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Application Manual Power Semiconductors - Deutsche ... - Semikron

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5 Applikationshinweise für IGBT- und MOSFET-Module<br />

--<br />

Vermeidung von Masseschleifen<br />

--<br />

Vermeidung transformatorischer und kapazitiver Kopplungen zwischen Gate- und Kollektor-/<br />

Drain-Kreis (Schwingungsneigung)<br />

In die Signalwege zur Störunterdrückung eingefügte Tiefpassfilter, Impulsformer und pulsbreitengetriggerte<br />

Flip-Flops müssen in ihren Verzögerungszeiten den höchstzulässigen Mindestimpulsdauern<br />

und den im Fehlerfall notwendigen Reaktionszeiten Rechnung tragen.<br />

Für ergänzende Informationen vgl. [AN3].<br />

5.6.4 Schutz- und Überwachungsfunktionen<br />

Um in Fehlerfällen die betroffenen MOSFET- oder IGBT-Module schnell und wirkungsvoll zu<br />

schützen, ist die Implementierung verschiedener Schutzfunktionen in den Treiber sinnvoll, z.B.<br />

Überstrom- und Kurzschlussschutz, Schutz vor zu hoher Drain-Source- bzw. Kollektor-Emitter-<br />

Spannung, Gate-Überspannungsschutz, Übertemperaturschutz und eine Überwachung der Gatesteuerspannungen<br />

V GG+<br />

und V GG-<br />

.<br />

An dieser Stelle soll anhand Bild 5.6.8 die Einbindung der Schutzeinrichtungen in den Treiber<br />

beschrieben werden. Auf die Realisierung und Dimensionierung wird im Kap. 5.7 eingegangen.<br />

Überstrom- und Kurzschlussschutz<br />

Das Stromsignal kann als analoge Größe (Messung z.B. über Shunt, Stromwandler, R DS(on)<br />

des angesteuerten<br />

Leistungs-MOSFET oder Sense-Source- bzw. Emitteranschluss) oder als Überschreitung<br />

eines Grenzwertes (Entsättigung des IGBT) generiert werden. Durch Soll-Istwert-Vergleich<br />

mit einem festgelegten Grenzwert wird der Fehlerfall detektiert und entweder bereits auf Schalterpotential<br />

oder – bei potentialtrennenden Messgliedern – im Primärkreis des Treibers zum Setzen<br />

eines Fehlerspeichers (ERROR-Status) benutzt, der die Leistungstransistoren bis zum Anlegen<br />

eines RESET-Signales sperrt.<br />

Bei sekundärseitigem Fehlerspeicher wird dessen Statussignal über ein Potentialtrennglied auf<br />

die Primärseite übertragen. Werden potentialtrennende, genaue Stromsensoren (z.B. bei SKiiP)<br />

benutzt, kann deren Ausgangssignal außerdem als Istwert einer übergeordneten Regelung dienen.<br />

Gate-Überspannungsschutz<br />

Im Gegensatz zu den bisher beschriebenen Schutzeinrichtungen muss der Gateschutz u.U. periodisch<br />

die Gatespannung begrenzen, ohne dass ein unmittelbarer Fehlerfall vorliegt, der ein<br />

Ausschalten der Leistungstransistoren erfordert. Es besteht deshalb keine Verbindung zum Fehlerspeicher.<br />

Weitere Details sind in den Kap. 5.7.3 beschrieben.<br />

Schutz vor zu hoher Drain-Source- bzw. Kollektor-Emitter-Spannung<br />

Eine Spannungsbegrenzung über den Hauptanschlüssen des Leistungstransistors kann durch<br />

diesen selbst (avalanchefeste MOSFET), durch passive Netzwerke oder eine aktive Schaltung<br />

erfolgen, die bei zu hoher Spannung für ein definiertes Aufsteuern des Transistors sorgt (vgl. Kap.<br />

5.7.3).<br />

Eine einfache Schutzeinrichtung, die jedoch keine Schalt- und anderen schnellen Überspannungsspitzen<br />

erfasst, ist optional (Option „U“) in den Treibern der SKiiP in Form einer statischen Überwachung<br />

der Zwischenkreisspannung implementiert. Ein Messglied mit „Quasi“-Potentialtrennung<br />

erfasst den Zwischenkreisspannungs-Istwert, stellt diesen als analogen Istwert einer übergeordneten<br />

Regelung zur Verfügung und setzt bei Überschreitung eines Grenzwertes ebenfalls den<br />

Fehlerspeicher in den ERROR-Status. Bei rückspeisenden Lasten können durch Ansteuerung<br />

eines Bremschoppers auch die Zwischenkreiskondensatoren geschützt werden.<br />

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