Katalog - OEK - OVE
Katalog - OEK - OVE
Katalog - OEK - OVE
Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.
YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.
<strong>Katalog</strong><br />
Österreichische Bestimmungen für die Elektrotechnik<br />
Ausgabe: 2013-01<br />
Norm Titel Preis in €*<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60749-39:2007-<br />
03-01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60749-4:2003-10-<br />
01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60749-40:2012-<br />
04-01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60749-5:2003-10-<br />
01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60749-6:2003-10-<br />
01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60749-7:2012-04-<br />
01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60749-8:2004-01-<br />
01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60749-9:2003-10-<br />
01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60751:2009-06-<br />
01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60758:2009-06-<br />
01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60761-1:2005-07-<br />
01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60761-2:2005-07-<br />
01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60761-3:2005-07-<br />
01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60761-4:2005-07-<br />
01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60761-5:2005-07-<br />
01<br />
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil<br />
39: Messung des Feuchtediffusionskoeffizienten und der Wasserlöslichkeit in<br />
organischen Werkstoffen, welche bei Halbleiter-Komponenten verwendet<br />
werden<br />
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil<br />
4: Feuchte Wärme, konstant, Prüfung mit hochbeschleunigter Wirkung<br />
(HAST)<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60749+A1+A2:2002-11-01<br />
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil<br />
40: Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von<br />
Dehnungsmessstreifen<br />
Halbleiterbauelemente -- Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil<br />
5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter<br />
elektrischer Beanspruchung<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60749+A1+A2:2002-11-01<br />
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil<br />
6: Lagerung bei hoher Temperatur<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60749+A1+A2:2002-11-01<br />
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil<br />
7: Messung des inneren Feuchtegehaltes und Analyse von anderen<br />
Restgasen<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60749-7:2003-10-01<br />
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil<br />
8: Dichtheit<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60749:1999 + A1:2001-11-01<br />
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil<br />
9: Beständigkeit der Kennzeichnung<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60749+A1+A2:2002-11-01<br />
Industrielle Platin-Widerstandsthermometer und Platin-Temperatursensoren<br />
Ersatz für: ÖVE EN 60751:1995<br />
Ersatz für: ÖVE EN 60751/A2:1995<br />
Synthetischer Quarzkristall - Festlegungen und Leitfaden für die Anwendung<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60758:2005-10-01<br />
Einrichtungen zur kontinuierlichen Überwachung von Radioaktivität in<br />
gasförmigen Ableitungen -- Teil 1: Allgemeine Anforderungen<br />
Einrichtungen zur kontinuierlichen Überwachung von Radioaktivität in<br />
gasförmigen Ableitungen -- Teil 2: Besondere Anforderungen an Monitore<br />
für radioaktive Aerosole einschließlich Transuranaerosole<br />
Einrichtungen zur kontinuierlichen Überwachung von Radioaktivität in<br />
gasförmigen Ableitungen -- Teil 3: Besondere Anforderungen an Monitore<br />
für radioaktive Edelgase<br />
Einrichtungen zur kontinuierlichen Überwachung von Radioaktivität in<br />
gasförmigen Ableitungen -- Teil 4: Besondere Anforderungen an Monitore<br />
für radioaktives Iod<br />
Einrichtungen zur kontinuierlichen Überwachung von Radioaktivität in<br />
gasförmigen Ableitungen -- Teil 5: Besondere Anforderungen an<br />
Tritiummonitore<br />
58<br />
58<br />
110<br />
58<br />
45<br />
77<br />
89<br />
58<br />
110<br />
168<br />
77<br />
58<br />
45<br />
45<br />
45<br />
*Nettoverkaufspreis für Papierversion (elektronische Version –20%). Preisänderungen vorbehalten.<br />
PAF = Preis auf Anfrage<br />
Seite 207
Change language