Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at

L19: Hochtemperatur-Röntgendiffraktometrie (HT-XRD)
Abbildung 1:
tigkeit.
Lin(Cps)
Abbildung 2:
„Bruker-AXS D8 Advance“-Diffraktometer mit Hochtemperaturkammer (links) und schematische Darstellung
des Strahlenganges dieser Anordnung (rechts).
Beispiele konkreter Anwendungen der HT-Röntgendiffraktometrie
und Problemlösungen, die im
Diffraktogramme einer Zr-Probe im
Temperaturbereich 450 – 600°C. Die
allochemische Phasenreaktion mit
Sauerstoff Zr + O 2 → ZrO 2 (Baddeleyit)
findet bei 510 °C statt. Insert A: Zirkonblech
vor (rechts) und nach (links) dem
Aufheizen in Sauerstoffatmosphäre.
industriellen Umfeld oft gebraucht werden, sind in
Tab. 1 angeführt.
Abb. 2 zeigt als Beispiel für eine Phasenreaktion
die Oxidation von Zirkonium. Mittels Hochtemperatur-Diffraktometrie
kann die Umwandlungstemperatur
eindeutig bestimmt werden.
In Abb. 3 ist die Kristallitgröße in CrN-Schichten
in Abhängigkeit von der Temperatur dargestellt. Bei
niedrigen Temperaturen ist die Keimbildungsgeschwindigkeit
bestimmend, während mit steigender
Temperatur die Kristallwachstumsgeschwindigkeit
an Bedeutung gewinnt. Da dieses Verhalten durch
die Einlagerung von Sauerstoff beeinflusst wird,
konnte mit diesem Experiment der Einfluss von
Oxinitridphasen auf das mechanische Verhalten von
CrN-Dünnschichten nachgewiesen werden.
Index Kontakte Institute Lösungen Methoden
Mariann Lovonyak, Reinhold Ebner
Materials Center Leoben Forschung GmbH,
Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005
167