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Application Manual Power Semiconductors - Deutsche ... - Semikron

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5 Applikationshinweise für IGBT- und MOSFET-Module<br />

Der absolute Maximalwert der Steuerspannung V GG<br />

für beide Polaritäten ist entsprechend der<br />

Spannungsfestigkeit der Gateisolation zu dimensionieren, die für heutige Leistungs-MOSFETund<br />

IGBT-Module meist mit 20 V im Datenblatt spezifiziert ist. Diese Spannung darf – auch transient<br />

– nicht überschritten werden, was während des Ausschaltens u.U. besondere Maßnahmen<br />

erfordert, vgl. Kap. 5.6.2 und Kap. 5.7.3.<br />

Da andererseits R DS(on)<br />

bzw. V CEsat<br />

mit steigender Gatespannung sinken, wird eine positive Steuerspannung<br />

empfohlen, die im stationären EIN-Zustand eine Gatespannung von<br />

V GS<br />

= +10 V bei Leistungs-MOSFET-Modulen bzw.<br />

V GE<br />

= +15 V bei IGBT-Modulen<br />

sicherstellt. Diese Werte sind als Messbedingung auch den meisten Datenblattangaben zugrunde<br />

gelegt. Bei sogenannten Niedervolt-Logic-Level-MOSFET ist eine positive Steuerspannung von<br />

+5 V ausreichend.<br />

Wie in Bild 5.6.2 zu sehen ist, sollte die Gatespannung für IGBT-Module beim Ausschalten und im<br />

Aus-Zustand negativ gegenüber Emitterpotential sein; empfohlene Werte sind -5...-8...-15 V.<br />

Während des gesamten Ausschaltvorganges (auch bei V GE<br />

nahe V GE(th)<br />

) wird so ein ausreichend<br />

hoher negativer Gatestrom aufrechterhalten, um kurze Schaltzeiten zu erzielen.<br />

Ein noch schwerwiegenderer Nachteil beim Sperren von IGBT in einer Brückenschaltung mit<br />

V GE<br />

= 0 V zeigt sich während der dv CE<br />

/dt-Beanspruchung des ausgeschalteten Transistors zum<br />

Zeitpunkt des Rückstromabrisses in seiner parallelen Inversdiode (Bild 5.6.3).<br />

v GE1<br />

v GE(th)<br />

Driver<br />

+15V/0V<br />

R G<br />

i C1<br />

T1<br />

i F1<br />

D1<br />

v GE2<br />

t dead<br />

v GE1<br />

i<br />

F2, vCE2<br />

i L<br />

i C2<br />

i L<br />

i F2<br />

v CE2<br />

Driver<br />

+15V/0V<br />

RG<br />

C GC2<br />

i V<br />

v GE2<br />

v CE2<br />

T2<br />

D2<br />

i F2<br />

i<br />

C1, iC2<br />

i<br />

C1<br />

= i<br />

L+ iC2 -iF2<br />

a)<br />

i L<br />

b)<br />

i C2<br />

Bild 5.6.3 Querstrom in einem IGBT-Brückenzweig infolge dv CE<br />

/dt-Aufsteuerung von T2<br />

a) Prinzipschaltung, b) Strom- und Spannungsverläufe<br />

Der steile Anstieg der Kollektor-Emitter-Spannung v CE2<br />

beim Rückstromabriss von D 2<br />

bewirkt einen<br />

Verschiebestrom i V<br />

durch dessen Gate-Kollektor-Kapazität C GC2<br />

, vgl. Kap. 2.4.2.2.<br />

i V<br />

= C GC<br />

· dv CE<br />

/dt,<br />

der über dem Widerstand R G<br />

(bzw. R GE/RG<br />

) einen Spannungsabfall verursacht. Wird v GE<br />

dadurch<br />

höher als die Schwellenspannung V GE(th)<br />

, wird T2 während des Rückstromabrisses in den aktiven<br />

Bereich gesteuert (Querstrom, Zusatzverluste in T1 und T2).<br />

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