmen<br />

<strong>der</strong> durch Verdampfung aus einem<br />

metallischen Titan-Target bei 5 sccm<br />

(a,c,e) bzw. 30 sccm (b,d,f) O 2 -Gasfluss<br />

und variieren<strong>der</strong> Leistungsdichte des<br />

1064 nm Laserstrahls auf dem Target<br />

abgeschiedene TiO x -Schichten (Beschichtungsdauer:<br />

45 min). Die Leistungsdichte<br />

wird durch die Fokuslage<br />

des Laserstrahls beschrieben, wobei<br />

kleine Abstände des Fokuspunkts des<br />

Laserstrahls hohe Leistungsdichten<br />

repräsentieren: (a,b) 8 cm, (c,d) 12 cm<br />

und (e,f) 24 cm.<br />

218<br />

<strong>Handbuch</strong> <strong>der</strong> <strong>Nanoanalytik</strong> <strong>Steiermark</strong> <strong>2005</strong>

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