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Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at

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M33: Röntgenbeugung – Linienprofilanalyse (XRD LPA)<br />

Weiterführende Liter<strong>at</strong>ur<br />

allgemein<br />

[1] H. P. Klug, L. E. Alexan<strong>der</strong> (1974) „X-ray<br />

diffraction procedures for polycrystalline and<br />

amorphous m<strong>at</strong>erials”. John Wiley and Sons,<br />

New York. 992 Seiten.<br />

Messbeispiel an nanokristallinem M<strong>at</strong>erial<br />

[2] K. Reimann, R. Würschum (1997) „Distribution<br />

of internal strains in nanocrystalline Pd<br />

studied by x-ray diffraction“. J. Appl. Phys. 81,<br />

Methoden: M34 | M35 | M36<br />

7186 – 92.<br />

Lösungen: —<br />

Institute:<br />

I9 | I3 | I15<br />

Ulrich Brossmann, Roland Würschum<br />

Technische Universität Graz Kontakte:<br />

K3<br />

Institut für M<strong>at</strong>erialphysik<br />

Kristallitgröße | Kristallstruktur | Linienverbreiterung | Mikroverzerrungen | nanokristalline M<strong>at</strong>erialien<br />

Phasenanalyse | Röntgenbeugung/diffraktion | WAXS | XRD-LPA<br />

Index Kontakte Institute Lösungen Methoden<br />

<strong>Handbuch</strong> <strong>der</strong> <strong>Nanoanalytik</strong> <strong>Steiermark</strong> <strong>2005</strong><br />

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