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Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at

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Methoden<br />

stress [MPa]<br />

M42: Thermo-mechanische<br />

Charakterisierung dünner<br />

Schichten<br />

Mechanische Größeneffekte in<br />

dünnen Schichten<br />

Abbildung 1:<br />

M42: Thermo-mechanische Charakterisierung<br />

Dünne Schichten mit Schichtdicken im Bereich<br />

weniger Nanometer bis hin zu einigen Mikrometern<br />

zeigen gegenüber dem entsprechenden Massivm<strong>at</strong>erial<br />

verän<strong>der</strong>te und zumeist größenabhängige<br />

mechanische Eigenschaften („size effects“). So wird<br />

mit abnehmenden geometrischen bzw. mikrostrukturellen<br />

Dimensionen meist ein starker Anstieg <strong>der</strong><br />

Fließspannung beobachtet (Abb. 1). Dies kann bei<br />

einem Eins<strong>at</strong>z <strong>der</strong> Schichten z.B. als Leiterbahn<br />

Spannungs-Temper<strong>at</strong>urverlauf von<br />

Ni-reichen NiAl-Schichten auf einem<br />

Si-Substr<strong>at</strong>. Mit abnehmen<strong>der</strong> Schichtdicke<br />

nehmen die Spannungswerte bei<br />

Raumtemper<strong>at</strong>ur zu. (nach [1])<br />

in <strong>der</strong> Mikroelektronik o<strong>der</strong> als Schutzschicht gegenüber<br />

thermischer o<strong>der</strong> abrasiver Belastung zur<br />

Ermüdung bzw. Rissbildung führen und somit zu<br />

einem Versagen des Schicht /Substr<strong>at</strong>-Verbundes<br />

aufgrund hoher innerer Spannungen (Abb. 2). Ursache<br />

für die inneren Spannungen sind zumeist die<br />

unterschiedlichen thermischen Ausdehnungskoeffizienten<br />

<strong>der</strong> einzelnen Werkstoffe.<br />

Abbildung 2:<br />

Rissbildung in einer dünnen, thermisch<br />

belasteten Al-reichen NiAl-Schicht.<br />

(nach [2])<br />

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<strong>Handbuch</strong> <strong>der</strong> <strong>Nanoanalytik</strong> <strong>Steiermark</strong> <strong>2005</strong><br />

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