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Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at

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M42: Thermo-mechanische Charakterisierung<br />

Messmethode<br />

Mit Hilfe <strong>der</strong> Substr<strong>at</strong>-Krümmungsmessung kann<br />

aus <strong>der</strong> Än<strong>der</strong>ung <strong>der</strong> Krümmung des Schicht-Substr<strong>at</strong>verbundes<br />

die Spannung <strong>der</strong> Schicht in Abhängigkeit<br />

von <strong>der</strong> Temper<strong>at</strong>ur bestimmt werden.<br />

Die Krümmung <strong>der</strong> Probe (Abb. 3) wird entwe<strong>der</strong><br />

mit Hilfe eines laseroptischen Systems o<strong>der</strong> mit<br />

Röntgenstrahlung ermittelt. Von <strong>der</strong> Schicht muss<br />

lediglich die Dicke zur Bestimmung <strong>der</strong> Spannung<br />

bekannt sein.<br />

Abbildung 3:<br />

Schem<strong>at</strong>ische Zeichnung einer Schicht<br />

unter Druckspannung. Misst man die<br />

Verbiegung des Schicht /Substr<strong>at</strong>verbundes,<br />

so lässt sich daraus die<br />

Spannung <strong>der</strong> Schicht bestimmen.<br />

Liter<strong>at</strong>ur<br />

[1] P. Wellner, G. Dehm, O. Kraft, E. Arzt (2004)<br />

„Size effects in the plastic deform<strong>at</strong>ion of NiAl<br />

thin films“. Zeitschrift für Metallkunde 95(9),<br />

769 –78.<br />

[2] P. Wellner, O. Kraft, G. Dehm, J. An<strong>der</strong>sons,<br />

E. Arzt (2004) „Channel cracking of<br />

β-NiAl thin films on Si substr<strong>at</strong>es“. Acta M<strong>at</strong>er.<br />

52, 2325 – 36.<br />

Gerhard Dehm<br />

Österreichische Akademie <strong>der</strong> Wissenschaften<br />

Erich-Schmid-Institut für M<strong>at</strong>erialwissenschaft,<br />

M<strong>at</strong>erials Center Leoben Forschung GmbH<br />

und Montanuniversität Leoben<br />

Department M<strong>at</strong>erialkunde und Werkstoffprüfung<br />

Abbildung 4:<br />

Aus <strong>der</strong> Verbiegung des Substr<strong>at</strong>es<br />

bestimmter Spannungsverlauf in einer<br />

Al-Schicht. Beim Aufheizen entstehen<br />

Druckspannungen in <strong>der</strong> Al-Schicht<br />

aufgrund des im Vergleich zum<br />

Substr<strong>at</strong> größeren Ausdehnungskoeffizienten.<br />

Beim Abkühlen entstehen<br />

Zugspannungen.<br />

Methoden: —<br />

Lösungen:<br />

Institute:<br />

L11 | L21<br />

I3 | I15<br />

Kontakte:<br />

K5<br />

Defekt | Ermüdung | Leiterbahn | Riss | Schicht | Spannungen, innere<br />

Spannungen, thermische | thermomechanische Charakterisierung<br />

108<br />

<strong>Handbuch</strong> <strong>der</strong> <strong>Nanoanalytik</strong> <strong>Steiermark</strong> <strong>2005</strong>

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