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Application Manual Power Semiconductors - Deutsche ... - Semikron

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5 Applikationshinweise für IGBT- und MOSFET-Module<br />

5.9.3.3 Schaltereigenschaften<br />

ZVS mit PT- und NPT-IGBT [74], [76], [78]<br />

spannungsloses Einschalten mit eingeprägtem di/dt<br />

Vor der Stromübernahme muss sich der IGBT im angesteuerten Zustand befinden. Da vor der<br />

Stromübernahme noch keine Leitwertmodulation in der n - -Basis erfolgt ist, reagiert der IGBT auf<br />

die di/dt-Einprägung mit einer transienten Überhöhung der Durchlassspannung und damit mit erhöhten<br />

Durchlassverlusten in diesem Zeitbereich (forward-recovery). Die Höhe der dynamischen<br />

Überspannung, die Dauer der Leitwertmodulation und damit die Verluste hängen vor allem von der<br />

Grunddotierung der n - -Basis, dem Emitterwirkungsgrad, der Trägerlebensdauer, dem di/dt, dem<br />

Schalterstromendwert (Laststrom) und der Temperatur ab.<br />

NPT-IGBT, die durch einen niedrigen Emitterwirkungsgrad und eine hohe Trägerlebensdauer gekennzeichnet<br />

sind, reagieren mit relativ geringen Vorwärtsspannungsspitzen (Bild 5.9.9a). Jedoch<br />

kann der Vorgang mehr als 10 µs dauern. Dagegen liegen die Werte der transienten Durchlassspannungsspitzen<br />

von PT-Strukturen (hoher Emitterwirkungsgrad, niedrige Trägerlebensdauer) bis um<br />

den Faktor 30...40 über den stationären Durchlasswerten. Allerdings ist der Vorgang bereits nach<br />

wenigen 100 ns abgeschlossen (Bild 5.9.9b). Die gegenläufige Tendenz zwischen Höhe der Spannung<br />

und Dauer des Vorganges führen zu einer gewissen Angleichung der Verluste von NPT- und<br />

PT-IGBT-ZVS, die insbesondere bei hohen Schaltfrequenzen einen nicht vernachlässigbaren Anteil<br />

an den Gesamtverlusten ausmachen können (Bild 5.9.10a und b).<br />

Arbeitet der Kurzschlussschutz von ZVS auf der Basis einer v CE<br />

-Erfassung und Auswertung, muss<br />

dieser während der di/dt-Einprägung ausgeblendet werden, um Fehlabschaltungen des Umrichters<br />

aus dem ordnungsgemäßen Normalbetrieb heraus zu vermeiden.<br />

Collector Current iC [A]<br />

50.4<br />

Collector Current iC [A]<br />

54<br />

33.6<br />

36<br />

16.8<br />

18<br />

Collector-Emitter-Voltage vCE [V]<br />

0<br />

10.5<br />

Collector-Emitter-Voltage vCE [V]<br />

-0.3<br />

54<br />

7<br />

36<br />

3.5<br />

18<br />

0<br />

t=500 ns/div<br />

a) b)<br />

0<br />

t=500 ns/div<br />

Bild 5.9.9 a) di/dt-Einprägung in einen 1200 V/50 A-NPT-IGBT (di/dt = 50 A/µs; i L<br />

= 50 A)<br />

b) di/dt-Einprägung in einen 1200 V/50 A-PT-IGBT (di/dt = 50 A/µs; i L<br />

= 50 A)<br />

v [V]<br />

E<br />

CEdyn<br />

ONdyn [µJ]<br />

PT-low-vCEsat<br />

PT-low-v CEsat<br />

NPT<br />

PT-high-speed<br />

PT-high-speed<br />

NPT<br />

di/dt [A/µs]<br />

a) b)<br />

di/dt [A/µs]<br />

Bild 5.9.10 a) Dynamische Durchlassspannungsamplitude von 1200 V/50 A-NPT- und PT-IGBT als Funktion<br />

vom eingeprägten di/dt (i L<br />

= 30 A)<br />

b) Verluste während der di/dt-Einprägung von 1200 V/50 A-NPT- und PT-IGBT als Funktion vom<br />

eingeprägten di/dt (i L<br />

= 30 A)<br />

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