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Entwicklung einer Nanotechnologie-Plattform für die ... - JuSER

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7 DIE MEHRLAGEN-ARCHITEKTUR<br />

10 nm dicke Ag-Schicht aufgedampft (Abbildung 7.4 b). In einem 450°C-<br />

Temperaturprozess wurde dann <strong>die</strong> MSQ-Schicht mit Ag unter N 2 -Atmosphäre dotiert<br />

(Abbildung 7.4 c). Anschließend wurde <strong>die</strong> Ag-Schicht in einem Ar-RIBE-Prozess<br />

wieder entfernt (Abbildung 7.4 d) und 30 nm hohe Pt-Elektroden auf <strong>die</strong> Ag-dotierte<br />

MSQ-Schicht aufgebracht (Abbildung 7.4 d). Die Strukturierung der Elektroden konnte<br />

darin mittels Nanoimprint- oder optischer Lithographie durchgeführt werden.<br />

Strom [μA]<br />

110<br />

90<br />

70<br />

50<br />

30<br />

10<br />

-10<br />

ON<br />

0 0,5 1 1,5 2<br />

Spannung [V]<br />

Strom [μA]<br />

700<br />

600<br />

500<br />

400<br />

300<br />

200<br />

100<br />

0<br />

-100<br />

OFF<br />

0 0,5 1 1,5 2<br />

Spannung [V]<br />

Strom [μA]<br />

700<br />

500<br />

300<br />

100<br />

-100<br />

-300<br />

-500<br />

-700<br />

a)<br />

OFF<br />

ON<br />

-2 -1 0 1 2<br />

Spannung [V]<br />

b)<br />

Abbildung 7.5:<br />

Resistives Schalten in Pt/Ag-MSQ/Pt-<br />

Zellen.<br />

a) SET mit positiver Spannungspolarität<br />

und <strong>einer</strong> Strombegrenzung<br />

von 100 µA,<br />

b) RESET mit positiver Spannungspolarität<br />

und k<strong>einer</strong> Strombegrenzung,<br />

c) Unipolares Schalten mit sowohl<br />

positiven als auch negativen<br />

Spannungen.<br />

c)<br />

Für <strong>die</strong> elektrische Charakterisierung der Pt/Ag-MSQ/Pt-Crossbars wurden<br />

quasistatische Messungen eingesetzt. Abbildung 7.5 zeigt beispielhafte I(U)-<br />

Kennlinien, <strong>die</strong> an <strong>einer</strong> 3 x 3 µm 2 -Einzelkreuzstruktur aufgenommen wurden. Erhöht<br />

116

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