Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at

L16: Fehleranalyse von Piezokeramiken mittels XPS
werden können. Darüber hinaus wird C an beiden
Proben als Oberflächenverunreinigung detektiert.
Die defekte Probe enthält etwa 3 Atomprozent (at%)
Zinn (Sn), das auf der Referenzprobe definitiv nicht
vorhanden ist. Eine ausführliche Atomkonzentrationsanalyse
anhand der Spektren zeigt, dass die defekte
Probe im Vergleich zur Referenzprobe Ti- und
Zr-defizient ist (defekte Probe: 3,4 at% Ti, 6,1 at%
dungsenergien verschoben ist. Diese chemisch
verschobene XPS-Komponente stammt von Pb-
Atomen in metallischer Form. Dieses Resultat
deutet darauf hin, dass in der defekten Probe eine
Reduktion der Pb-Oxidphase unter den betreffenden
Gebrauchsbedingungen stattgefunden hat,
die wahrscheinlich für das Versagen des piezokeramischen
Stapels verantwortlich ist.
Zr; Referenzprobe: 6,7 at% Ti, 9,1 at% Zr).
Svetlozar Surnev, Michael Ramsey, Falko Netzer
Detaillierte Messungen der Pb-4f-Rumpfniveauspektren
ermöglichen den Nachweis weiterer Unterschiede
in der chemischen Zusammensetzung
Karl-Franzens-Universität Graz
Institut für Physik, Bereich Experimentalphysik,
Oberflächen- und Grenzflächenphysik
der defekten Probe und der intakten Referenzprobe
(Abb. 2). Die Pb-4f 7/2 - und Pb-4f 5/2 -Dubletts der
Referenzprobe haben die für oxidiertes Blei typischen
Methoden:
M32
Bindungsenergien. Die Pb-4f-Linienform Lösungen: —
der defekten Probe ist etwas breiter, was auf die
Gegenwart einer neuen spektralen Komponente
Institute:
I11
schließen lässt, die um ~1,4 eV zu niedrigeren Bin-
Kontakte:
K32
Photoelektronenspektroskopie | Piezokeramik | Rumpfniveauspektrum | XPS
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Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005
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