Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at
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L4: Ausscheidungscharakterisierung von Stählen<br />
Abbildung 2:<br />
(a) EFTEM-Elementverteilungsbil<strong>der</strong> <strong>der</strong> Elemente Molybdän (rot), Chrom (grün) und Vanadium (blau)<br />
überlagert in einer Falschfarbendarstellung (gleicher Probenbereich wie Abb. 1). (b) Rel<strong>at</strong>ive Häufigkeitsverteilungen<br />
<strong>der</strong> M 23 C 6 , MX und Laves-Phasen.<br />
Das vorliegende Anwendungsbeispiel beschreibt<br />
die Charakterisierung von Ausscheidungen in einem<br />
10%-Chrom-Stahl, für die erstmals eine spezielle<br />
TEM-Technik und die energiefilternde Elektronenmikroskopie<br />
(EFTEM) kombiniert wurden. Die Untersuchungen<br />
wurden an einer 33000 h gelaufenen<br />
Kriechprobe aus einem martensitischen Stahlguss<br />
des Typs G-X12CrMoWVNbN durchgeführt, wobei<br />
die Größenverteilung <strong>der</strong> Ausscheidungen im unbelasteten<br />
Schaftbereich <strong>der</strong> Probe ermittelt wurde.<br />
Abb. 1a zeigt ein typisches TEM-Bild <strong>der</strong> Stahlprobe,<br />
aus dem unschwer zu erkennen ist, dass<br />
Teilchen mittels konventioneller TEM nicht ohne<br />
weiteres darstellbar sind. Die Hell /Dunkelmodul<strong>at</strong>ionen<br />
im Bild sind dabei hauptsächlich auf elementunspezifischen<br />
Beugungskontrast zurückzuführen,<br />
<strong>der</strong> die nanometergroßen Präzipit<strong>at</strong>e völlig maskiert<br />
und das Erkennen selbst größerer Ausscheidungen<br />
deutlich erschwert. Durch dynamisches Verkippen<br />
des auf die Probe einfallenden Elektronenstrahles<br />
entlang einer invertierten Pyramide („rocking beam“,<br />
Abb. 1c), gelingt es, Helligkeitsunterschiede abzuschwächen<br />
(Abb. 1b), und durch Aufnahme eines<br />
EFTEM-Bildes des M<strong>at</strong>rixelements Eisen (Abb. 1d)<br />
können dann Ausscheidungen überblicksmäßig,<br />
rasch und ohne störende Intensitätsunterschiede<br />
sichtbar gemacht werden. Der Durchmesser <strong>der</strong><br />
darin auftretenden kleinsten Sekundärausscheidungen<br />
beträgt ca. 10 nm, wobei die verschiedenen<br />
Ausscheidungstypen auf Basis ihres Erscheinungsbildes<br />
nicht ohne weiteres genauer klassifiziert werden<br />
können. Eine zuverlässige Phasenzuordnung<br />
mittels Elektronenbeugungstechniken wäre zwar<br />
prinzipiell möglich, allerdings müssten dazu in <strong>der</strong><br />
Praxis von jedem Partikel individuelle Beugungsbil<strong>der</strong><br />
aufgenommen und kristallografisch ausgewertet<br />
werden, was den experimentellen Aufwand<br />
enorm erhöht.<br />
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