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Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at

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L4: Ausscheidungscharakterisierung von Stählen<br />

Abbildung 2:<br />

(a) EFTEM-Elementverteilungsbil<strong>der</strong> <strong>der</strong> Elemente Molybdän (rot), Chrom (grün) und Vanadium (blau)<br />

überlagert in einer Falschfarbendarstellung (gleicher Probenbereich wie Abb. 1). (b) Rel<strong>at</strong>ive Häufigkeitsverteilungen<br />

<strong>der</strong> M 23 C 6 , MX und Laves-Phasen.<br />

Das vorliegende Anwendungsbeispiel beschreibt<br />

die Charakterisierung von Ausscheidungen in einem<br />

10%-Chrom-Stahl, für die erstmals eine spezielle<br />

TEM-Technik und die energiefilternde Elektronenmikroskopie<br />

(EFTEM) kombiniert wurden. Die Untersuchungen<br />

wurden an einer 33000 h gelaufenen<br />

Kriechprobe aus einem martensitischen Stahlguss<br />

des Typs G-X12CrMoWVNbN durchgeführt, wobei<br />

die Größenverteilung <strong>der</strong> Ausscheidungen im unbelasteten<br />

Schaftbereich <strong>der</strong> Probe ermittelt wurde.<br />

Abb. 1a zeigt ein typisches TEM-Bild <strong>der</strong> Stahlprobe,<br />

aus dem unschwer zu erkennen ist, dass<br />

Teilchen mittels konventioneller TEM nicht ohne<br />

weiteres darstellbar sind. Die Hell /Dunkelmodul<strong>at</strong>ionen<br />

im Bild sind dabei hauptsächlich auf elementunspezifischen<br />

Beugungskontrast zurückzuführen,<br />

<strong>der</strong> die nanometergroßen Präzipit<strong>at</strong>e völlig maskiert<br />

und das Erkennen selbst größerer Ausscheidungen<br />

deutlich erschwert. Durch dynamisches Verkippen<br />

des auf die Probe einfallenden Elektronenstrahles<br />

entlang einer invertierten Pyramide („rocking beam“,<br />

Abb. 1c), gelingt es, Helligkeitsunterschiede abzuschwächen<br />

(Abb. 1b), und durch Aufnahme eines<br />

EFTEM-Bildes des M<strong>at</strong>rixelements Eisen (Abb. 1d)<br />

können dann Ausscheidungen überblicksmäßig,<br />

rasch und ohne störende Intensitätsunterschiede<br />

sichtbar gemacht werden. Der Durchmesser <strong>der</strong><br />

darin auftretenden kleinsten Sekundärausscheidungen<br />

beträgt ca. 10 nm, wobei die verschiedenen<br />

Ausscheidungstypen auf Basis ihres Erscheinungsbildes<br />

nicht ohne weiteres genauer klassifiziert werden<br />

können. Eine zuverlässige Phasenzuordnung<br />

mittels Elektronenbeugungstechniken wäre zwar<br />

prinzipiell möglich, allerdings müssten dazu in <strong>der</strong><br />

Praxis von jedem Partikel individuelle Beugungsbil<strong>der</strong><br />

aufgenommen und kristallografisch ausgewertet<br />

werden, was den experimentellen Aufwand<br />

enorm erhöht.<br />

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<strong>Handbuch</strong> <strong>der</strong> <strong>Nanoanalytik</strong> <strong>Steiermark</strong> <strong>2005</strong><br />

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