12.01.2015 Aufrufe

FISCHERSCOPE® MMS® PC The universal instrument for coating ...

FISCHERSCOPE® MMS® PC The universal instrument for coating ...

FISCHERSCOPE® MMS® PC The universal instrument for coating ...

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Erfolgreiche ePaper selbst erstellen

Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.

FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2<br />

das universelle Multi-Mess-System<br />

zur Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung<br />

Schichtdicke Materialanalyse Mikrohärte Werkstoffprüfung


FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2 – das vielseitige Tischmessgerät<br />

Das FISCHERSCOPE MMS ® <strong>PC</strong>2 ® ist überall da<br />

im Einsatz, wo Qualität groß geschrieben wird: im<br />

Wareneingang, in der Endkontrolle, in der laufenden<br />

Fertigung, für Stichproben- oder Stückprüfungen. Und<br />

das in allen Branchen. Durch seine modulare Bauweise<br />

lässt sich das MMS <strong>PC</strong>2 speziell an Ihre Bedürfnisse<br />

anpassen und jederzeit erweitern.<br />

Ob Schichtdicke, elektrische Leitfähigkeit oder Ferritgehalt,<br />

mit dem MMS <strong>PC</strong>2 messen Sie immer präzise<br />

und richtig.<br />

MMS <strong>PC</strong>2 – ein Messgerät für alle Messaufgaben.<br />

Schichtdickenmessung<br />

Messung der Schichtdicke bei folgenden Materialkombinationen:<br />

• Fast alle Schichtmaterialien auf Metallen<br />

• Duplex-Schichtsysteme<br />

• Metallische Schichten auf elektrisch nicht leitenden<br />

Materialien<br />

• Organische Schichten z. B. Öl- oder Schmierfilme<br />

Werkstoffprüfung<br />

• Messung der elektrischen Leitfähigkeit von Nichteisenmetallen<br />

• Prüfung der Güte von Schweißnähten, Ferritgehalt<br />

in austenitischen oder Duplexstählen<br />

Zu Hause in allen Branchen<br />

• Automotive<br />

• Elektronikindustrie<br />

• Lackindustrie<br />

• Beschichtungstechnologien<br />

• Gold, Uhren, Schmuck<br />

• Materialanalyse und Werkstoffprüfung<br />

Vielfältig im Einsatz<br />

• Qualitätssicherung in Warenein- und ausgang<br />

• Stück- oder Stichprobenprüfung in der laufenden<br />

Produktion<br />

• Kontinuierliche Fertigungsüberwachung<br />

• Integrierbar in Qualitätsmanagementsysteme und<br />

Firmennetzwerke<br />

Messen mit Hand oder automatisiert<br />

• Automatisch nach Aufsetzen der Sonde<br />

• Auf Tastendruck oder per Extern-Start<br />

• In vordefinierten Zeitintervallen<br />

• Halbautomatisch mit motorischem Stativ oder<br />

programmierbarem XY-Messtisch<br />

• Automatisiert durch SPS-Einheit<br />

• Automatisiert in Fertigungsanlagen<br />

Modulare Bauweise<br />

• Acht Module mit unterschiedlichen Messverfahren<br />

für Schichtdicke, Leitfähigkeit und Ferritgehalt stehen<br />

zur Auswahl<br />

2<br />

FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2


Vielfältige Anwendungen<br />

Messung dünner organischer Schichten, z. B. Öle , mit<br />

der Handmesssonde Z15NG-TC<br />

Handmesssonde mit Beta-Strahler für Messungen<br />

nach der radiometrischen Betarückstreu-Methode, ein<br />

integrierter Temperatursensor dient zur automatischen<br />

Kompensation der Betastrahlendämpfung durch die<br />

Luft bei unterschiedlichen Temperaturen.<br />

Messung der Chromschicht auf Kolbenstangen mit der<br />

Messsonde V2EGA06H im motorischen Stativ<br />

Präzise Messungen an Kleinteilen mit dem motorischen<br />

Stativ V12 MOT<br />

Das FISCHERSCOPE MMS <strong>PC</strong>2 steuert automatisch die<br />

Auf- und Abbewegung des Statives und die Messung.<br />

Wareneingang<br />

Messplatz mit mehreren Modulkarten und Sonden zur<br />

Wareneingangsprüfung, montiert auf einem Transportwagen<br />

zur Messung verschiedener Teile.<br />

3


Typische Konfigurationen<br />

Messplatz Lacklabor<br />

Messplatz zur Bestimmung der Schichtdicke von:<br />

• Lackschichten auf Nichteisenmetallen<br />

• Lackschichten auf Eisen oder Stahl<br />

• Duplex-Messungen, d. h. Lack auf Zink auf Eisen<br />

oder Stahl bei gleichzeitiger Messung beider<br />

Schichten<br />

Eloxalmessplatz<br />

Messplatz mit mehreren Sonden zur Prüfung verschiedener<br />

Teile mit unterschiedlicher Geometrie, ohne die<br />

Sonden umstecken zu müssen. Durch die Auswahl<br />

der Applikation wird automatisch die richtige Sonde<br />

aktiviert. Messung der Schichtdicke und Leitfähigkeit<br />

von eloxierten Aluminium-Teilen, Ursachensuche bei<br />

Farbunterschieden.<br />

Bestückung<br />

• Modul PERMASCOPE ® mit Sonde FD13H<br />

• Modul PHASCOPE ® DUPLEX mit Sonde ESG20<br />

• Stativ V12 MOT zum automatischen Scannen<br />

lackierter Bleche<br />

Bestückung<br />

• Modul SIGMASCOPE ® mit den Sonden ES40 und<br />

ES24 zur Leitfähigkeitsmessung<br />

• Modul PERMASCOPE ® mit der Innenmesssonde<br />

FAI3.3-150 und der krümmungskompensierten<br />

Sonde FTD3.3 zur Messung der Eloxal-Schichtdicke<br />

• Stativ V12 MOT zur halbautomatischen Messung<br />

vieler Teile<br />

Galvanikmessplatz<br />

Messplatz zur Schichtdickenbestimmung bei unterschiedlichen<br />

Teile<strong>for</strong>men, Materialkombinationen und<br />

Oberflächenbeschaffenheiten, die typisch sind für<br />

Betriebe der Galvanotechnik. Sogar Messungen auf<br />

Gewinden und auf rauen Oberflächen sind mit sehr<br />

hoher Wiederholpräzision möglich.<br />

Bestückung<br />

• Modul PERMASCOPE ® mit den Sonden FGA06H-<br />

MC zur Messung auf kleinen Teilen und F20H zur<br />

Messung auf rauen Oberflächen, Sonde V7FKB4<br />

zur Messung von Phosphat- Schichten<br />

• Modul SIGMASCOPE ® /PHASCOPE ® 1 mit den<br />

Sonden ESD20 Zn und ESD2.4 zur Messung<br />

von Kupfer- oder Zinkschichten auf Stahl- und<br />

Eisengussteilen<br />

• Stativ V12 MOT oder V12 BASE zur Messung auf<br />

kleinen Teilen wie Muttern und Schrauben<br />

Messplatz Leiterplatte (<strong>PC</strong>B)<br />

Messplatz für fast alle Messaufgaben rund um die<br />

Leiterplatte. Bei extrem dünnen Schichten empfehlen wir<br />

Ihnen zusätzlich die Geräte unserer X-RAY-Produktlinie.<br />

Bestückung<br />

• Modul SIGMASCOPE ® /PHASCOPE ® 2 mit Sonde<br />

ESL080V zur Messung der Cu-Durchkontaktierung<br />

• Modul SIGMASCOPE ® /PHASCOPE ® 1 mit Sonde<br />

ESD20 Cu zur Messung der Cu-Schichten unter<br />

Lötstopplack<br />

• Modul SR-SCOPE ® mit Sonde ERCU-D10 zur Messung<br />

der Cu-Schicht auf Multilayern ohne Beeinflussung<br />

des Messergebnisses durch Kupferschichten<br />

auf Innenlagen<br />

• Modul PERMASCOPE ® mit Sonde FTA3.3-5.6HF zur<br />

Messung der Lötstopplack- und Schutzlackschicht<br />

auf dünnen Cu-Zwischenschichten und Sonde<br />

FKB10-OD zur Messung der Gesamt-Leiterplattendicke<br />

4<br />

FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2


Messdaten-Auswertung<br />

Das FISCHERSCOPE MMS <strong>PC</strong>2 bietet vielfältige<br />

Möglichkeiten zur Auswertung Ihrer Messergebnisse.<br />

Einfache Visualisierung der Prozessqualität mit dem<br />

Fertigungs-Diagnose-Diagramm (FDD ® )<br />

Auswerte- und Statistikfunktionen<br />

• Anzeige wichtiger statistischer Kennwerte wie Mittelwert,<br />

Standardabweichung, Min, Max, Spannweite<br />

• Statistikanzeige der wichtigsten Kennwerte im Blockund<br />

Endergebnis<br />

• Grafische Darstellung als Histogramm, Summenhäufigkeitsdiagramm,<br />

FDD<br />

• Eingabemöglichkeit der Prozesstoleranzgrenzen<br />

und Berechnung der zugehörigen<br />

Prozessfähigkeitsindizes c p<br />

und c pk<br />

Messwertprotokolle<br />

Zur übersichtlichen Darstellung Ihrer Messergebnisse<br />

können Sie Protokolle erstellen, die die Messwerte und<br />

statistischen Auswertungen übersichtlich darstellen. In<br />

Protokollen können Sie z. B. Ihr Firmenlogo und eine<br />

Skizze des Messobjektes einbinden. In Vorlagen definieren<br />

Sie das Layout und den Inhalt eines Protokolls.<br />

Für jede Anwendung können Sie eine eigene Vorlage<br />

erstellen.<br />

Datenexport<br />

Sie können Ihre Messdaten einfach und schnell<br />

exportieren. In Vorlagen können Sie definieren, was<br />

exportiert werden soll. Für jede Anwendung können<br />

Sie eine andere Vorlage erstellen.<br />

Mögliche Formate: PDF, ASCII, Excel, Q-DAS, HTML<br />

Das FISCHERSCOPE MMS <strong>PC</strong>2 bietet mit dem patentierten<br />

Fertigungs-Diagnose-Diagramm (FDD) von FISCHER<br />

eine grafische Auswertemöglichkeit, die auf einen Blick<br />

den Prozess visualisiert. Ein leicht zu interpretierendes<br />

Schaubild liefert einen grafischen Gesamtüberblick<br />

über die Verteilung von Fertigungsgrößen, wie z. B.<br />

der Schichtdicke. Durch die farbliche Darstellung<br />

erhalten Sie ohne eigene statistische Berechnungen<br />

einfach und schnell In<strong>for</strong>mationen zur Optimierung des<br />

Fertigungsprozesses.<br />

FISCHER DataCenter ►<br />

Die <strong>PC</strong>-Software FISCHER DataCenter ist im Lieferumfang<br />

des FISCHERSCOPE MMS <strong>PC</strong>2 enthalten. Mit der<br />

DataCenter-Software lassen sich einfach und kom<strong>for</strong>tabel<br />

individuelle Berichte generieren und mit eigenen<br />

Logos, Bildern und Grafiken gestalten. Per Drag-and-<br />

Drop können Sie beliebig Messwerte, statistische Werte<br />

und grafische Darstellungen einbinden. Zudem können<br />

Sie Berichtsvorlagen auf Basis eingescannter Formulare<br />

erstellen.<br />

5


Anpassungsfähig durch modularen Aufbau<br />

MODULSCHÄCHTE<br />

COM1 LAN USB USB (<strong>PC</strong>) MULTIFUNCTION EXT. START<br />

100 verschiedene Anwendungen - Acht Einbauplätze<br />

und mehr als 60 Sonden<br />

Durch seine modulare Bauweise passt das MMS <strong>PC</strong>2<br />

immer zu Ihren Anwendungen. Ausgehend von Ihrer<br />

Messaufgabe bestücken wir für Sie das Messgerät mit<br />

den passenden Modulkarten und Sonden.<br />

Acht verschiedene Modulkarten<br />

Die Messung der physikalischen Größen Schichtdicke,<br />

elektrische Leitfähigkeit und Ferritgehalt er<strong>for</strong>dern<br />

unterschiedliche Messverfahren. Bei der Schichtdickenmessung<br />

kommen je nach Schicht-Grundwerkstoff-Kombination<br />

wiederum unterschiedliche Messverfahren zum<br />

Einsatz. Um diese breite Palette abzudecken, haben<br />

wir für das MMS <strong>PC</strong>2 acht verschiedene Modulkarten<br />

entwickelt.<br />

Veränderte An<strong>for</strong>derungen<br />

Sie können das MMS <strong>PC</strong>2 jederzeit mit weiteren<br />

Modulkarten und Sonden aufrüsten.<br />

Schnittstellen<br />

• LAN-Netzwerkanschluss<br />

• 5 USB-Anschlüsse für <strong>PC</strong>, Drucker usw.<br />

• RS232-Schnittstelle für den Anschluss von Messstativ,<br />

XY-Messtisch, digitale Messmittel oder Funkschnittstelle<br />

• Multifunktionsanschluss, z. B. für den Anschluss von<br />

Signallampen zur Meldung von Toleranzgrenzenüberschreitungen<br />

• Optional: Anschluss für SPS-Integration<br />

Merkmale<br />

Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung mit<br />

nur einem Instrument<br />

Robustes und sehr vielseitiges Tischgerät als<br />

multifunktionsfähiges Messsystem mit Datenarchivierung<br />

und Messdatenverarbeitung<br />

Benutzerfreundliches Arbeiten mit einem großen,<br />

hochauflösenden LCD Touchscreen und<br />

Windows ® CE<br />

Benutzeroberfläche in viele europäische und asiatische<br />

Sprachen umschaltbar<br />

Auswertung und Datenexport<br />

Statistikfunktionen zur Auswertung der Messwerte:<br />

Summenhäufigkeitsdiagramm, Histogramm<br />

und Fertigungs-Diagnose-Diagramm<br />

(FDD)<br />

Verschiedene grafische Messwertdarstellungen<br />

zur schnellen Übersicht des Produktionsverlaufs<br />

und der Produktqualität<br />

Kundenspezifische Protokollierung der Messdaten<br />

Export der Ergebnisprotokolle und der Messwerte<br />

in verschiedenen Daten<strong>for</strong>maten zur Auswertung<br />

in externen Statistikprogrammen<br />

Lieferung mit <strong>PC</strong>-Software FISCHER DataCenter<br />

mit folgenden Funktionen: Übertragung und<br />

Archivierung von Messwerten, umfangreiche statistische<br />

und grafische Auswertemöglichkeiten,<br />

einfache Erstellung und Ausdruck individueller<br />

Prüfberichte<br />

6<br />

FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2


Technische Daten<br />

Hardwarekonzeption<br />

Gehäuse mit 8 Steckplätzen für Modulkarten mit verschiedenen<br />

Messverfahren.<br />

Messverfahren<br />

••<br />

Magnetisches Verfahren (DIN EN ISO 2178)<br />

••<br />

Magnetinduktives Verfahren (DIN EN ISO 2178, ASTM D7091)<br />

••<br />

Amplitudensensitives Wirbelstromverfahren (DIN EN ISO 2360,<br />

ASTM D7091)<br />

••<br />

Phasensensitives Wirbelstromverfahren (DIN EN ISO 21968)<br />

••<br />

Mikro-Widerstand-Verfahren (DIN EN 14571)<br />

••<br />

Betarückstreu-Verfahren (DIN EN ISO 3543, ASTM B567a)<br />

Messgrößen<br />

Schichtdicke, elektrische Leitfähigkeit, Ferritgehalt, Temperatur<br />

Messsonden<br />

Anschlussbuchsen an den Modulkarten für alle FISCHER-Sonden,<br />

gleichzeitiger Anschluss von max. 8 Messsonden<br />

Software<br />

••<br />

Windows ® CE basierte Programmsoftware<br />

••<br />

Software in europäischen und asiatischen Sprachen verfügbar:<br />

Deutsch, Englisch, Französisch, Italienisch, Spanisch, Tschechisch,<br />

Polnisch, Türkisch, Chinesisch und Japanisch<br />

••<br />

Eingaben über Touchscreen, <strong>PC</strong>-Maus oder <strong>PC</strong>-Tastatur (USB)<br />

••<br />

Sicherung von Applikationen, Sperrung des Zugriffs auf<br />

Programmfunktionen zur Vermeidung von Fehlbedienungen,<br />

Grenzwertüberwachung, Ausreißerkontrolle, Kalibrierung,<br />

Blockbildung<br />

Messwertspeicherung<br />

Das Gerät speichert Messwerte in Applikations-Dateien.<br />

Zusätzlich wird in diesen Dateien folgendes gespeichert:<br />

Alle Einstellungen, In<strong>for</strong>mationen zu den Messwertblöcken,<br />

Datum, Uhrzeit und Kalibrierdaten.<br />

••<br />

Standard-Modus: Messwerte werden in aufeinanderfolgenden<br />

Blöcken in der Applikation gespeichert. Automatische Blockbildung<br />

nach vorgegebenen n Einzelmesswerten. Automatische<br />

Berechnung des Mittelwertes<br />

••<br />

Matrix-Modus: Messwerte werden in Blöcken gespeichert, die<br />

in der Applikation matrixförmig angelegt sind. Blockwechsel<br />

manuell in beliebigen Block oder automatisch in vorgegebener<br />

Reihenfolge<br />

Mehrkanalmessung<br />

Messwerte von bis zu 8 Messsonden werden parallel in einer<br />

Applikation angezeigt und gespeichert<br />

Messwertdarstellung<br />

••<br />

Zahlendarstellung: Auflistung der Messwerte mit Großzahlendarstellung<br />

des letzten Einzelmesswertes<br />

••<br />

Toleranzgrenzendarstellung: Grafische Darstellung der Messwerte<br />

innerhalb vorgegebener Grenzwerte<br />

••<br />

S<strong>PC</strong>-Karte: Regelkartendarstellung als x/R- oder x/s-Karte<br />

••<br />

Einfachanzeige: Zahlendarstellung des letzten Messwertes<br />

••<br />

Wählbare Maßeinheit für Messgröße<br />

––<br />

Schichtdicke: metrisch oder imperial<br />

––<br />

Ferrit: Fe% oder WRC-FN<br />

––<br />

el. Leitfähigkeit: % IACS oder MS/m<br />

––<br />

Temperatur: °C oder °F<br />

––<br />

freie Definition einer weiteren Maßeinheit, z. B. g/m2<br />

••<br />

Wählbare Auflösung der Messwertanzeige<br />

Bildschirm<br />

Großes, hochauflösendes Farb-Display mit Touchscreenfunktion.<br />

170 mm x 130 mm (B x H) mit 800 x 600 px<br />

Messwertübernahme<br />

••<br />

automatisch nach Aufsetzen der Sonde<br />

••<br />

durch Extern-Start<br />

••<br />

im Freilaufmodus auf Tastendruck<br />

••<br />

getaktet in gewählten Zeitintervallen entweder nach Aufsetzen<br />

der Sonde oder nach Extern-Start<br />

Auswertung<br />

Statistische Auswertung von Messreihen mit Mittelwert,<br />

Standardabweichung, Variationskoeffizient, Größt- und<br />

Kleinstwert, Anzahl der Messwerte, Einzel- und Blockstatistik;<br />

Berechnung der Prozessfähigkeitsfaktoren<br />

C p und C pk ; Histogramm, Summenhäufigkeitsnetz mit Parametern<br />

der Verteilungs<strong>for</strong>m, FDD, Auswertung von Blockgruppen,<br />

gefiltert nach Blockbezeichnungen<br />

Abmessungen (B x H x T)<br />

360 mm x 170 mm x 270 mm<br />

Gewicht (voll bestückt)<br />

ca. 5 kg<br />

Umgebungstemperatur<br />

+10 °C ... +40 °C<br />

Anschlüsse (Standard)<br />

••<br />

1x COM1 - RS232-Schnittstelle<br />

••<br />

1x LAN Netzwerkanschluss<br />

••<br />

4x USB Anschlüsse für <strong>PC</strong>-Tastatur, <strong>PC</strong>-Maus, Drucker<br />

••<br />

1x USB Anschluss für <strong>PC</strong>-Verbindung<br />

••<br />

Multifunktionsanschluss mit Signalisationsausgängen für Grenzwertüber-<br />

und Unterschreitungen, Extern-Start<br />

••<br />

Klinkenbuchse für den Anschluss z. B. eines Tasters für die externe<br />

Auslösung der Messwertaufnahme<br />

••<br />

Spannungsversorgung: über Netzadapter 12V/1.2 A<br />

Anschließbare Drucker<br />

Drucker mit USB-Anschluss (2.0 kompatibel), die über eine der<br />

folgenden Druckersprachenemulationen verfügt: <strong>PC</strong>L, ESC/P<br />

Dokumentation<br />

••<br />

Ausdruck in Protokollvorlagen von Einzelmesswerten, Block- und<br />

Endergebnissen, Toleranzgrenzen. Ausdruck von S<strong>PC</strong>-Karten,<br />

Histogramm, Summenhäufigkeitsnetz und FDD<br />

••<br />

Protokollgestaltung mit kundenbezogenen Angaben. Beliebige<br />

Anzahl von Protokollen im Gerät speicherbar<br />

Datenspeicherung<br />

••<br />

im internen Gerätespeicher mit 256 MB Speicherplatz<br />

••<br />

auf externem USB-Stick<br />

••<br />

im Netzwerk<br />

Datenexport<br />

••<br />

On- oder offline-Ausgabe der Messwerte über die USB-Schnittstelle<br />

an einen <strong>PC</strong><br />

••<br />

On- oder offline-Ausgabe der Messwerte über die RS232-Schnittstelle<br />

an einen <strong>PC</strong><br />

••<br />

Export von Ergebnisprotokollen als Textdateien, ASCII-Dateien<br />

für den Import in Exceltabellen, im Q-DAS- oder HTML-Format<br />

7


Modulkarten/Anwendungsbereiche<br />

Je nach Anwendung bestücken Sie Ihr FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2 mit den folgenden Modulen.<br />

Anwendungen Modulkarten Messmethode<br />

PERMASCOPE ®<br />

BETASCOPE ®<br />

SIGMASCOPE ® /<br />

PHASCOPE ® 1<br />

SIGMASCOPE ® /<br />

PHASCOPE ® 2<br />

PHASCOPE ®<br />

DUPLEX<br />

NICKELSCOPE ®<br />

SR-SCOPE ®<br />

TEMPERATURE<br />

Schichtdickenmessung – Elektromagnetische Messmethoden<br />

Elektrisch nicht leitende Schichten auf Nichteisenmetallen P P<br />

Wirbelstrom-<br />

Messmethode<br />

DIN EN ISO 2360<br />

Elektrisch nicht leitende Schichten auf ferromagnetischen<br />

Grundwerkstoffen (Stahl oder Eisen)<br />

Duplex-Schichten im schweren Korossionsschutz<br />

(Zinkdicken ≥ 70 µm)<br />

P<br />

P<br />

Magnetinduktive<br />

Messmethode<br />

DIN EN ISO 2178<br />

Magnetinduktive<br />

Messmethode<br />

DIN EN ISO 2178<br />

Wirbelstrom-<br />

Messmethode<br />

DIN EN ISO 2360<br />

Korrosionsschutzschichten<br />

(Zinkdicken ca. 5 – 20 µm)<br />

P<br />

Magnetinduktive<br />

Messmethode<br />

DIN EN ISO 2178<br />

Phasensensitive<br />

Wirbelstrommethode<br />

DIN EN ISO 21968<br />

Schichten aus Cu, Zn, Ni auf ferromagnetischen Grundwerkstoffen<br />

(Stahl oder Eisen)<br />

P<br />

Metallschichten mit hoher elektrischer Leitfähigkeit auf<br />

Grundwerkstoffen niedriger Leitfähigkeit (z. B. Cu/Ms)<br />

Einzeldicken eines Lack/Zink- Schichtsystems (Duplex-Schicht)<br />

auf Feinblechen in einem Messvorgang (Zinkdicken 5 – 20 µm)<br />

P<br />

P<br />

Phasensensitive<br />

Wirbelstrommethode<br />

DIN EN ISO 21968<br />

Kupfer auf Leiterplattenmaterial (Cu/Iso)<br />

P<br />

Kupferschichten in Leiterplattenbohrungen<br />

P<br />

Phasensensitive<br />

Wirbelstrommethode<br />

DIN EN ISO 21968<br />

Galvanische Nickelschichten auf Nichteisenmetallen oder<br />

elektrisch nicht leitendem Grundwerkstoff<br />

Nicht magnetisierbare dicke Schichten im mm-Bereich (Cu, Al,<br />

Pb) auf ferromagnetischen Grundwerkstoffen (Stahl oder Eisen)<br />

P<br />

P<br />

Magnetische Methode<br />

(DIN EN ISO 2178)<br />

Kupferschichtdicke auf Laminaten oder Multilayern, ohne jeden<br />

Einfluss darunter liegender Kupferschichten<br />

P<br />

P<br />

Elektrische<br />

Widerstandsmethode<br />

DIN EN 14571<br />

Grundwerkstoff Nichteisenmetalle<br />

Grundwerkstoff Leiterplattenmaterial<br />

Ferromagnetische Grundwerkstoffe<br />

Nichteisenmetalle und elektrisch nicht leitende Grundwerkstoffe<br />

8<br />

FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2


Anwendungen Modulkarten Messmethode<br />

PERMASCOPE ®<br />

BETASCOPE ®<br />

SIGMASCOPE ® /<br />

PHASCOPE ® 1<br />

SIGMASCOPE ® /<br />

PHASCOPE ® 2<br />

PHASCOPE ® /<br />

DUPLEX<br />

NICKELSCOPE ®<br />

SR-SCOPE<br />

TEMPERATURE<br />

Leitfähigkeitsmessung<br />

Elektrischen Leitfähigkeit von Nichteisenmetallen<br />

P<br />

Phasensensitive<br />

Wirbelstrommethode<br />

DIN EN ISO 21968<br />

Ferritgehaltsmessung<br />

Ferritgehalt in austenitischen und Duplex-Stählen<br />

P<br />

magnetinduktive<br />

Methode<br />

DIN EN ISO 2178<br />

Temperaturmessung<br />

Temperaturmessung mit dem Temperaturfühler TF100A<br />

(Temperaturfühler mit Pt100-Sensor)<br />

P<br />

Temperaturerfassung<br />

mit einem Pt100-Sensor,<br />

Messbereich -20 ºC bis<br />

+80 ºC<br />

Schichtdickenmessung – Betarückstreu-Methode<br />

Kunststoff- oder Metallschichten P P<br />

Öl- oder Wachsschichten auf Metallen P P<br />

Betarückstreu-<br />

Methode<br />

DIN EN ISO 3543,<br />

ASTM B567, BS 5411<br />

Dickenkontrolle von Folien, Bestimmung der Gleichmäßigkeit<br />

von Tüchern und Geweben<br />

P<br />

Betarückstreu-<br />

Methode<br />

Messbereiche der Beta-Strahler<br />

Strahler Pm-147 TI-204 Sr-90 C-14<br />

Schicht Grundwerkstoff Messbereiche in µm<br />

Ag, Rh, Pd Cu, Ni, Fe 1,2 – 4,0 5,5 – 22 15 – 70 –<br />

Al Cu, Ni, Fe 4,5 – 20 25 – 100 90 – 400 –<br />

Au Cu, Ni, Fe 0,5 – 2,0 2,5 – 10 5,5 – 35 –<br />

Cd Cu, Ni, Fe 1,5 – 5,0 7,0 – 30 15 – 70 –<br />

Cr Al 2,0 – 8,0 8,0 – 30 – –<br />

SnPb(60/40) Cu, Ni, Fe 1,1 – 4,5 5,0 – 28 10 – 80 –<br />

Ni, Cu Ag, Mo 1,5 – 5,0 9,0 – 30 20 – 100 –<br />

Sn Cu, Ni, Fe 1,8 – 5,5 7,5 – 35 15 – 100 –<br />

Zn Fe, Al 2,0 – 6,5 4,0 – 30 – –<br />

Lack Ni, Cu, Al 11 – 40 50 – 200 80 – 800 3 – 11<br />

Öl, Schmierfilm Cu, Ni, Fe, Al, Mo, Ag, Au – – – 1 – 11<br />

9


Messmethoden<br />

Phasensensitives Wirbelstrom-Messmethode<br />

Norm: DIN EN ISO 21968<br />

Mikro-Widerstand-Messmethode<br />

Norm: DIN EN 14571<br />

Wirbelströme<br />

Stromquelle<br />

I<br />

U = f(d)<br />

I<br />

Cu-Schicht d<br />

Epoxi-Basismaterial<br />

Kaschierung und<br />

Zwischenlagen<br />

galv. abgeschiedene<br />

Cu-Schichten<br />

Funktionsprinzip<br />

Das in der Sonde erzeugte hochfrequente Magnetfeld<br />

induziert in der Kupferhülse Wirbelströme, deren Magnetfeld<br />

das primäre Magnetfeld schwächt. Je dicker<br />

die Kupferhülse ist, um so stärker fällt diese Schwächung<br />

aus. Dass sich die induzierten Wirbelströme im<br />

Wesentlichen nur in der Längsachse der Kupferhülse<br />

ausbilden, wird durch eine spezielle, patentierte, Sondenausführung<br />

erreicht.<br />

Hauptanwendunsgebreiche<br />

• Elektro- und Elektronikindustrie<br />

• Leiterplattenfertigung<br />

Passende Modultypen<br />

SIGMASCOPE ® /PHASCOPE ® 2<br />

Funktionsprinzip<br />

Mit 4 Elektroden berührt die Sonde die Messobjektoberfläche.<br />

Durch die äußeren beiden Elektroden wird<br />

ein Strom in die Schicht eingespeist. Die Cu-Schicht<br />

zwischen den beiden inneren Elektroden wirkt als<br />

elektrischer Widerstand, an dem der Spannungsabfall<br />

gemessen wird. Dieser ist umgekehrt proportional<br />

der Dicke der Cu-Schicht. Das Messsignal wird im<br />

Mess- gerät über die Sondenkennlinie, dem funktionalen<br />

Zusammenhang zwischen Sondensignal und<br />

Schichtdicke, in den Schichtdickenwert umgewandelt.<br />

Die elektrische Leitfähigkeit der Cu-Schicht ist temperaturabhängig,<br />

was unter Umständen eine Temperaturkompensation<br />

notwendig macht.<br />

Hauptanwendunsgebreiche<br />

• Elektro- und Elektronikindustrie<br />

• Leiterplattenfertigung<br />

Passende Modultypen<br />

SR-SCOPE ®<br />

Hinweis<br />

Dieses Dokument beschreibt nicht alle Messmethoden.<br />

In der Broschüre „Sonden zur Schichtdickenmessung“<br />

finden Sie Beschreibungen für die folgenden<br />

Messmethoden:<br />

Magnetinduktive Messmethode<br />

Wirbelstrom-Messmethoden<br />

Magnetische Messmethode<br />

Duplex-Messungen<br />

10<br />

FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2


Betarückstreu-Messmethode<br />

Norm: DIN EN ISO 3543, ASTM B567a<br />

Betatransmissionsmethode<br />

Norm: DIN EN ISO 3543, ASTM B567a<br />

Messsignal zum<br />

MMS ® <strong>PC</strong>2<br />

Strahlungsdetektor<br />

(Geiger-Müller-Röhre)<br />

Strahlungsdetektor<br />

(Geiger-Müller-Röhre)<br />

dünner Werkstoff<br />

(Absorber)<br />

rückgestreute Betateilchen<br />

(Sekundärstrahlung)<br />

Betastrahler<br />

(Primärstrahlung)<br />

d<br />

Betateilchen<br />

Isotop<br />

Messtischgehäuse<br />

Isotopenhalter<br />

Schichtdicke d<br />

Juwelring ® Blende<br />

Grundwerkstoff<br />

Funktionsprinzip<br />

Eine Isotopenquelle sendet Betastrahlen (Elektronen)<br />

aus. Diese dringen in die Oberfläche des beschichteten<br />

Werkstücks ein und treten in Wechselwirkung mit<br />

den Atomen des Schicht- und Grundwerkstoffes. Der<br />

Messeffekt besteht in der Anzahl der rückgestreuten<br />

Elektronen, die mit einer Geiger-Müller-Zählröhre<br />

erfasst werden. Die Schichtdicke lässt sich mit diesem<br />

Verfahren bestimmen, wenn sich die Ordnungszahlen<br />

Z des Schicht- und Grundwerkstoffes um mindestens<br />

Z = 5 unterscheiden.<br />

Hauptanwendunsgebreiche<br />

• Leiterplatten- und Elektronikindustrie<br />

• Automobilindustrie<br />

• Konsumgüterindustrie<br />

Funktionsprinzip<br />

Analog dem Betarückstreu-Messverfahren sendet eine<br />

Isotopenquelle Betastrahlen (Elektronen) aus, die von<br />

der Geiger-Müller-Zählröhre erfasst werden. Bringt<br />

man nun einen dünnen Werkstoff, z. B. eine Folie oder<br />

ein Gewebe, in den Strahlengang, wird ein Teil der<br />

Strahlung vom Werkstoff absorbiert. Die Anzahl der<br />

durchgelassenen Elektronen werden von der Geiger-<br />

Müller-Zählröhre gezählt. Im Vergleich mit einem<br />

Referenzteil sind so Änderungen der Flächenmasse<br />

bzw. Schichtdicke messtechnisch erfassbar.<br />

Hauptanwendunsgebreiche<br />

• Dickenkontrolle von Folien<br />

• Bestimmung der Gleichmäßigkeit von Tüchern und<br />

Geweben<br />

• Druckindustrie<br />

Passende Modultypen<br />

BETASCOPE ®<br />

Passende Modultypen<br />

BETASCOPE ®<br />

11


Zubehör<br />

Stativ V12 BASE<br />

Stativ mit manueller Sondenabsenkung. Das<br />

Stativ besitzt eine spezielle Hebelmechanik, die<br />

die Absenkgeschwindigkeit kurz vor dem Aufsetzen<br />

abbremst, wodurch die Sonde sanft auf die Prüfteiloberfläche<br />

aufsetzt.<br />

Stativ V12 MOT<br />

Stativ mit motorischer Sondenabsenkung für höchste<br />

Wiederholpräzision. Steuerung direkt am Stativ oder<br />

über das Messgerät FISCHERSCOPE MMS <strong>PC</strong>2. Die<br />

Teach-In-Funktion gewährleistet ein sanftes Aufsetzen<br />

der Sonde auf die Prüfteiloberfläche.<br />

Schraubenmessvorrichtung<br />

Zur präziesen Messung von Beschichtungsdicken auf<br />

metallischen Verbindungselementen.<br />

Tubenmessplatz TM85<br />

Zur Messung der Lackschichtdicke am Innen- oder<br />

Außenmantel von Aluminiumtuben und -dosen.<br />

Kolbenringmesstisch V4EKB4<br />

Zur Messung von z. B. Chromschichten auf Kolbenoder<br />

Ölabstreifringen.<br />

12<br />

FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2


Zubehör BETASCOPE ®<br />

Universalmesstisch Z6NG und Ergänzungsbausatz<br />

Für Kleinteile mit Andruckvorrichtung.<br />

Handmesssonde Z15NG<br />

Zur Messung dünner Schichten (z. B. Öl- und<br />

Schmierfilmen), auch auf zylindrischen Teilen.<br />

Messtisch Z14NG<br />

Zur Schichtdickenmessung auf Kleinteilen mit<br />

Universalandruckvorrichtung.<br />

Handmesssonde Z9NG<br />

Zur Schichtdickenmessung auf z. B. Armaturen,<br />

Leiterplatten, Blechen usw.<br />

Winkelmesssonde Z11NG im Messstativ V12<br />

Zur Schichtdickenmessung in Hülsen, Rohren, Lagerschalen<br />

usw. ab 32 mm Durchmesser.<br />

Innenlochsonde Z3NG zur Messung in Bohrungen.<br />

Aufsetzsonde Z3NG-A zur Messung auf sehr kleinen<br />

Messflächen.<br />

13


Bestellin<strong>for</strong>mationen<br />

Messgerät FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2 Steckplätze Bestell-Nummer<br />

FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2 Grundeinheit<br />

mit LAN, USB, RS232- und Multifunktionsanschluss, Windows ® CE basierter Programmsoftware,<br />

Netzadapter (220 Vac/12 Vdc), Software FISCHER DataCenter und <strong>PC</strong>-Datex<br />

8 freie 604-355<br />

Eine Beschreibung der Modulkarten/Anwendungsbereiche finden Sie auf Seite 8.<br />

Modulkarten<br />

anschließbare<br />

Sonden/Messtische<br />

notwendige<br />

Steckplätze<br />

Bestell-Nummer<br />

Modulkarte F-MODUL PERMASCOPE ®<br />

zur Aufrüstung einer FISCHERSCOPE MMS <strong>PC</strong>2 Grundeinheit<br />

für die Schichtdickenmessung nach magnetinduktiver und<br />

Wirbelstrom-Methode, inkl. Anschlussbuchse für Messsonden<br />

mit robustem, 10-poligem Stecker (vom Typ "F").<br />

Für den Anschluss der E-Sonden bestellen Sie die Modulkarte<br />

PERMASCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>, Bestell-Nummer 603-382<br />

alle magnetindukt. F-Sonden<br />

alle Wirbelstrom-F-Sonden<br />

alle Dualsonden (FD13H, FDX13H)<br />

alle FGAB1.3*Fe-Sonden<br />

1 604-293<br />

Modulkarte NICKELSCOPE ®<br />

für die Schichtdickenmessung nach dem<br />

magnetischen Messverfahren.<br />

Sonden des Typs EN3 1 603-383<br />

Modulkarte BETASCOPE ®<br />

für die Schichtdickenmessung nach dem<br />

Betarückstreu-Messverfahren<br />

Z6NG, Z9NG, Z11NG<br />

mit allen Strahlern, Z15NG<br />

2 603-384<br />

Modulkarte SR-SCOPE ®<br />

für die Kupferdickenmessung auf Leiterplatten nach dem<br />

elektrischen Mikro-Widerstand-Messverfahren<br />

ERCU D10<br />

ERCU N<br />

1 603-385<br />

Modulkarte SIGMASCOPE ® /PHASCOPE ® 1<br />

für die Messung der Schicktdicke und der elektrischen Leitfähigkeit<br />

nach dem phasensensitiven Wirbelstrom-Messverfahren.<br />

Messfrequenzen: 60, 120, 240, 480 und 1250 kHz<br />

Modulkarte SIGMASCOPE ® /PHASCOPE ® 2<br />

für Messungen der Kupferdicke in Leiterplattenbohrungen.<br />

Modulkarte arbeitet nur in Verbindung mit der Modulkarte<br />

SIGMASCOPE ® /PHASCOPE ® 1<br />

ESD20Zn (Zn/Fe; Cu/Fe)<br />

ESD20Cu, ESD20Ni, ESD2.4<br />

ES40, ES40HF<br />

ES20, ES24<br />

ESL080B<br />

ESL080V<br />

2 603-592<br />

1 (3) 603-625<br />

Modulkarte PHASCOPE ® DUPLEX<br />

für die Schichtdickenmessung nach dem magnetinduktiven<br />

Messverfahren, amplitudensensitiven und phasensensitiven<br />

Wirbelstrom-Messverfahren<br />

Modulkarte TEMPERATURE<br />

für die Temperaturmessung mit dem Temperaturfühler TF100A<br />

in Verbindung mit den Modulkarten BETASCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong><br />

und SR-SCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong><br />

DIGITALES I/O-Modul<br />

Schnittstellenmodul für MMS <strong>PC</strong>2, für SPS, galvanisch getrennt,<br />

Pegel 24 V<br />

ESG20 1 603-730<br />

Temperaturfühler TF100A 1 603-390<br />

1 604-426<br />

14<br />

FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2


Zubehör allgemein<br />

Bestell-Nummer<br />

Messstativ V12 BASE 604-420<br />

Messstativ V12 MOT; vom MMS <strong>PC</strong>2 aus steuerbares Messstativ für motorische Sondenbewegung 604-374<br />

USB-Anschluss-Kabel für Drucker und Messstativ V12 MOT 603-398<br />

Interfacekabel ActiveSync; für den Datenaustausch über die RS232-Schnittstelle zwischen MMS <strong>PC</strong>2<br />

und einem <strong>PC</strong><br />

603-396<br />

Interfacekabel LAN RJ45; für die Anbindung des MMS <strong>PC</strong>2 an ein Netzwerk 603-397<br />

Interfacekabel LAN RJ45 gekreuzt; für die Anbindung des MMS <strong>PC</strong>2 an einen <strong>PC</strong> mit LAN-Anschluss 603-400<br />

Fußtaster; zur externen Auslösung der Messwerterfassung. Anschluss an den Extern-Start-Anschluss des<br />

MMS <strong>PC</strong>2<br />

Ersatzteile<br />

600-152<br />

Bestell-Nummer<br />

Soft Pencil MMS <strong>PC</strong>2 603-857<br />

Steckernetzteil MMS <strong>PC</strong>2 100 – 240 V 603-480<br />

Sonden<br />

Bestell-Nummer<br />

Gerne unterstützen wir Sie, die passende Sonde für Ihre Messaufgabe aus unserem umfangreichen<br />

Sondenprogramm auszuwählen.<br />

Zubehör Modulkarte BETASCOPE ®<br />

Bestell-Nummer<br />

Universal-Messtisch Z6NG* 602-261<br />

Messtisch Z14NG* 602-250<br />

Handmesssonde Z9NG* 600-460<br />

Winkelmesssonde Z11NG* 600-471<br />

Handmesssonde Z15NG; nur passend für Beta-Strahler C-14 602-789<br />

Innenlochsonde Z3NG 600-456<br />

Aufsetzsonde Z3NG-A 600-458<br />

Ergänzungsbausatz für Universal-Messtisch Z6NG 602-371<br />

Adapter Beta 32 mm; Adapter für Messtisch Z6NG zur Aufnahme von Strahler und Blendring 600-550<br />

Zentriervorrichtung für Handmesssonde Z9NG 600-461<br />

* Gewünschten Beta-Strahler aus nachfolgender Tabelle auswählen<br />

Strahler für Beta-Sonden und -Messtische<br />

Nachfolgend sind alle standardmäßig verfügbaren Strahler aufgeführt. Weitere Blendringe sowie Sonderausführungen auf Anfrage<br />

Bestell-Nummer<br />

Bezeichnung Blendringöffnung Energie Halbwertzeit<br />

PM-147<br />

TI-204<br />

ø 0,63 mm<br />

600-488<br />

0,22 MeV 2,65 Jahre<br />

0,63 x 1,2 mm 600-489<br />

ø 0,63 mm<br />

600-490<br />

0,76 MeV 3,65 Jahre<br />

0,63 x 1,2 mm 600-491<br />

SR-90 ø 1,6 mm 2,27 MeV 28 Jahre 600-492<br />

C-14 ø 20 mm 0,156 MeV 5680 Jahre 600-493<br />

15


FISCHER weltweit<br />

Helmut Fischer GmbH<br />

Institut für Elektronik und Messtechnik<br />

71069 Sindelfingen, Germany<br />

Tel. +49 70 31 30 30<br />

mail@helmut-fischer.de<br />

Fischer Instrumentation (GB) Ltd<br />

Lymington, Hampshire SO41 8JD, England<br />

Tel. +44 15 90 68 41 00<br />

mail@fischergb.co.uk<br />

Fischer Technology, Inc.<br />

Windsor, CT 06095, USA<br />

Tel. 1 (860) 683-0781<br />

info@fischer-technology.com<br />

Helmut Fischer S. de R.L. de C.V.<br />

76230 Querétaro, QRO, Mexico<br />

Tel. +521 (442)190-9988<br />

hhuerta@fischer-technology.com<br />

Helmut Fischer AG<br />

CH-6331 Hünenberg, Switzerland<br />

Tel. +41 41 785 08 00<br />

switzerland@helmutfischer.com<br />

Fischer Instrumentation Electronique<br />

78180 Montigny le Bretonneux, France<br />

Tel. +33 1 30 58 00 58<br />

france@helmutfischer.com<br />

Helmut Fischer S.R.L.<br />

20099 Sesto San Giovanni (Milano), Italy<br />

Tel. +39 0 22 55 26 26<br />

italy@helmutfischer.com<br />

Fischer Instruments, S.A.<br />

08018 Barcelona, Spain<br />

Tel. +34 9 33 09 79 16<br />

spain@helmutfischer.com<br />

Helmut Fischer Meettechniek B.V.<br />

5627 GB Eindhoven, <strong>The</strong> Netherlands<br />

Tel. +31 40 248 22 55<br />

netherlands@helmutfischer.com<br />

Fischer do Brasil<br />

04561-001 São Paulo, Brazil<br />

Tel. +551135 88 09 09<br />

brasil@helmutfischer.com<br />

Fischer Instruments K.K.<br />

Saitama-ken 340-0012, Japan<br />

Tel. +81 4 89 29 34 55<br />

japan@helmutfischer.com<br />

Nantong Fischer Instrumentation Ltd<br />

Shanghai 200333, P.R. China<br />

Tel. +86 21 32 51 31 31<br />

china@helmutfischer.com<br />

Fischer Instrumentation (Far East) Ltd<br />

Kwai Chung, N.T., Hong Kong<br />

Tel. +852 24 20 11 00<br />

hongkong@helmutfischer.com<br />

Fischer Measurement Technologies (India) Pvt. Ltd<br />

Pune 411036, India<br />

Tel. +91 20 26 82 20 65<br />

india@helmutfischer.com<br />

Fischer Instrumentation (S) Pte Ltd<br />

Singapore 658065, Singapore<br />

Tel. +65 62 76 67 76<br />

singapore@helmutfischer.com<br />

Helmut Fischer Korea Co., Ltd<br />

Seoul City, Republic of Korea<br />

Tel. +8210 34 73 12 80<br />

korea@helmutfischer.com<br />

www.helmut-fischer.com<br />

901-102 04/13 09-12<br />

Schichtdicke Materialanalyse Mikrohärte Werkstoffprüfung

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!