Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at
Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at
Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005 - lamp.tugraz.at
Erfolgreiche ePaper selbst erstellen
Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.
M31: Rastertunnel mikroskopie (RTM / STM)<br />
Rastertunnelmikroskope können in Vakuum, an<br />
Luft und sogar in Flüssigkeiten betrieben werden.<br />
Um höchste <strong>at</strong>omare Auflösungen zu erreichen und<br />
ungewollte Einflüsse von Fremdstoffen zu vermeiden,<br />
werden RTM-Messungen zumeist im Ultrahoch-Vakuum<br />
durchgeführt. Die heute erzielbare<br />
Auflösung in Rastertunnelmikroskopen liegt in l<strong>at</strong>eraler<br />
Richtung bei 10 pm, in vertikaler Richtung bei<br />
bis zu 1 pm. Limitierende Faktoren sind die Stabilität<br />
<strong>der</strong> Rastereinheit gegenüber akustischen Schwingungen,<br />
die Stellgenauigkeit <strong>der</strong> Piezoelemente, die<br />
Beschaffenheit <strong>der</strong> Spitze sowie die Genauigkeit bei<br />
<strong>der</strong> Messung des Tunnelstroms.<br />
Die Rastertunnelmikroskopie h<strong>at</strong> sich in den<br />
letzten Jahren zur wichtigsten Methode für die<br />
Charakterisierung von Nanostrukturen entwickelt.<br />
Das RTM bietet die Möglichkeit periodische und<br />
Abbildung 2:<br />
Atomar aufgelöstes RTM-Bild einer<br />
neuartigen V 2 O 3 -Oxidphase auf einer<br />
Pd(111)-Oberfläche.<br />
aperiodische elektronische, topographische, optische<br />
o<strong>der</strong> magnetische Strukturen mit bis zu <strong>at</strong>omarer<br />
Auflösung zu untersuchen. Von beson<strong>der</strong>em<br />
Interesse im Hinblick auf praktische Anwendungen,<br />
beispielsweise in <strong>der</strong> heterogenen K<strong>at</strong>alyse<br />
o<strong>der</strong> in einer zukünftigen Nanoelektronik, ist die<br />
Untersuchung <strong>der</strong> Oberflächen von ultra-dünnen<br />
Oxidschichten (nur wenige Nanometer dick) mit<br />
<strong>at</strong>omarer Auflösung. Abb. 2 zeigt als Beispiel eine<br />
RTM-Aufnahme einer dünnen Vanadiumoxidschicht<br />
mit <strong>der</strong> formalen Stöchiometrie V 2<br />
O 3<br />
auf einer<br />
Pd(111) Oberfläche, die eine neuartige Struktur<br />
aufweist [1].<br />
Liter<strong>at</strong>ur<br />
[1] S. Surnev, L. Vitali, M. G. Ramsey, F. P. Netzer,<br />
G. Kresse, J. Hafner (2000) „Growth and<br />
structure of ultr<strong>at</strong>hin vanadium oxide layers on<br />
Pd(111)”. Phys. Rev. B 61, 13945 – 54.<br />
Svetlozar Surnev, Michael Ramsey, Falko Netzer<br />
Karl-Franzens-Universität Graz<br />
Institut für Physik, Bereich Experimentalphysik,<br />
Oberflächen- und Grenzflächenphysik<br />
Methoden:<br />
M28<br />
Lösungen:<br />
L32<br />
Institute:<br />
I11 | I8 | I10 | I12<br />
Kontakte:<br />
K45<br />
Index Kontakte Institute Lösungen Methoden<br />
Nanoelektronik | Oberflächentopographie | Piezoelement | Rastertunnelmikroskopie | STM<br />
Tunneleffekt | Tunnelstrom | Vanadiumoxid<br />
<strong>Handbuch</strong> <strong>der</strong> <strong>Nanoanalytik</strong> <strong>Steiermark</strong> <strong>2005</strong><br />
83
Change language