FISCHERSCOPE® MMS® PC The universal instrument for coating ...
FISCHERSCOPE® MMS® PC The universal instrument for coating ...
FISCHERSCOPE® MMS® PC The universal instrument for coating ...
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FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2<br />
das universelle Multi-Mess-System<br />
zur Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung<br />
Schichtdicke Materialanalyse Mikrohärte Werkstoffprüfung
FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2 – das vielseitige Tischmessgerät<br />
Das FISCHERSCOPE MMS ® <strong>PC</strong>2 ® ist überall da<br />
im Einsatz, wo Qualität groß geschrieben wird: im<br />
Wareneingang, in der Endkontrolle, in der laufenden<br />
Fertigung, für Stichproben- oder Stückprüfungen. Und<br />
das in allen Branchen. Durch seine modulare Bauweise<br />
lässt sich das MMS <strong>PC</strong>2 speziell an Ihre Bedürfnisse<br />
anpassen und jederzeit erweitern.<br />
Ob Schichtdicke, elektrische Leitfähigkeit oder Ferritgehalt,<br />
mit dem MMS <strong>PC</strong>2 messen Sie immer präzise<br />
und richtig.<br />
MMS <strong>PC</strong>2 – ein Messgerät für alle Messaufgaben.<br />
Schichtdickenmessung<br />
Messung der Schichtdicke bei folgenden Materialkombinationen:<br />
• Fast alle Schichtmaterialien auf Metallen<br />
• Duplex-Schichtsysteme<br />
• Metallische Schichten auf elektrisch nicht leitenden<br />
Materialien<br />
• Organische Schichten z. B. Öl- oder Schmierfilme<br />
Werkstoffprüfung<br />
• Messung der elektrischen Leitfähigkeit von Nichteisenmetallen<br />
• Prüfung der Güte von Schweißnähten, Ferritgehalt<br />
in austenitischen oder Duplexstählen<br />
Zu Hause in allen Branchen<br />
• Automotive<br />
• Elektronikindustrie<br />
• Lackindustrie<br />
• Beschichtungstechnologien<br />
• Gold, Uhren, Schmuck<br />
• Materialanalyse und Werkstoffprüfung<br />
Vielfältig im Einsatz<br />
• Qualitätssicherung in Warenein- und ausgang<br />
• Stück- oder Stichprobenprüfung in der laufenden<br />
Produktion<br />
• Kontinuierliche Fertigungsüberwachung<br />
• Integrierbar in Qualitätsmanagementsysteme und<br />
Firmennetzwerke<br />
Messen mit Hand oder automatisiert<br />
• Automatisch nach Aufsetzen der Sonde<br />
• Auf Tastendruck oder per Extern-Start<br />
• In vordefinierten Zeitintervallen<br />
• Halbautomatisch mit motorischem Stativ oder<br />
programmierbarem XY-Messtisch<br />
• Automatisiert durch SPS-Einheit<br />
• Automatisiert in Fertigungsanlagen<br />
Modulare Bauweise<br />
• Acht Module mit unterschiedlichen Messverfahren<br />
für Schichtdicke, Leitfähigkeit und Ferritgehalt stehen<br />
zur Auswahl<br />
2<br />
FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2
Vielfältige Anwendungen<br />
Messung dünner organischer Schichten, z. B. Öle , mit<br />
der Handmesssonde Z15NG-TC<br />
Handmesssonde mit Beta-Strahler für Messungen<br />
nach der radiometrischen Betarückstreu-Methode, ein<br />
integrierter Temperatursensor dient zur automatischen<br />
Kompensation der Betastrahlendämpfung durch die<br />
Luft bei unterschiedlichen Temperaturen.<br />
Messung der Chromschicht auf Kolbenstangen mit der<br />
Messsonde V2EGA06H im motorischen Stativ<br />
Präzise Messungen an Kleinteilen mit dem motorischen<br />
Stativ V12 MOT<br />
Das FISCHERSCOPE MMS <strong>PC</strong>2 steuert automatisch die<br />
Auf- und Abbewegung des Statives und die Messung.<br />
Wareneingang<br />
Messplatz mit mehreren Modulkarten und Sonden zur<br />
Wareneingangsprüfung, montiert auf einem Transportwagen<br />
zur Messung verschiedener Teile.<br />
3
Typische Konfigurationen<br />
Messplatz Lacklabor<br />
Messplatz zur Bestimmung der Schichtdicke von:<br />
• Lackschichten auf Nichteisenmetallen<br />
• Lackschichten auf Eisen oder Stahl<br />
• Duplex-Messungen, d. h. Lack auf Zink auf Eisen<br />
oder Stahl bei gleichzeitiger Messung beider<br />
Schichten<br />
Eloxalmessplatz<br />
Messplatz mit mehreren Sonden zur Prüfung verschiedener<br />
Teile mit unterschiedlicher Geometrie, ohne die<br />
Sonden umstecken zu müssen. Durch die Auswahl<br />
der Applikation wird automatisch die richtige Sonde<br />
aktiviert. Messung der Schichtdicke und Leitfähigkeit<br />
von eloxierten Aluminium-Teilen, Ursachensuche bei<br />
Farbunterschieden.<br />
Bestückung<br />
• Modul PERMASCOPE ® mit Sonde FD13H<br />
• Modul PHASCOPE ® DUPLEX mit Sonde ESG20<br />
• Stativ V12 MOT zum automatischen Scannen<br />
lackierter Bleche<br />
Bestückung<br />
• Modul SIGMASCOPE ® mit den Sonden ES40 und<br />
ES24 zur Leitfähigkeitsmessung<br />
• Modul PERMASCOPE ® mit der Innenmesssonde<br />
FAI3.3-150 und der krümmungskompensierten<br />
Sonde FTD3.3 zur Messung der Eloxal-Schichtdicke<br />
• Stativ V12 MOT zur halbautomatischen Messung<br />
vieler Teile<br />
Galvanikmessplatz<br />
Messplatz zur Schichtdickenbestimmung bei unterschiedlichen<br />
Teile<strong>for</strong>men, Materialkombinationen und<br />
Oberflächenbeschaffenheiten, die typisch sind für<br />
Betriebe der Galvanotechnik. Sogar Messungen auf<br />
Gewinden und auf rauen Oberflächen sind mit sehr<br />
hoher Wiederholpräzision möglich.<br />
Bestückung<br />
• Modul PERMASCOPE ® mit den Sonden FGA06H-<br />
MC zur Messung auf kleinen Teilen und F20H zur<br />
Messung auf rauen Oberflächen, Sonde V7FKB4<br />
zur Messung von Phosphat- Schichten<br />
• Modul SIGMASCOPE ® /PHASCOPE ® 1 mit den<br />
Sonden ESD20 Zn und ESD2.4 zur Messung<br />
von Kupfer- oder Zinkschichten auf Stahl- und<br />
Eisengussteilen<br />
• Stativ V12 MOT oder V12 BASE zur Messung auf<br />
kleinen Teilen wie Muttern und Schrauben<br />
Messplatz Leiterplatte (<strong>PC</strong>B)<br />
Messplatz für fast alle Messaufgaben rund um die<br />
Leiterplatte. Bei extrem dünnen Schichten empfehlen wir<br />
Ihnen zusätzlich die Geräte unserer X-RAY-Produktlinie.<br />
Bestückung<br />
• Modul SIGMASCOPE ® /PHASCOPE ® 2 mit Sonde<br />
ESL080V zur Messung der Cu-Durchkontaktierung<br />
• Modul SIGMASCOPE ® /PHASCOPE ® 1 mit Sonde<br />
ESD20 Cu zur Messung der Cu-Schichten unter<br />
Lötstopplack<br />
• Modul SR-SCOPE ® mit Sonde ERCU-D10 zur Messung<br />
der Cu-Schicht auf Multilayern ohne Beeinflussung<br />
des Messergebnisses durch Kupferschichten<br />
auf Innenlagen<br />
• Modul PERMASCOPE ® mit Sonde FTA3.3-5.6HF zur<br />
Messung der Lötstopplack- und Schutzlackschicht<br />
auf dünnen Cu-Zwischenschichten und Sonde<br />
FKB10-OD zur Messung der Gesamt-Leiterplattendicke<br />
4<br />
FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2
Messdaten-Auswertung<br />
Das FISCHERSCOPE MMS <strong>PC</strong>2 bietet vielfältige<br />
Möglichkeiten zur Auswertung Ihrer Messergebnisse.<br />
Einfache Visualisierung der Prozessqualität mit dem<br />
Fertigungs-Diagnose-Diagramm (FDD ® )<br />
Auswerte- und Statistikfunktionen<br />
• Anzeige wichtiger statistischer Kennwerte wie Mittelwert,<br />
Standardabweichung, Min, Max, Spannweite<br />
• Statistikanzeige der wichtigsten Kennwerte im Blockund<br />
Endergebnis<br />
• Grafische Darstellung als Histogramm, Summenhäufigkeitsdiagramm,<br />
FDD<br />
• Eingabemöglichkeit der Prozesstoleranzgrenzen<br />
und Berechnung der zugehörigen<br />
Prozessfähigkeitsindizes c p<br />
und c pk<br />
Messwertprotokolle<br />
Zur übersichtlichen Darstellung Ihrer Messergebnisse<br />
können Sie Protokolle erstellen, die die Messwerte und<br />
statistischen Auswertungen übersichtlich darstellen. In<br />
Protokollen können Sie z. B. Ihr Firmenlogo und eine<br />
Skizze des Messobjektes einbinden. In Vorlagen definieren<br />
Sie das Layout und den Inhalt eines Protokolls.<br />
Für jede Anwendung können Sie eine eigene Vorlage<br />
erstellen.<br />
Datenexport<br />
Sie können Ihre Messdaten einfach und schnell<br />
exportieren. In Vorlagen können Sie definieren, was<br />
exportiert werden soll. Für jede Anwendung können<br />
Sie eine andere Vorlage erstellen.<br />
Mögliche Formate: PDF, ASCII, Excel, Q-DAS, HTML<br />
Das FISCHERSCOPE MMS <strong>PC</strong>2 bietet mit dem patentierten<br />
Fertigungs-Diagnose-Diagramm (FDD) von FISCHER<br />
eine grafische Auswertemöglichkeit, die auf einen Blick<br />
den Prozess visualisiert. Ein leicht zu interpretierendes<br />
Schaubild liefert einen grafischen Gesamtüberblick<br />
über die Verteilung von Fertigungsgrößen, wie z. B.<br />
der Schichtdicke. Durch die farbliche Darstellung<br />
erhalten Sie ohne eigene statistische Berechnungen<br />
einfach und schnell In<strong>for</strong>mationen zur Optimierung des<br />
Fertigungsprozesses.<br />
FISCHER DataCenter ►<br />
Die <strong>PC</strong>-Software FISCHER DataCenter ist im Lieferumfang<br />
des FISCHERSCOPE MMS <strong>PC</strong>2 enthalten. Mit der<br />
DataCenter-Software lassen sich einfach und kom<strong>for</strong>tabel<br />
individuelle Berichte generieren und mit eigenen<br />
Logos, Bildern und Grafiken gestalten. Per Drag-and-<br />
Drop können Sie beliebig Messwerte, statistische Werte<br />
und grafische Darstellungen einbinden. Zudem können<br />
Sie Berichtsvorlagen auf Basis eingescannter Formulare<br />
erstellen.<br />
5
Anpassungsfähig durch modularen Aufbau<br />
MODULSCHÄCHTE<br />
COM1 LAN USB USB (<strong>PC</strong>) MULTIFUNCTION EXT. START<br />
100 verschiedene Anwendungen - Acht Einbauplätze<br />
und mehr als 60 Sonden<br />
Durch seine modulare Bauweise passt das MMS <strong>PC</strong>2<br />
immer zu Ihren Anwendungen. Ausgehend von Ihrer<br />
Messaufgabe bestücken wir für Sie das Messgerät mit<br />
den passenden Modulkarten und Sonden.<br />
Acht verschiedene Modulkarten<br />
Die Messung der physikalischen Größen Schichtdicke,<br />
elektrische Leitfähigkeit und Ferritgehalt er<strong>for</strong>dern<br />
unterschiedliche Messverfahren. Bei der Schichtdickenmessung<br />
kommen je nach Schicht-Grundwerkstoff-Kombination<br />
wiederum unterschiedliche Messverfahren zum<br />
Einsatz. Um diese breite Palette abzudecken, haben<br />
wir für das MMS <strong>PC</strong>2 acht verschiedene Modulkarten<br />
entwickelt.<br />
Veränderte An<strong>for</strong>derungen<br />
Sie können das MMS <strong>PC</strong>2 jederzeit mit weiteren<br />
Modulkarten und Sonden aufrüsten.<br />
Schnittstellen<br />
• LAN-Netzwerkanschluss<br />
• 5 USB-Anschlüsse für <strong>PC</strong>, Drucker usw.<br />
• RS232-Schnittstelle für den Anschluss von Messstativ,<br />
XY-Messtisch, digitale Messmittel oder Funkschnittstelle<br />
• Multifunktionsanschluss, z. B. für den Anschluss von<br />
Signallampen zur Meldung von Toleranzgrenzenüberschreitungen<br />
• Optional: Anschluss für SPS-Integration<br />
Merkmale<br />
Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung mit<br />
nur einem Instrument<br />
Robustes und sehr vielseitiges Tischgerät als<br />
multifunktionsfähiges Messsystem mit Datenarchivierung<br />
und Messdatenverarbeitung<br />
Benutzerfreundliches Arbeiten mit einem großen,<br />
hochauflösenden LCD Touchscreen und<br />
Windows ® CE<br />
Benutzeroberfläche in viele europäische und asiatische<br />
Sprachen umschaltbar<br />
Auswertung und Datenexport<br />
Statistikfunktionen zur Auswertung der Messwerte:<br />
Summenhäufigkeitsdiagramm, Histogramm<br />
und Fertigungs-Diagnose-Diagramm<br />
(FDD)<br />
Verschiedene grafische Messwertdarstellungen<br />
zur schnellen Übersicht des Produktionsverlaufs<br />
und der Produktqualität<br />
Kundenspezifische Protokollierung der Messdaten<br />
Export der Ergebnisprotokolle und der Messwerte<br />
in verschiedenen Daten<strong>for</strong>maten zur Auswertung<br />
in externen Statistikprogrammen<br />
Lieferung mit <strong>PC</strong>-Software FISCHER DataCenter<br />
mit folgenden Funktionen: Übertragung und<br />
Archivierung von Messwerten, umfangreiche statistische<br />
und grafische Auswertemöglichkeiten,<br />
einfache Erstellung und Ausdruck individueller<br />
Prüfberichte<br />
6<br />
FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2
Technische Daten<br />
Hardwarekonzeption<br />
Gehäuse mit 8 Steckplätzen für Modulkarten mit verschiedenen<br />
Messverfahren.<br />
Messverfahren<br />
••<br />
Magnetisches Verfahren (DIN EN ISO 2178)<br />
••<br />
Magnetinduktives Verfahren (DIN EN ISO 2178, ASTM D7091)<br />
••<br />
Amplitudensensitives Wirbelstromverfahren (DIN EN ISO 2360,<br />
ASTM D7091)<br />
••<br />
Phasensensitives Wirbelstromverfahren (DIN EN ISO 21968)<br />
••<br />
Mikro-Widerstand-Verfahren (DIN EN 14571)<br />
••<br />
Betarückstreu-Verfahren (DIN EN ISO 3543, ASTM B567a)<br />
Messgrößen<br />
Schichtdicke, elektrische Leitfähigkeit, Ferritgehalt, Temperatur<br />
Messsonden<br />
Anschlussbuchsen an den Modulkarten für alle FISCHER-Sonden,<br />
gleichzeitiger Anschluss von max. 8 Messsonden<br />
Software<br />
••<br />
Windows ® CE basierte Programmsoftware<br />
••<br />
Software in europäischen und asiatischen Sprachen verfügbar:<br />
Deutsch, Englisch, Französisch, Italienisch, Spanisch, Tschechisch,<br />
Polnisch, Türkisch, Chinesisch und Japanisch<br />
••<br />
Eingaben über Touchscreen, <strong>PC</strong>-Maus oder <strong>PC</strong>-Tastatur (USB)<br />
••<br />
Sicherung von Applikationen, Sperrung des Zugriffs auf<br />
Programmfunktionen zur Vermeidung von Fehlbedienungen,<br />
Grenzwertüberwachung, Ausreißerkontrolle, Kalibrierung,<br />
Blockbildung<br />
Messwertspeicherung<br />
Das Gerät speichert Messwerte in Applikations-Dateien.<br />
Zusätzlich wird in diesen Dateien folgendes gespeichert:<br />
Alle Einstellungen, In<strong>for</strong>mationen zu den Messwertblöcken,<br />
Datum, Uhrzeit und Kalibrierdaten.<br />
••<br />
Standard-Modus: Messwerte werden in aufeinanderfolgenden<br />
Blöcken in der Applikation gespeichert. Automatische Blockbildung<br />
nach vorgegebenen n Einzelmesswerten. Automatische<br />
Berechnung des Mittelwertes<br />
••<br />
Matrix-Modus: Messwerte werden in Blöcken gespeichert, die<br />
in der Applikation matrixförmig angelegt sind. Blockwechsel<br />
manuell in beliebigen Block oder automatisch in vorgegebener<br />
Reihenfolge<br />
Mehrkanalmessung<br />
Messwerte von bis zu 8 Messsonden werden parallel in einer<br />
Applikation angezeigt und gespeichert<br />
Messwertdarstellung<br />
••<br />
Zahlendarstellung: Auflistung der Messwerte mit Großzahlendarstellung<br />
des letzten Einzelmesswertes<br />
••<br />
Toleranzgrenzendarstellung: Grafische Darstellung der Messwerte<br />
innerhalb vorgegebener Grenzwerte<br />
••<br />
S<strong>PC</strong>-Karte: Regelkartendarstellung als x/R- oder x/s-Karte<br />
••<br />
Einfachanzeige: Zahlendarstellung des letzten Messwertes<br />
••<br />
Wählbare Maßeinheit für Messgröße<br />
––<br />
Schichtdicke: metrisch oder imperial<br />
––<br />
Ferrit: Fe% oder WRC-FN<br />
––<br />
el. Leitfähigkeit: % IACS oder MS/m<br />
––<br />
Temperatur: °C oder °F<br />
––<br />
freie Definition einer weiteren Maßeinheit, z. B. g/m2<br />
••<br />
Wählbare Auflösung der Messwertanzeige<br />
Bildschirm<br />
Großes, hochauflösendes Farb-Display mit Touchscreenfunktion.<br />
170 mm x 130 mm (B x H) mit 800 x 600 px<br />
Messwertübernahme<br />
••<br />
automatisch nach Aufsetzen der Sonde<br />
••<br />
durch Extern-Start<br />
••<br />
im Freilaufmodus auf Tastendruck<br />
••<br />
getaktet in gewählten Zeitintervallen entweder nach Aufsetzen<br />
der Sonde oder nach Extern-Start<br />
Auswertung<br />
Statistische Auswertung von Messreihen mit Mittelwert,<br />
Standardabweichung, Variationskoeffizient, Größt- und<br />
Kleinstwert, Anzahl der Messwerte, Einzel- und Blockstatistik;<br />
Berechnung der Prozessfähigkeitsfaktoren<br />
C p und C pk ; Histogramm, Summenhäufigkeitsnetz mit Parametern<br />
der Verteilungs<strong>for</strong>m, FDD, Auswertung von Blockgruppen,<br />
gefiltert nach Blockbezeichnungen<br />
Abmessungen (B x H x T)<br />
360 mm x 170 mm x 270 mm<br />
Gewicht (voll bestückt)<br />
ca. 5 kg<br />
Umgebungstemperatur<br />
+10 °C ... +40 °C<br />
Anschlüsse (Standard)<br />
••<br />
1x COM1 - RS232-Schnittstelle<br />
••<br />
1x LAN Netzwerkanschluss<br />
••<br />
4x USB Anschlüsse für <strong>PC</strong>-Tastatur, <strong>PC</strong>-Maus, Drucker<br />
••<br />
1x USB Anschluss für <strong>PC</strong>-Verbindung<br />
••<br />
Multifunktionsanschluss mit Signalisationsausgängen für Grenzwertüber-<br />
und Unterschreitungen, Extern-Start<br />
••<br />
Klinkenbuchse für den Anschluss z. B. eines Tasters für die externe<br />
Auslösung der Messwertaufnahme<br />
••<br />
Spannungsversorgung: über Netzadapter 12V/1.2 A<br />
Anschließbare Drucker<br />
Drucker mit USB-Anschluss (2.0 kompatibel), die über eine der<br />
folgenden Druckersprachenemulationen verfügt: <strong>PC</strong>L, ESC/P<br />
Dokumentation<br />
••<br />
Ausdruck in Protokollvorlagen von Einzelmesswerten, Block- und<br />
Endergebnissen, Toleranzgrenzen. Ausdruck von S<strong>PC</strong>-Karten,<br />
Histogramm, Summenhäufigkeitsnetz und FDD<br />
••<br />
Protokollgestaltung mit kundenbezogenen Angaben. Beliebige<br />
Anzahl von Protokollen im Gerät speicherbar<br />
Datenspeicherung<br />
••<br />
im internen Gerätespeicher mit 256 MB Speicherplatz<br />
••<br />
auf externem USB-Stick<br />
••<br />
im Netzwerk<br />
Datenexport<br />
••<br />
On- oder offline-Ausgabe der Messwerte über die USB-Schnittstelle<br />
an einen <strong>PC</strong><br />
••<br />
On- oder offline-Ausgabe der Messwerte über die RS232-Schnittstelle<br />
an einen <strong>PC</strong><br />
••<br />
Export von Ergebnisprotokollen als Textdateien, ASCII-Dateien<br />
für den Import in Exceltabellen, im Q-DAS- oder HTML-Format<br />
7
Modulkarten/Anwendungsbereiche<br />
Je nach Anwendung bestücken Sie Ihr FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2 mit den folgenden Modulen.<br />
Anwendungen Modulkarten Messmethode<br />
PERMASCOPE ®<br />
BETASCOPE ®<br />
SIGMASCOPE ® /<br />
PHASCOPE ® 1<br />
SIGMASCOPE ® /<br />
PHASCOPE ® 2<br />
PHASCOPE ®<br />
DUPLEX<br />
NICKELSCOPE ®<br />
SR-SCOPE ®<br />
TEMPERATURE<br />
Schichtdickenmessung – Elektromagnetische Messmethoden<br />
Elektrisch nicht leitende Schichten auf Nichteisenmetallen P P<br />
Wirbelstrom-<br />
Messmethode<br />
DIN EN ISO 2360<br />
Elektrisch nicht leitende Schichten auf ferromagnetischen<br />
Grundwerkstoffen (Stahl oder Eisen)<br />
Duplex-Schichten im schweren Korossionsschutz<br />
(Zinkdicken ≥ 70 µm)<br />
P<br />
P<br />
Magnetinduktive<br />
Messmethode<br />
DIN EN ISO 2178<br />
Magnetinduktive<br />
Messmethode<br />
DIN EN ISO 2178<br />
Wirbelstrom-<br />
Messmethode<br />
DIN EN ISO 2360<br />
Korrosionsschutzschichten<br />
(Zinkdicken ca. 5 – 20 µm)<br />
P<br />
Magnetinduktive<br />
Messmethode<br />
DIN EN ISO 2178<br />
Phasensensitive<br />
Wirbelstrommethode<br />
DIN EN ISO 21968<br />
Schichten aus Cu, Zn, Ni auf ferromagnetischen Grundwerkstoffen<br />
(Stahl oder Eisen)<br />
P<br />
Metallschichten mit hoher elektrischer Leitfähigkeit auf<br />
Grundwerkstoffen niedriger Leitfähigkeit (z. B. Cu/Ms)<br />
Einzeldicken eines Lack/Zink- Schichtsystems (Duplex-Schicht)<br />
auf Feinblechen in einem Messvorgang (Zinkdicken 5 – 20 µm)<br />
P<br />
P<br />
Phasensensitive<br />
Wirbelstrommethode<br />
DIN EN ISO 21968<br />
Kupfer auf Leiterplattenmaterial (Cu/Iso)<br />
P<br />
Kupferschichten in Leiterplattenbohrungen<br />
P<br />
Phasensensitive<br />
Wirbelstrommethode<br />
DIN EN ISO 21968<br />
Galvanische Nickelschichten auf Nichteisenmetallen oder<br />
elektrisch nicht leitendem Grundwerkstoff<br />
Nicht magnetisierbare dicke Schichten im mm-Bereich (Cu, Al,<br />
Pb) auf ferromagnetischen Grundwerkstoffen (Stahl oder Eisen)<br />
P<br />
P<br />
Magnetische Methode<br />
(DIN EN ISO 2178)<br />
Kupferschichtdicke auf Laminaten oder Multilayern, ohne jeden<br />
Einfluss darunter liegender Kupferschichten<br />
P<br />
P<br />
Elektrische<br />
Widerstandsmethode<br />
DIN EN 14571<br />
Grundwerkstoff Nichteisenmetalle<br />
Grundwerkstoff Leiterplattenmaterial<br />
Ferromagnetische Grundwerkstoffe<br />
Nichteisenmetalle und elektrisch nicht leitende Grundwerkstoffe<br />
8<br />
FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2
Anwendungen Modulkarten Messmethode<br />
PERMASCOPE ®<br />
BETASCOPE ®<br />
SIGMASCOPE ® /<br />
PHASCOPE ® 1<br />
SIGMASCOPE ® /<br />
PHASCOPE ® 2<br />
PHASCOPE ® /<br />
DUPLEX<br />
NICKELSCOPE ®<br />
SR-SCOPE<br />
TEMPERATURE<br />
Leitfähigkeitsmessung<br />
Elektrischen Leitfähigkeit von Nichteisenmetallen<br />
P<br />
Phasensensitive<br />
Wirbelstrommethode<br />
DIN EN ISO 21968<br />
Ferritgehaltsmessung<br />
Ferritgehalt in austenitischen und Duplex-Stählen<br />
P<br />
magnetinduktive<br />
Methode<br />
DIN EN ISO 2178<br />
Temperaturmessung<br />
Temperaturmessung mit dem Temperaturfühler TF100A<br />
(Temperaturfühler mit Pt100-Sensor)<br />
P<br />
Temperaturerfassung<br />
mit einem Pt100-Sensor,<br />
Messbereich -20 ºC bis<br />
+80 ºC<br />
Schichtdickenmessung – Betarückstreu-Methode<br />
Kunststoff- oder Metallschichten P P<br />
Öl- oder Wachsschichten auf Metallen P P<br />
Betarückstreu-<br />
Methode<br />
DIN EN ISO 3543,<br />
ASTM B567, BS 5411<br />
Dickenkontrolle von Folien, Bestimmung der Gleichmäßigkeit<br />
von Tüchern und Geweben<br />
P<br />
Betarückstreu-<br />
Methode<br />
Messbereiche der Beta-Strahler<br />
Strahler Pm-147 TI-204 Sr-90 C-14<br />
Schicht Grundwerkstoff Messbereiche in µm<br />
Ag, Rh, Pd Cu, Ni, Fe 1,2 – 4,0 5,5 – 22 15 – 70 –<br />
Al Cu, Ni, Fe 4,5 – 20 25 – 100 90 – 400 –<br />
Au Cu, Ni, Fe 0,5 – 2,0 2,5 – 10 5,5 – 35 –<br />
Cd Cu, Ni, Fe 1,5 – 5,0 7,0 – 30 15 – 70 –<br />
Cr Al 2,0 – 8,0 8,0 – 30 – –<br />
SnPb(60/40) Cu, Ni, Fe 1,1 – 4,5 5,0 – 28 10 – 80 –<br />
Ni, Cu Ag, Mo 1,5 – 5,0 9,0 – 30 20 – 100 –<br />
Sn Cu, Ni, Fe 1,8 – 5,5 7,5 – 35 15 – 100 –<br />
Zn Fe, Al 2,0 – 6,5 4,0 – 30 – –<br />
Lack Ni, Cu, Al 11 – 40 50 – 200 80 – 800 3 – 11<br />
Öl, Schmierfilm Cu, Ni, Fe, Al, Mo, Ag, Au – – – 1 – 11<br />
9
Messmethoden<br />
Phasensensitives Wirbelstrom-Messmethode<br />
Norm: DIN EN ISO 21968<br />
Mikro-Widerstand-Messmethode<br />
Norm: DIN EN 14571<br />
Wirbelströme<br />
Stromquelle<br />
I<br />
U = f(d)<br />
I<br />
Cu-Schicht d<br />
Epoxi-Basismaterial<br />
Kaschierung und<br />
Zwischenlagen<br />
galv. abgeschiedene<br />
Cu-Schichten<br />
Funktionsprinzip<br />
Das in der Sonde erzeugte hochfrequente Magnetfeld<br />
induziert in der Kupferhülse Wirbelströme, deren Magnetfeld<br />
das primäre Magnetfeld schwächt. Je dicker<br />
die Kupferhülse ist, um so stärker fällt diese Schwächung<br />
aus. Dass sich die induzierten Wirbelströme im<br />
Wesentlichen nur in der Längsachse der Kupferhülse<br />
ausbilden, wird durch eine spezielle, patentierte, Sondenausführung<br />
erreicht.<br />
Hauptanwendunsgebreiche<br />
• Elektro- und Elektronikindustrie<br />
• Leiterplattenfertigung<br />
Passende Modultypen<br />
SIGMASCOPE ® /PHASCOPE ® 2<br />
Funktionsprinzip<br />
Mit 4 Elektroden berührt die Sonde die Messobjektoberfläche.<br />
Durch die äußeren beiden Elektroden wird<br />
ein Strom in die Schicht eingespeist. Die Cu-Schicht<br />
zwischen den beiden inneren Elektroden wirkt als<br />
elektrischer Widerstand, an dem der Spannungsabfall<br />
gemessen wird. Dieser ist umgekehrt proportional<br />
der Dicke der Cu-Schicht. Das Messsignal wird im<br />
Mess- gerät über die Sondenkennlinie, dem funktionalen<br />
Zusammenhang zwischen Sondensignal und<br />
Schichtdicke, in den Schichtdickenwert umgewandelt.<br />
Die elektrische Leitfähigkeit der Cu-Schicht ist temperaturabhängig,<br />
was unter Umständen eine Temperaturkompensation<br />
notwendig macht.<br />
Hauptanwendunsgebreiche<br />
• Elektro- und Elektronikindustrie<br />
• Leiterplattenfertigung<br />
Passende Modultypen<br />
SR-SCOPE ®<br />
Hinweis<br />
Dieses Dokument beschreibt nicht alle Messmethoden.<br />
In der Broschüre „Sonden zur Schichtdickenmessung“<br />
finden Sie Beschreibungen für die folgenden<br />
Messmethoden:<br />
Magnetinduktive Messmethode<br />
Wirbelstrom-Messmethoden<br />
Magnetische Messmethode<br />
Duplex-Messungen<br />
10<br />
FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2
Betarückstreu-Messmethode<br />
Norm: DIN EN ISO 3543, ASTM B567a<br />
Betatransmissionsmethode<br />
Norm: DIN EN ISO 3543, ASTM B567a<br />
Messsignal zum<br />
MMS ® <strong>PC</strong>2<br />
Strahlungsdetektor<br />
(Geiger-Müller-Röhre)<br />
Strahlungsdetektor<br />
(Geiger-Müller-Röhre)<br />
dünner Werkstoff<br />
(Absorber)<br />
rückgestreute Betateilchen<br />
(Sekundärstrahlung)<br />
Betastrahler<br />
(Primärstrahlung)<br />
d<br />
Betateilchen<br />
Isotop<br />
Messtischgehäuse<br />
Isotopenhalter<br />
Schichtdicke d<br />
Juwelring ® Blende<br />
Grundwerkstoff<br />
Funktionsprinzip<br />
Eine Isotopenquelle sendet Betastrahlen (Elektronen)<br />
aus. Diese dringen in die Oberfläche des beschichteten<br />
Werkstücks ein und treten in Wechselwirkung mit<br />
den Atomen des Schicht- und Grundwerkstoffes. Der<br />
Messeffekt besteht in der Anzahl der rückgestreuten<br />
Elektronen, die mit einer Geiger-Müller-Zählröhre<br />
erfasst werden. Die Schichtdicke lässt sich mit diesem<br />
Verfahren bestimmen, wenn sich die Ordnungszahlen<br />
Z des Schicht- und Grundwerkstoffes um mindestens<br />
Z = 5 unterscheiden.<br />
Hauptanwendunsgebreiche<br />
• Leiterplatten- und Elektronikindustrie<br />
• Automobilindustrie<br />
• Konsumgüterindustrie<br />
Funktionsprinzip<br />
Analog dem Betarückstreu-Messverfahren sendet eine<br />
Isotopenquelle Betastrahlen (Elektronen) aus, die von<br />
der Geiger-Müller-Zählröhre erfasst werden. Bringt<br />
man nun einen dünnen Werkstoff, z. B. eine Folie oder<br />
ein Gewebe, in den Strahlengang, wird ein Teil der<br />
Strahlung vom Werkstoff absorbiert. Die Anzahl der<br />
durchgelassenen Elektronen werden von der Geiger-<br />
Müller-Zählröhre gezählt. Im Vergleich mit einem<br />
Referenzteil sind so Änderungen der Flächenmasse<br />
bzw. Schichtdicke messtechnisch erfassbar.<br />
Hauptanwendunsgebreiche<br />
• Dickenkontrolle von Folien<br />
• Bestimmung der Gleichmäßigkeit von Tüchern und<br />
Geweben<br />
• Druckindustrie<br />
Passende Modultypen<br />
BETASCOPE ®<br />
Passende Modultypen<br />
BETASCOPE ®<br />
11
Zubehör<br />
Stativ V12 BASE<br />
Stativ mit manueller Sondenabsenkung. Das<br />
Stativ besitzt eine spezielle Hebelmechanik, die<br />
die Absenkgeschwindigkeit kurz vor dem Aufsetzen<br />
abbremst, wodurch die Sonde sanft auf die Prüfteiloberfläche<br />
aufsetzt.<br />
Stativ V12 MOT<br />
Stativ mit motorischer Sondenabsenkung für höchste<br />
Wiederholpräzision. Steuerung direkt am Stativ oder<br />
über das Messgerät FISCHERSCOPE MMS <strong>PC</strong>2. Die<br />
Teach-In-Funktion gewährleistet ein sanftes Aufsetzen<br />
der Sonde auf die Prüfteiloberfläche.<br />
Schraubenmessvorrichtung<br />
Zur präziesen Messung von Beschichtungsdicken auf<br />
metallischen Verbindungselementen.<br />
Tubenmessplatz TM85<br />
Zur Messung der Lackschichtdicke am Innen- oder<br />
Außenmantel von Aluminiumtuben und -dosen.<br />
Kolbenringmesstisch V4EKB4<br />
Zur Messung von z. B. Chromschichten auf Kolbenoder<br />
Ölabstreifringen.<br />
12<br />
FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2
Zubehör BETASCOPE ®<br />
Universalmesstisch Z6NG und Ergänzungsbausatz<br />
Für Kleinteile mit Andruckvorrichtung.<br />
Handmesssonde Z15NG<br />
Zur Messung dünner Schichten (z. B. Öl- und<br />
Schmierfilmen), auch auf zylindrischen Teilen.<br />
Messtisch Z14NG<br />
Zur Schichtdickenmessung auf Kleinteilen mit<br />
Universalandruckvorrichtung.<br />
Handmesssonde Z9NG<br />
Zur Schichtdickenmessung auf z. B. Armaturen,<br />
Leiterplatten, Blechen usw.<br />
Winkelmesssonde Z11NG im Messstativ V12<br />
Zur Schichtdickenmessung in Hülsen, Rohren, Lagerschalen<br />
usw. ab 32 mm Durchmesser.<br />
Innenlochsonde Z3NG zur Messung in Bohrungen.<br />
Aufsetzsonde Z3NG-A zur Messung auf sehr kleinen<br />
Messflächen.<br />
13
Bestellin<strong>for</strong>mationen<br />
Messgerät FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2 Steckplätze Bestell-Nummer<br />
FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2 Grundeinheit<br />
mit LAN, USB, RS232- und Multifunktionsanschluss, Windows ® CE basierter Programmsoftware,<br />
Netzadapter (220 Vac/12 Vdc), Software FISCHER DataCenter und <strong>PC</strong>-Datex<br />
8 freie 604-355<br />
Eine Beschreibung der Modulkarten/Anwendungsbereiche finden Sie auf Seite 8.<br />
Modulkarten<br />
anschließbare<br />
Sonden/Messtische<br />
notwendige<br />
Steckplätze<br />
Bestell-Nummer<br />
Modulkarte F-MODUL PERMASCOPE ®<br />
zur Aufrüstung einer FISCHERSCOPE MMS <strong>PC</strong>2 Grundeinheit<br />
für die Schichtdickenmessung nach magnetinduktiver und<br />
Wirbelstrom-Methode, inkl. Anschlussbuchse für Messsonden<br />
mit robustem, 10-poligem Stecker (vom Typ "F").<br />
Für den Anschluss der E-Sonden bestellen Sie die Modulkarte<br />
PERMASCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>, Bestell-Nummer 603-382<br />
alle magnetindukt. F-Sonden<br />
alle Wirbelstrom-F-Sonden<br />
alle Dualsonden (FD13H, FDX13H)<br />
alle FGAB1.3*Fe-Sonden<br />
1 604-293<br />
Modulkarte NICKELSCOPE ®<br />
für die Schichtdickenmessung nach dem<br />
magnetischen Messverfahren.<br />
Sonden des Typs EN3 1 603-383<br />
Modulkarte BETASCOPE ®<br />
für die Schichtdickenmessung nach dem<br />
Betarückstreu-Messverfahren<br />
Z6NG, Z9NG, Z11NG<br />
mit allen Strahlern, Z15NG<br />
2 603-384<br />
Modulkarte SR-SCOPE ®<br />
für die Kupferdickenmessung auf Leiterplatten nach dem<br />
elektrischen Mikro-Widerstand-Messverfahren<br />
ERCU D10<br />
ERCU N<br />
1 603-385<br />
Modulkarte SIGMASCOPE ® /PHASCOPE ® 1<br />
für die Messung der Schicktdicke und der elektrischen Leitfähigkeit<br />
nach dem phasensensitiven Wirbelstrom-Messverfahren.<br />
Messfrequenzen: 60, 120, 240, 480 und 1250 kHz<br />
Modulkarte SIGMASCOPE ® /PHASCOPE ® 2<br />
für Messungen der Kupferdicke in Leiterplattenbohrungen.<br />
Modulkarte arbeitet nur in Verbindung mit der Modulkarte<br />
SIGMASCOPE ® /PHASCOPE ® 1<br />
ESD20Zn (Zn/Fe; Cu/Fe)<br />
ESD20Cu, ESD20Ni, ESD2.4<br />
ES40, ES40HF<br />
ES20, ES24<br />
ESL080B<br />
ESL080V<br />
2 603-592<br />
1 (3) 603-625<br />
Modulkarte PHASCOPE ® DUPLEX<br />
für die Schichtdickenmessung nach dem magnetinduktiven<br />
Messverfahren, amplitudensensitiven und phasensensitiven<br />
Wirbelstrom-Messverfahren<br />
Modulkarte TEMPERATURE<br />
für die Temperaturmessung mit dem Temperaturfühler TF100A<br />
in Verbindung mit den Modulkarten BETASCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong><br />
und SR-SCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong><br />
DIGITALES I/O-Modul<br />
Schnittstellenmodul für MMS <strong>PC</strong>2, für SPS, galvanisch getrennt,<br />
Pegel 24 V<br />
ESG20 1 603-730<br />
Temperaturfühler TF100A 1 603-390<br />
1 604-426<br />
14<br />
FISCHERSCOPE ® MMS ® <strong>PC</strong>2
Zubehör allgemein<br />
Bestell-Nummer<br />
Messstativ V12 BASE 604-420<br />
Messstativ V12 MOT; vom MMS <strong>PC</strong>2 aus steuerbares Messstativ für motorische Sondenbewegung 604-374<br />
USB-Anschluss-Kabel für Drucker und Messstativ V12 MOT 603-398<br />
Interfacekabel ActiveSync; für den Datenaustausch über die RS232-Schnittstelle zwischen MMS <strong>PC</strong>2<br />
und einem <strong>PC</strong><br />
603-396<br />
Interfacekabel LAN RJ45; für die Anbindung des MMS <strong>PC</strong>2 an ein Netzwerk 603-397<br />
Interfacekabel LAN RJ45 gekreuzt; für die Anbindung des MMS <strong>PC</strong>2 an einen <strong>PC</strong> mit LAN-Anschluss 603-400<br />
Fußtaster; zur externen Auslösung der Messwerterfassung. Anschluss an den Extern-Start-Anschluss des<br />
MMS <strong>PC</strong>2<br />
Ersatzteile<br />
600-152<br />
Bestell-Nummer<br />
Soft Pencil MMS <strong>PC</strong>2 603-857<br />
Steckernetzteil MMS <strong>PC</strong>2 100 – 240 V 603-480<br />
Sonden<br />
Bestell-Nummer<br />
Gerne unterstützen wir Sie, die passende Sonde für Ihre Messaufgabe aus unserem umfangreichen<br />
Sondenprogramm auszuwählen.<br />
Zubehör Modulkarte BETASCOPE ®<br />
Bestell-Nummer<br />
Universal-Messtisch Z6NG* 602-261<br />
Messtisch Z14NG* 602-250<br />
Handmesssonde Z9NG* 600-460<br />
Winkelmesssonde Z11NG* 600-471<br />
Handmesssonde Z15NG; nur passend für Beta-Strahler C-14 602-789<br />
Innenlochsonde Z3NG 600-456<br />
Aufsetzsonde Z3NG-A 600-458<br />
Ergänzungsbausatz für Universal-Messtisch Z6NG 602-371<br />
Adapter Beta 32 mm; Adapter für Messtisch Z6NG zur Aufnahme von Strahler und Blendring 600-550<br />
Zentriervorrichtung für Handmesssonde Z9NG 600-461<br />
* Gewünschten Beta-Strahler aus nachfolgender Tabelle auswählen<br />
Strahler für Beta-Sonden und -Messtische<br />
Nachfolgend sind alle standardmäßig verfügbaren Strahler aufgeführt. Weitere Blendringe sowie Sonderausführungen auf Anfrage<br />
Bestell-Nummer<br />
Bezeichnung Blendringöffnung Energie Halbwertzeit<br />
PM-147<br />
TI-204<br />
ø 0,63 mm<br />
600-488<br />
0,22 MeV 2,65 Jahre<br />
0,63 x 1,2 mm 600-489<br />
ø 0,63 mm<br />
600-490<br />
0,76 MeV 3,65 Jahre<br />
0,63 x 1,2 mm 600-491<br />
SR-90 ø 1,6 mm 2,27 MeV 28 Jahre 600-492<br />
C-14 ø 20 mm 0,156 MeV 5680 Jahre 600-493<br />
15
FISCHER weltweit<br />
Helmut Fischer GmbH<br />
Institut für Elektronik und Messtechnik<br />
71069 Sindelfingen, Germany<br />
Tel. +49 70 31 30 30<br />
mail@helmut-fischer.de<br />
Fischer Instrumentation (GB) Ltd<br />
Lymington, Hampshire SO41 8JD, England<br />
Tel. +44 15 90 68 41 00<br />
mail@fischergb.co.uk<br />
Fischer Technology, Inc.<br />
Windsor, CT 06095, USA<br />
Tel. 1 (860) 683-0781<br />
info@fischer-technology.com<br />
Helmut Fischer S. de R.L. de C.V.<br />
76230 Querétaro, QRO, Mexico<br />
Tel. +521 (442)190-9988<br />
hhuerta@fischer-technology.com<br />
Helmut Fischer AG<br />
CH-6331 Hünenberg, Switzerland<br />
Tel. +41 41 785 08 00<br />
switzerland@helmutfischer.com<br />
Fischer Instrumentation Electronique<br />
78180 Montigny le Bretonneux, France<br />
Tel. +33 1 30 58 00 58<br />
france@helmutfischer.com<br />
Helmut Fischer S.R.L.<br />
20099 Sesto San Giovanni (Milano), Italy<br />
Tel. +39 0 22 55 26 26<br />
italy@helmutfischer.com<br />
Fischer Instruments, S.A.<br />
08018 Barcelona, Spain<br />
Tel. +34 9 33 09 79 16<br />
spain@helmutfischer.com<br />
Helmut Fischer Meettechniek B.V.<br />
5627 GB Eindhoven, <strong>The</strong> Netherlands<br />
Tel. +31 40 248 22 55<br />
netherlands@helmutfischer.com<br />
Fischer do Brasil<br />
04561-001 São Paulo, Brazil<br />
Tel. +551135 88 09 09<br />
brasil@helmutfischer.com<br />
Fischer Instruments K.K.<br />
Saitama-ken 340-0012, Japan<br />
Tel. +81 4 89 29 34 55<br />
japan@helmutfischer.com<br />
Nantong Fischer Instrumentation Ltd<br />
Shanghai 200333, P.R. China<br />
Tel. +86 21 32 51 31 31<br />
china@helmutfischer.com<br />
Fischer Instrumentation (Far East) Ltd<br />
Kwai Chung, N.T., Hong Kong<br />
Tel. +852 24 20 11 00<br />
hongkong@helmutfischer.com<br />
Fischer Measurement Technologies (India) Pvt. Ltd<br />
Pune 411036, India<br />
Tel. +91 20 26 82 20 65<br />
india@helmutfischer.com<br />
Fischer Instrumentation (S) Pte Ltd<br />
Singapore 658065, Singapore<br />
Tel. +65 62 76 67 76<br />
singapore@helmutfischer.com<br />
Helmut Fischer Korea Co., Ltd<br />
Seoul City, Republic of Korea<br />
Tel. +8210 34 73 12 80<br />
korea@helmutfischer.com<br />
www.helmut-fischer.com<br />
901-102 04/13 09-12<br />
Schichtdicke Materialanalyse Mikrohärte Werkstoffprüfung