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Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at

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Lösungen<br />

L41: Untersuchung von Reaktionswellenfronten<br />

L41: Untersuchung von Reaktionswellenfronten<br />

auf Oberflächen<br />

und des Wachstums<br />

von Filmen organischer Halbleiter<br />

mittels PEEM<br />

Die Leistungsfähigkeit von PEEM wurde als erstes<br />

durch die Beobachtung sogenannter Reaktionswellenfronten<br />

auf Oberflächen erkannt. Die Einwirkung<br />

bestimmter Gasgemische auf k<strong>at</strong>alytische<br />

Oberflächen erzeugt Reaktionswellenfronten, die<br />

man mittels PEEM, aufgrund <strong>der</strong> Austrittsarbeitsunterschiede<br />

<strong>der</strong> temporär auf <strong>der</strong> Oberfläche vorhandenen<br />

Adsorb<strong>at</strong>e, beobachten kann. Die räumlich-zeitlichen<br />

Muster bestehen aus konzentrischen<br />

Ringen die sich von Defekten her ausbreiten. Die<br />

Reaktion kann in Echtzeit (d. h. 30 Bil<strong>der</strong>/s) während<br />

man die Reaktionsparameter Temper<strong>at</strong>ur und<br />

Gaspartialdruck än<strong>der</strong>t, verfolgt werden. Zudem<br />

kann die Reaktion je<strong>der</strong>zeit angehalten werden, um<br />

die genaue Zusammensetzung spezieller Bereiche<br />

zu untersuchen. Abb. 1a zeigt eine Momentaufnahme<br />

<strong>der</strong> (H 2 + NO => H 2 O + N 2 )-Reaktion auf einer<br />

Rh-Oberfläche bei 250°C, wobei die dunklen Ringe<br />

von Sauerstoff und die hellen Ringe von Stickstoff<br />

auf <strong>der</strong> Oberfläche herrühren.<br />

a<br />

In einer interessanten Anwendung wurde mit<br />

PEEM das Wachstum von Filmen organischer Halbleiter<br />

untersucht, wie Abb. 1b anhand <strong>der</strong> Momentaufnahme<br />

des Wachstums von Pentacene illustriert.<br />

Dieses Beispiel zeigt die nicht-destruktive N<strong>at</strong>ur von<br />

PEEM, was beson<strong>der</strong>s bei empfindlichen Proben einen<br />

großen Vorteil gegenüber seinem Gegenstück,<br />

dem Rasterelektronenmikroskop (SEM), darstellt.<br />

Ein Review <strong>der</strong> Photoelektronenmikroskopie und<br />

ihrer Anwendung in den Oberflächen- und M<strong>at</strong>erialwissenschaften<br />

findet sich in [1].<br />

Abbildung 1:<br />

b<br />

(a) Reaktionswellenfronten auf Rh (Bildfeld<br />

= 500 µm). (b) Fraktalwachstum<br />

von Pentacene auf Si.<br />

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<strong>Handbuch</strong> <strong>der</strong> <strong>Nanoanalytik</strong> <strong>Steiermark</strong> <strong>2005</strong><br />

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