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Application Manual Power Semiconductors - Deutsche ... - Semikron

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5 Applikationshinweise für IGBT- und MOSFET-Module<br />

I RRM<br />

a) b)<br />

Bild 5.6.6 Abhängigkeit der Sperrverzögerungsladung Q rr<br />

(a) und des Rückstromes I RRM<br />

(b) der Freilaufdioden<br />

eines IGBT-Moduls (Bsp. SKM100GB123D) von der Abkommutierungsgeschwindigkeit<br />

-di F<br />

/dt des Diodenstromes<br />

Mit größerem Gatestrom (höhere V GG+<br />

oder kleinerer R G<br />

) sinkt die Anstiegszeit t r<br />

des Drain- bzw.<br />

Kollektorstromes i D<br />

, i C<br />

. Damit steigt die Stromabkommutierungsgeschwindigkeit -di F<br />

/dt in der Freilaufdiode,<br />

von der ihre Sperrverzögerungsladung Q rr<br />

und ihr Rückstrom I RRM<br />

abhängen.<br />

Für die in den IGBT-Modulen eingesetzten, schnellen Freilaufdioden sind diese Abhängigkeiten in<br />

den Datenblättern dargestellt (Bild 5.6.6 und Bild 5.6.7).<br />

Mit der Erhöhung von Q rr<br />

und I RRM<br />

wachsen die Ausschaltverluste der modulinternen Freilaufdiode.<br />

Da mit Erhöhung von -di F<br />

/dt Q rr<br />

und I RRM<br />

zunehmen und I RRM<br />

sich im Kollektor- bzw. Drainstrom<br />

des einschaltenden Transistors zum Laststrom addiert, steigen auch Einschaltspitzenstrom und<br />

Einschaltspitzenverlustleistung des Transistors mit dessen Einschaltgeschwindigkeit (Bild 5.6.5).<br />

Bild 5.6.7 Abhängigkeit der Freilaufdioden-Ausschaltverluste E offD<br />

vom R G<br />

des einschaltenden Transistors<br />

Ausschaltspitzenspannung<br />

Mit Erhöhung von V GGbzw.<br />

Verringerung von R G<br />

steigt der Ausschalt-Gatestrom des angesteuerten<br />

Transistors. Wie in Bild 5.6.5a dargestellt, sinkt die Drain- bzw. Kollektorstromfallzeit t f<br />

, d.h.<br />

das -di D<br />

/dt bzw. -di C<br />

/dt steigt. Die während des Stromabfalls über der parasitären Kommutierungs-<br />

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