7-2013

Messtechnik/Aktuelles
NI veröffentlicht Technologieausblick 2013 zu
aktuellen Trends im „Automatisierten Testen“
Der „Technologieausblick 2013
- Automatisiertes Testen“ gibt
einen Überblick über aktuelle
Geschäftsstrategien, Systemarchitekturen,
Datenverarbeitung,
Software und I/O, die
sich gegenwärtig und zukünftig
auf die Elektronikindustrie
auswirken.
National Instruments profitiert
von jahrzehntelanger Erfahrung
im Bereich der automatisierten
Testanwendungen bei der Prognostizierung
von Trends, die
sich aus langjährigen Geschäftsbeziehungen
des Unternehmens,
internem Fachwissen und der
Forschungsarbeit von Drittanbietern
ergeben.
Im „Technologieausblick 2013 -
Automatisiertes Testen“ stellt NI
Forschungsergebnisse zu aktuellen
Mess- und Prüftechnologien
sowie -methoden vorstellt.
In diesem Technologieausblick
werden die Trends untersucht,
die sich auf Branchen wie die
Luft- und Raumfahrt, das Verteidigungswesen,
die Automobilindustrie,
die Unterhaltungselektronik,
die Halbleiterindustrie,
die Telekommunikation und
das Transportwesen auswirken.
Ingenieure und Abteilungsleiter
können mit diesem Bericht von
den neuesten Strategien und
besten Vorgehensweisen für die
Optimierung einer Prüfabteilung
profitieren.
Der Technologieausblick 2013
- Automatisiertes Testen deckt
folgende Themen ab:
- Testrentabilität: Aufgrund
neuer lnvestitionsmodelle
müssen Testabteilungen die
Art und Weise überdenken, in
der sie Erfolg messen.
- Big Analog Data: Führende
Unternehmen der Branche
nutzen bestehende IT-Infrastrukturen
und analytische
Werkzeuge, um Testdaten
schneller auszuwerten und
Entscheidungen treffen zu
können.
- Softwarezentrierte Ökosysteme:
Offene, softwarezentrierte
Ökosysteme haben
einen großen Einfluss auf den
Wert, der sich mit automatisierten
Testsystemen erreichen
lässt.
- Aktualität der Testsoftware:
Ingenieure setzen beste Vorgehensweisen
zur Softwareentwicklung
ein, um die Verlässlichkeit
des Testsystems
auch bei komplexen Systemen
sicherzustellen.
- Moore‘sches Gesetz im RF-
Bereich: Neue Technologieund
Messgeräteplattformen
erhöhen die Leistungsfähigkeit
und senken die Kosten
für RF-Testausrüstung.
Der „Technologieausblick —
Automatisiertes Testen“ basiert
zum einen auf Lösungsansätzen
aus den Bereichen Industrie,
Wirtschaft, Forschung und
Lehre, zum anderen auf Angaben
aus Anwenderforen und
Umfragen.
Auf Grundlage dieser Daten
gibt der Technologieausblick
eine umfassende Übersicht über
die neuen Trends, mit denen die
geschäftlichen und technologischen
Herausforderungen im
Mess- und Prüfbereich bewältigt
werden können. Der „Technologieausblick
2013 — Automatisiertes
Testen“ kann unter
www.ni.com/ato heruntergeladen
werden.
■ National Instruments
www.ni.com
Peregrine stellt STeP8 UItraCMOS-Prozesstechnologie vor
Die neueste Generation der UItraCMOS-
Prozesstechnologie ermöglicht bisher unerreichte
Eigenschaften in HF-Frontend-ICs.
Die Semiconductor Technologie Plattform
8 (STeP8) bringt 36% Verbesserung beim
RonCoff-Verhalten gegenüber der STeP-
5Technologie, die im letzten Jahr vorgestellt
wurde.
Linearität, Einfügedämpfung und Isolation
der HF-ICs konnten grundlegend verbessert
werden. Flaggschiff-Komponenten der
neuesten Generation dieser UItraCMOS-
Technologie sind zum Beispiel der durch
HaRP verbesserte SP16T-HF-Schalter und
ein hochintegrierter, durch DuNE verbesserter,
SP4T-Antennenabstimmschalter -
beide als Muster erhältlich.
Der anfangs auf STeP8 basierende SP16T-
HF-Schalter ist gegenüber den in der
Industrie führenden STeP-5-basierten Entsprechungen
um nahezu 40% geschrumpft.
Der SP4T Antennenabstimmschalter hat
einen Durchlasswiderstand von 1,5 Ohm
und eine Einfügedämpfung von 0,15 dB
bei 900 MHz, eine Verbesserung um 66%
im Vergleich zu den Vorgängern.
Das 4G-LTE-Netz hat außerordentliche
Herausforderungen im Bereich der HF-
Frontends von Smartphones hervorgebracht,
auch in Bezug auf das fragmentierte
HF-Spektrum, was die Koexistenz
zwischen den Bändern und weiteren Konnektivitätsstandards
wie GPS, WiFi und
Bluetooth bedingt. Der Mangel einer globalen
Frequenzangleichung hat daher zu
mehr als 40 LTE-Bändern geführt.
Um eine beständige und zuverlässige
Funktion innerhalb der LTE-Umgebung zu
gewährleisten, sind in den HF-Frontends
qualitativ hochwertige Komponenten mit
kleinem Formfaktor gefragt.
Hochintegrierte HF-Frontendmodule, wie
UItraCMOS-STeP8, entsprechen diesen
Anforderungen, indem sie eine ideale
Kombination von hoher Linearität und
geringer Einfügedämpfung in einer einzigen,
monolithisch-integrierten Komponente
darstellen.
Ausgewählte Kunden können Muster des
STeP8-basierten Schalters SP16T RF und
des Antennenabstimmschalters SP4T ab
sofort anfordern.
■ Peregrine
www.psemi.com
22 hf-praxis 7/2013