EF 2014/2015
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Rubriken<br />
Inhalt<br />
In dieser Ausgabe:<br />
Messtechnik:<br />
Herausgeber und Verlag:<br />
Emissionsmessungen mit dem TDEMI X - schnell,<br />
genau und unkompliziert<br />
beam-Verlag<br />
Pf. 1167, 35001 Marburg<br />
Tel.: 06421/9614-0<br />
Fax: 06421/9614-23<br />
www.beam-verlag.de<br />
Druck:<br />
Strube Druck & Medien OHG<br />
Erscheinungsweise:<br />
1 x jährlich<br />
Hinweis:<br />
Alle Eintragungen im HF-Praxis<br />
Einkaufsführer wurden nach Firmenangaben<br />
vorgenommen. Für<br />
eventuelle Fehler kann der Verlag<br />
daher keine Haftung übernehmen.<br />
Der beam-Verlag übernimmt trotz<br />
sorgsamer Prüfung der Texte durch<br />
die Redaktion keine Haftung für<br />
deren inhaltliche Richtigkeit. Handels-<br />
und Gebrauchsnamen, sowie<br />
Warenbezeichnungen und dergleichen<br />
werden in der Zeitschrift ohne<br />
Kennzeichnungen verwendet. Dies<br />
berechtigt nicht zu der Annahme,<br />
dass diese Namen im Sinne der<br />
Warenzeichen- und Markenschutzgesetzgebung<br />
als frei zu betrachten<br />
sind und von jedermann ohne<br />
Kennzeichnung verwendet werden<br />
dürfen.<br />
Rubriken:<br />
Inhalt/Impressum . . . . . . . . . . . . . . 4<br />
Messtechnik . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6<br />
Mit modernen Messgeräten, wie z.B. dem TDEMI X von Gauss, können Scanzeiten<br />
von mehreren Stunden zum Teil auf wenige Sekunden reduziert werden, um ein normgerechtes<br />
Ergebnis zu erhalten. Dies wird technologisch durch leistungsfähigste Analog-<br />
Digital-Wandler und FPGAs mit hoher Parallelisierung erreicht. 6<br />
EMC Pre-Compliance Test-Lösungen<br />
Jeder Hersteller muss für<br />
den Export sicherstellen,<br />
dass elektronische und<br />
elektromechanische Produkte<br />
den Normen des<br />
jeweiligen Landes genügen.<br />
Kennzeichnungen<br />
wie CE, FCC oder CCC<br />
werden nach bestandenen<br />
Zulassungstest vergeben.<br />
Der Bericht von Rigol<br />
verdeutlicht die Möglichkeiten<br />
von Pre-Compliance-Tests.<br />
12<br />
HF-Technik:<br />
Frequenz- und Zeitbereichsvalidierung eines<br />
nichtlinearen Modells für eine Step-Recovery-Diode<br />
HF-Technik . . . . . . . . . . . . . . . . . 16<br />
Messgeräte . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20<br />
Mikirowellentechnik . . . . . . . . . . 28<br />
Produktindex . . . . . . . . . . . . . . . . 31<br />
Produkte und Lieferanten. . . . . . . 34<br />
Wer vertritt Wen? . . . . . . . . . . . . . 66<br />
Firmenverzeichnis . . . . . . . . . . . . 81<br />
Step-Recovery-Dioden (SRD), auch<br />
Snap-Off-Dioden, Speicherschalt-<br />
Dioden oder Ladungsspeicher-Dioden<br />
genannt, werden häufig in Frequenzvervielfachern<br />
(Kamm-Generatoren)<br />
und in Wave-Shaping-Anwendungen<br />
für breitbandige Pulsgeneratoren verwendet.<br />
16<br />
4 HF-Einkaufsführer <strong>2014</strong>/<strong>2015</strong>
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