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Application Manual Power Semiconductors - Deutsche ... - Semikron

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2 Grundlagen<br />

a) b)<br />

Bild 2.3.13 a) Ausschalten mit hohem Störpegel (pink) bei V CC<br />

=1200 V (V AK<br />

-gelb) und I F<br />

=400 A (grün) bei<br />

t p<br />

=0,8 µs (200 ns/Div); b) Ausschalten mit „normalem“ Störpegel (pink) bei t p<br />

=2 µs (500 ns/Div)<br />

In Bild 2.3.13 sind Schaltvorgänge bei sehr kurzer Einschaltdauer der Diode bei induktiver Last<br />

dargestellt. Es ist darin berücksichtigt, dass die tatsächliche Einschaltdauer der Diode um ca. 1 µs<br />

kürzer ist, da von der Zeitdauer t p(off)-IGBT<br />

noch die Kurzimpulsunterdrückung des Treibers und t d(off)<br />

des IGBT abgeht. Im Strom (grün) sind bei sehr kurzer Einschaltdauer Oszillationen mit hoher<br />

Amplitude zu erkennen. Der Störpegel (pink) ist nur ein relatives Maß, gemessen mit einer Leiterschleife<br />

oberhalb des Moduls. Diese hochfrequenten Oszillationen können Signale und Logikbauteile<br />

beeinflussen und den sicheren Betrieb stören. Empfohlen wird daher, Schaltsignale kürzer als<br />

3 µs für 1200 V-IGBT und als 5 µs für 1700 V zu unterdrücken.<br />

Relative disturbance level<br />

0<br />

T j = +125 C<br />

1<br />

0.9<br />

50A<br />

0.8<br />

100A<br />

0.7<br />

200A<br />

0.6<br />

400A<br />

600A<br />

0.5<br />

0.4<br />

0.3<br />

0.2<br />

0.1<br />

0<br />

1 2 3 4 5<br />

t p(off)-IGBT [µs]<br />

a) b)<br />

Relative disturbance level<br />

1<br />

0.9<br />

0.8<br />

0.7<br />

0.6<br />

0.5<br />

0.4<br />

0.3<br />

0.2<br />

0.1<br />

0<br />

T j = - 40 C<br />

50A<br />

100A<br />

200A<br />

400A<br />

600A<br />

0<br />

1 2 3 4 5<br />

t p(off)-IGBT [µs]<br />

Bild 2.3.14 Relativer Störpegel bezogen auf den Höchstwert bei 200 A und 125°C für unterschiedlich lange<br />

IGBT-Ausschaltsignale in Abhängigkeit von Strom und Temperatur (a) T j<br />

=125°C, b) T j<br />

=-40°C)<br />

Wegen der geringeren Ladungsträgerbeweglichkeit ist dieser Effekt besonders stark bei hohen<br />

Temperaturen ausgeprägt. Bei -40°C waren die gemessenen Störpegel nur noch ca. 50% von den<br />

Werten, die bei 125°C gemessen wurden. Der höchste Störpegel wurde bei ca. halbem Nennstrom<br />

(200 A) gemessen (Bild 2.3.14). Bei höheren Strömen und kürzeren Ausschaltsignalen als 2 µs<br />

waren die Verzugs- und Schaltzeiten so groß, dass die Diode nicht mehr komplett einschaltete.<br />

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