Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at
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Lösungen<br />
L11: Eigenspannungs-Charakterisierungen<br />
L11: Eigenspannungs-Charakterisierungen<br />
mittels Röntgendiffraktometrie<br />
Eigenspannungen in technischen<br />
Anwendungen<br />
Röntgendiffraktion ist ein leistungsstarkes Hilfsmittel<br />
bei <strong>der</strong> Charakterisierung von Eigenspannungen<br />
in kristallinen Werkstoffen. In technischen sowie<br />
technologischen Applik<strong>at</strong>ionen wie Schneidewerkzeugen,<br />
Schutzabdeckschichten und Schweißteilen<br />
beeinflussen solche mechanischen Spannungen<br />
das Verhalten <strong>der</strong> Anwendungen auf wesentliche<br />
Weise. Die Spannungen nehmen direkten Einfluss<br />
auf Lebensdauer, Ermüdungserscheinungen, Härte<br />
und Festigkeit jeglicher metallisch-kristalliner<br />
Bauteile. Folglich ist die Charakterisierung von Eigenspannungen<br />
ein wesentlicher Bestandteil für<br />
die Festlegung und Optimierung technologischer<br />
Prozesse und <strong>der</strong>en Parameter. Dabei ermöglicht<br />
die Röntgendiffraktion (XRD) die zerstörungsfreie<br />
Untersuchung von kristallinen M<strong>at</strong>erialien durch<br />
Beugung von Röntgenstrahlung.<br />
Experimenteller Ans<strong>at</strong>z und instrumentelle<br />
Ausst<strong>at</strong>tung<br />
Mit Hilfe mo<strong>der</strong>nster Versuchsanlagen sowie<br />
den, durch die intensive Zusammenarbeit mit Universitätsinstituten,<br />
neuesten wissenschaftlichen<br />
Erkenntnissen werden am M<strong>at</strong>erials Center Leoben<br />
(MCL) Eigenspannungs-Charakterisierungen<br />
für die Optimierung industrieller Anwendungen,<br />
aber auch zu industriellen Forschungszwecken<br />
durchgeführt.<br />
Die Spannungsmessungen erfolgen mit einem<br />
Vierkreisdiffraktometer (Abb. 1). Für temper<strong>at</strong>urabhängige<br />
Messungen ist das Messgerät mit<br />
einer Heizkammer ausgest<strong>at</strong>tet (Abb. 2). Diese<br />
Kombin<strong>at</strong>ion mo<strong>der</strong>nster Analysegeräte ermöglicht<br />
genaueste, ortsaufgelöste Spannungs- und<br />
Dehnungsanalysen an Werkstücken jeglicher Art.<br />
Dabei können die Proben in einem Temper<strong>at</strong>urbereich<br />
von 25 – 900°C sowohl an Luft als auch unter<br />
verschiedenen Schutzgas<strong>at</strong>mosphären untersucht<br />
werden (Vakuum, N 2 , O 2 , He usw. ). Der wissenschaftliche<br />
Hintergrund <strong>der</strong> Mitarbeiter sowie die<br />
hervorragende technische Ausst<strong>at</strong>tung erlauben<br />
dem MCL sich spezifischen Problemstellungen zu<br />
widmen und individuelle Lösungen für den Kunden<br />
auszuarbeiten.<br />
Index Kontakte Institute Lösungen Methoden<br />
Abbildung 1:<br />
Röntgen-Vierkreisdiffraktometer Bruker-<br />
AXS „D8 Discover“ mit Eulerwiege.<br />
<strong>Handbuch</strong> <strong>der</strong> <strong>Nanoanalytik</strong> <strong>Steiermark</strong> <strong>2005</strong><br />
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