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Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at

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L34: Sekundärionen-Massenspektroskopie (SIMS) mittels FIB<br />

Bei <strong>der</strong> Herstellung von Hohlkugelstrukturen<br />

aus Titan wird z.B. Aluminium als Sinterhilfe beigemengt.<br />

Es stellt sich die Frage, wie und wo das<br />

Aluminium im fertigen Produkt vorliegt: homogen<br />

verteilt, in Form von intermetallischen Phasen o<strong>der</strong><br />

als Oxid an <strong>der</strong> Oberfläche Dazu wurden von <strong>der</strong><br />

Oberfläche <strong>der</strong> Hohlkugeln schrittweise Schichten<br />

von einigen hun<strong>der</strong>t nm bis einige μm mit dem Ionenstrahl<br />

abgetragen und dabei Massenspektren<br />

aufgenommen. Es zeigt sich, dass das Aluminium<br />

vorwiegend an <strong>der</strong> Oberfläche und dort zum Teil<br />

in Form eines Oxids vorliegt. Abb. 1 zeigt eine typische<br />

Hohlkugelstruktur und ein Massenspektrum<br />

als Beispiel. Man beachte die Möglichkeit einzelne<br />

Isotope aufzulösen, was diese Methode auch für<br />

Tracer-Aufgaben geeignet macht.<br />

Christian Motz, Daniel Kiener, Thomas Schöberl,<br />

Reinhard Pippan, Gerhard Dehm<br />

Montanuniversität Leoben<br />

Department M<strong>at</strong>erialphysik<br />

und Österreichische Akademie <strong>der</strong> Wissenschaften<br />

Erich-Schmid-Institut für M<strong>at</strong>erialwissenschaft<br />

Methoden:<br />

M13<br />

Lösungen: —<br />

Institute:<br />

I3<br />

Kontakte:<br />

K31<br />

FIB | Focused Ion Beam | Nanomechanik | Rasterionenmikroskopie | SIMS<br />

200<br />

<strong>Handbuch</strong> <strong>der</strong> <strong>Nanoanalytik</strong> <strong>Steiermark</strong> <strong>2005</strong>

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