Entwicklung einer Nanotechnologie-Plattform für die ... - JuSER
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7 DIE MEHRLAGEN-ARCHITEKTUR<br />
10 nm dicke Ag-Schicht aufgedampft (Abbildung 7.4 b). In einem 450°C-<br />
Temperaturprozess wurde dann <strong>die</strong> MSQ-Schicht mit Ag unter N 2 -Atmosphäre dotiert<br />
(Abbildung 7.4 c). Anschließend wurde <strong>die</strong> Ag-Schicht in einem Ar-RIBE-Prozess<br />
wieder entfernt (Abbildung 7.4 d) und 30 nm hohe Pt-Elektroden auf <strong>die</strong> Ag-dotierte<br />
MSQ-Schicht aufgebracht (Abbildung 7.4 d). Die Strukturierung der Elektroden konnte<br />
darin mittels Nanoimprint- oder optischer Lithographie durchgeführt werden.<br />
Strom [μA]<br />
110<br />
90<br />
70<br />
50<br />
30<br />
10<br />
-10<br />
ON<br />
0 0,5 1 1,5 2<br />
Spannung [V]<br />
Strom [μA]<br />
700<br />
600<br />
500<br />
400<br />
300<br />
200<br />
100<br />
0<br />
-100<br />
OFF<br />
0 0,5 1 1,5 2<br />
Spannung [V]<br />
Strom [μA]<br />
700<br />
500<br />
300<br />
100<br />
-100<br />
-300<br />
-500<br />
-700<br />
a)<br />
OFF<br />
ON<br />
-2 -1 0 1 2<br />
Spannung [V]<br />
b)<br />
Abbildung 7.5:<br />
Resistives Schalten in Pt/Ag-MSQ/Pt-<br />
Zellen.<br />
a) SET mit positiver Spannungspolarität<br />
und <strong>einer</strong> Strombegrenzung<br />
von 100 µA,<br />
b) RESET mit positiver Spannungspolarität<br />
und k<strong>einer</strong> Strombegrenzung,<br />
c) Unipolares Schalten mit sowohl<br />
positiven als auch negativen<br />
Spannungen.<br />
c)<br />
Für <strong>die</strong> elektrische Charakterisierung der Pt/Ag-MSQ/Pt-Crossbars wurden<br />
quasistatische Messungen eingesetzt. Abbildung 7.5 zeigt beispielhafte I(U)-<br />
Kennlinien, <strong>die</strong> an <strong>einer</strong> 3 x 3 µm 2 -Einzelkreuzstruktur aufgenommen wurden. Erhöht<br />
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