Entwicklung einer Nanotechnologie-Plattform für die ... - JuSER
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5 HERSTELLUNG VON CROSSBAR-STRUKTUREN<br />
Integration von resistiv schaltendem TiO 2 der Fall (vgl. Kapitel 3.1). Bei der<br />
Herstellung von Crossbar-Elementen, bei denen oxi<strong>die</strong>rbare Metalle benötigt wurden,<br />
fiel <strong>die</strong> Wahl auf einen Metallstapel aus 50 nm Ag, worauf 10 nm Pt deponiert wurde.<br />
Das Pt <strong>die</strong>nte dem Schutz des Ag bei der späteren elektrischen Kontaktierung. Die<br />
Verwendung von Ag bedarf es beispielsweise bei der Herstellung resistiv schaltender<br />
GeSe- oder SiO 2 -Speicher (vgl. Kapitel 3.1).<br />
Die Herstellungsprozesse beider Top-Elektroden-Arten waren unter der Verwendung<br />
jener Metalle gleich. Lediglich <strong>die</strong> Ätzzeit der Metallstrukturierung variierte<br />
geringfügig (siehe Prozessparameter Anhang), was jedoch in der Elektrodenform keinen<br />
signifikanten Unterschied ausmachte. Abbildung 5.9 zeigt den Prozessablauf zur<br />
Herstellung der Top-Elektroden.<br />
a) b)<br />
c) d)<br />
Abbildung 5.9:<br />
Prozessablauf der<br />
Top-Elektroden:<br />
a) UV-Lack auf<br />
deponiertem Top-<br />
Metall<br />
b) UV NIL,<br />
c) Residual Ätzschritt,<br />
d) Metall-<br />
Strukturierung.<br />
Auf <strong>die</strong> planarisierten Bottom-Elektroden wurde das Metall der Top-Elektroden<br />
deponiert. Auf <strong>die</strong> Abscheidung des funktionalen Speichermaterials wurde an <strong>die</strong>ser<br />
Stelle verzichtet, da zunächst <strong>die</strong> Herstellung der reinen Crossbar-Architektur, welche<br />
als Integrations-<strong>Plattform</strong> sämtlicher Materialen <strong>die</strong>nen sollte, im Fokus stand. Nach der<br />
Top-Metallisierung wurde der UV-Lack <strong>für</strong> den Nanoimprint in gleicher Weise wie <strong>für</strong><br />
<strong>die</strong> Bottom-Elektroden aufgeschleudert (Abbildung 5.9 a). Mit Hilfe des Mask-Aligners<br />
erfolgte <strong>die</strong> Ausrichtung des Imprint-Stempels bezüglich der Bottom-Elektroden<br />
(Abbildung 5.9 b). Die Prozessparameter der anschließenden Nanoimprint-Lithographie<br />
zur Strukturierung des Lacks waren <strong>die</strong> gleichen wie bei der Herstellung der Bottom-<br />
Elektroden. Nach dem Imprint und der Separation von Stempel und Substrat wurde der<br />
Residual-Layer in einem CF 4 -Prozess entfernt (Abbildung 5.9 c). Abschließend wurden<br />
<strong>die</strong> Lackstrukturen in das darunter liegende Metall mit Hilfe eines Ar-Sputterprozesses<br />
übertragen (Abbildung 5.9 d). Es entstanden orthogonal gekreuzte Linien, Crossbar-<br />
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