Entwicklung einer Nanotechnologie-Plattform für die ... - JuSER
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4 DIE HERSTELLUNGSTECHNOLOGIEN<br />
und <strong>die</strong> Stabilisierung des Plasmas werden üblicherweise bei höheren Leistungen<br />
durchgeführt, als sie bei dem anschließenden Ätzprozess benötigt werden.<br />
U B und U A bezeichnen <strong>die</strong> beiden elektrischen Spannungen, <strong>die</strong> an <strong>die</strong> beiden Gitter<br />
relativ zum Massepotential angelegt werden. Abbildung 4.6 zeigt <strong>die</strong> Gitterandordnung<br />
und den Potentialverlauf, dem <strong>die</strong> Ionen auf dem Weg von der Plasmaquelle bis zum<br />
Wafer durch <strong>die</strong> beiden Gitter hindurch folgen.<br />
Plasma<br />
Fokusgitter - U B<br />
Ar + Ar +<br />
Wafer<br />
Beam<br />
Potential<br />
Beschleunigungsgitter - U A<br />
Accelerator<br />
Potential<br />
Abbildung 4.6: Gitteranordnung und Potentialverlauf des Ionenstrahl-Verfahrens.<br />
U B ist eine positive Spannung, deren Wert ein wenig unterhalb des Plasmapotentials<br />
liegt. Durch <strong>die</strong> Strahlspannung erhalten <strong>die</strong> Ionen <strong>die</strong> kinetische Komponente, um in<br />
<strong>die</strong> Richtung der Probe, welche auf Nullpotential liegt, beschleunigt zu werden. U A ist<br />
eine negative Spannung, <strong>die</strong> das Extrahieren der Ionen aus der Quelle unterstützt. Die<br />
Differenz beider Spannungen U B - U A ergibt <strong>die</strong> vollständige Extraktionsspannung U ext<br />
der Ionen aus der Quelle. Nicht zu verwechseln ist U ext jedoch mit der Spannung,<br />
welche <strong>die</strong> kinetische Energie der auf dem Wafer eintreffenden Ionen und somit <strong>die</strong><br />
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