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Application Manual Power Semiconductors - Deutsche ... - Semikron

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5 Applikationshinweise für IGBT- und MOSFET-Module<br />

5.7.3.1 Fehlerstromerkennung und -absenkung<br />

Fehlerstromerkennung<br />

Bild 5.7.9 zeigt die Schaltung eines U-Umrichters. Darin sind zunächst allgemein die Messpunkte<br />

gekennzeichnet, an denen Fehlerströme erfasst werden können.<br />

1<br />

6<br />

6 6<br />

3<br />

3 3<br />

5<br />

5<br />

5<br />

7<br />

7<br />

7<br />

2<br />

4<br />

4<br />

4<br />

Bild 5.7.9 U-Umrichter mit Messpunkten für Fehlerströme<br />

Es läßt sich folgende Zuordnung treffen:<br />

Überstrom: erkennbar an Messpunkten 1-7<br />

ZweigKurzschluss: erkennbar an Messpunkten 1-4 und 6-7<br />

LastKurzschluss: erkennbar an Messpunkten 1-7<br />

Erdschluss: erkennbar an Messpunkten 1, 3, 5, 6 oder durch Differenzbildung<br />

aus 1 und 2<br />

Für die Beherrschung von Kurzschlussströmen ist grundsätzlich ein schneller Schutz, der direkt<br />

auf der Treiberendstufe eingreift, notwendig, da der Transistorschalter innerhalb von t sc_max<br />

(typ.<br />

10 µs) nach Eintritt des Kurzschlusses ausschalten (ggf. mit aktiv gesteuerter reduzierter Schaltgeschwindigkeit)<br />

muss. Hierfür kann die Erkennung an den Messpunkten 3, 4, 5, 6, 7 erfolgen.<br />

Die Messung an den Punkten 1-5 kann mittels Messshunt oder induktiv arbeitender Messstromwandler<br />

(häufig an Punkt 5) realisiert werden.<br />

Messshunt:<br />

--<br />

einfaches Messverfahren<br />

--<br />

niederohmige (1...100 mW), induktivitätsarme Leistungsshunts erforderlich<br />

--<br />

hohe Störanfälligkeit des Messsignales<br />

--<br />

Messwerte stehen nicht potentialfrei zur Verfügung<br />

Stromsensoren:<br />

--<br />

deutlich höherer Aufwand (Kosten) im Vergleich zum Messshunt<br />

--<br />

geringere Störanfälligkeit des Messsignales im Vergleich zum Messshunt<br />

--<br />

Messwerte stehen potentialfrei zur Verfügung<br />

Die Messpunkte 6 und 7 stehen für die Fehlerstromerfassung direkt an den Klemmen des IGBT/<br />

MOSFET. Die hierfür bekannten Verfahren sind die v CEsat<br />

bzw. v DS(on)<br />

-Überwachung (indirekte Messmethode)<br />

und die Stromspiegelung bei Verwendung eines Sense-IGBT / Sense-MOSFET (direkte<br />

Messmethode). Bild 5.7.10 zeigt das Grundprinzip.<br />

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