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Application Manual Power Semiconductors - Deutsche ... - Semikron

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5 Applikationshinweise für IGBT- und MOSFET-Module<br />

Schaltzeiten, Schaltverlustenergien (t on<br />

, t off<br />

, E on<br />

, E off<br />

)<br />

Steuerspannungen und Gatewiderstände beeinflussen die verschiedenen Anteile der Schaltzeiten<br />

Einschaltzeit t on<br />

= t d(on)<br />

+ t r<br />

und Ausschaltzeit t off<br />

= t d(off)<br />

+ t f<br />

sowie die Tailstromzeit t t<br />

des IGBT.<br />

Da die Gatekapazität vor den Schaltvorgängen auf die Absolutwerte der gewählten Steuerspannungen<br />

V GG+<br />

, V GGaufgeladen<br />

ist, sinkt die Umladezeit bis zur Strom- oder Spannungsänderung<br />

(Einschaltverzögerungszeit t d(on)<br />

, Ausschaltverzögerungszeit t d(off)<br />

) mit der Verringerung des Gatewiderstandes.<br />

Auf die Schaltzeiten t r<br />

und t f<br />

und somit auf einen Großteil der Schaltverluste E on<br />

und E off<br />

haben die<br />

den jeweiligen Schaltvorgang steuernden Spannungen V GG+<br />

oder V GGund<br />

der Gatewiderstand R G<br />

entscheidenden Einfluss.<br />

Die Datenblätter von IGBT-Modulen enthalten Diagramme mit den Abhängigkeiten der Schaltzeiten<br />

und Schaltverlustenergien von R G<br />

, meist angegeben für den Nennstrom und für das harte<br />

Schalten mit ohmsch-induktiver Last (Bild 5.6.5).<br />

1000<br />

[ns]<br />

t d off<br />

t d on<br />

80<br />

[mJ]<br />

60<br />

T j = 150 °C<br />

V CC = 600 V<br />

V GE = ± 15 V<br />

I = 300 A<br />

C<br />

E on<br />

100<br />

t f<br />

T = 150 °C<br />

40<br />

E off<br />

t<br />

t r<br />

j<br />

CC<br />

GE<br />

V<br />

V<br />

R G = 1.9<br />

= 600 V<br />

= ± 15 V<br />

<br />

20<br />

E<br />

E rr<br />

10<br />

0 200 400 600 [A]<br />

I C<br />

a) b)<br />

0<br />

0 R G 2 4 6 [Ω 8<br />

Bild 5.6.5 Abhängigkeit der Schaltzeiten (a) und Schaltverluste (b) eines IGBT von den Gatewiderständen<br />

R G<br />

; hier bei T j<br />

= 125°C, V CE<br />

= 600 V, I C<br />

= 75 A, V GE<br />

= ± 15 V und hartem Schalten mit<br />

ohmsch-induktiver Last<br />

Dynamisches Ausschaltverhalten der Freilaufdiode (reverse recovery) und Einschaltspitzenstrom<br />

des Transistors<br />

Die in Bild 5.6.5b aufgetragenen Einschaltverluste des IGBT berücksichtigen auch den Einfluss<br />

des Ausschaltverhaltens einer modulinternen Freilaufdiode auf den Einschaltspitzenstrom und die<br />

Einschaltverluste, vgl. Kap. 2.3.3.2 und 3.3.3.<br />

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