03.07.2014 Aufrufe

Application Manual Power Semiconductors - Deutsche ... - Semikron

Application Manual Power Semiconductors - Deutsche ... - Semikron

Application Manual Power Semiconductors - Deutsche ... - Semikron

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.

YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.

5 Applikationshinweise für IGBT- und MOSFET-Module<br />

Ein weiterer Lebensdauer begrenzender Aspekt sind Lastwechsel bzw. Temperaturwechsel. Hierfür<br />

bietet SemiSel mit dem Markieren der entsprechenden Option die Möglichkeit der Eingabe<br />

und Berechnung typischer Lastzyklen. Für diese Belastung interessiert weniger die Maximaltemperatur<br />

sondern mehr die Temperaturdifferenz zwischen Volllastbetrieb und Leerlauf. Diese<br />

führt zu Alterungserscheinungen im Leistungshalbleitermodul (vgl. Kap. 2.7) und ist deshalb in<br />

die Lebensdauerbetrachtung des Umrichters mit einzubeziehen. In Bild 5.2.18 ist beispielhaft ein<br />

Fahrzyklus eines Antriebes mit den 4 Betriebszuständen: Anfahren, konstante Geschwindigkeit,<br />

Abbremsen, Stillstand dargestellt. Die Werte des Lastzyklus werden in eine Tabelle mit Stützpunkten<br />

eingegeben. Zwischen den Punkten wird vom Programm linear interpoliert. Die Temperatur<br />

und Verlustleistungsberechnung erfolgt in vergleichbarer Weise wie beim Überlaststrom. Während<br />

der Beschleunigung und Abbremsphase fließt ein Überstrom und die Schaltfrequenz wurde reduziert.<br />

Besonderheit beim Abbremsen ist der Wechsel der Energieflussrichtung. Der Phasenwinkel<br />

cos(j) wird negativ – der Wechselrichter arbeitet als Gleichrichter und speist Energie zurück.<br />

V/<br />

fout fsw<br />

t [s] I/Iout Vout cos ( )<br />

[Hz] [kHz]<br />

current<br />

1<br />

voltage<br />

cos( )<br />

0 4 8 12 16 t/s 25<br />

-1<br />

acceleration<br />

deceleration<br />

Bild 5.2.18 Definition eines Lastzyklus in SemiSel<br />

0 0 0 0 0 6<br />

0.1 2 0,1 1 5 4<br />

4 2 1 0.85 50 4<br />

4.1 0.7 1 0.85 50 6<br />

12 0.7 1 0.85 50 6<br />

12.1 1.5 1 -0.85 50 4<br />

16 1.5 0.1 -1 5 4<br />

16.1 0 0 0 5 6<br />

25 0 0 0 0 6<br />

5.2.3.4 Bauelementauswahl<br />

Als zweiter Satz von Eingangsgrößen werden die Bauelementparameter benötigt. Diese werden<br />

über die Auswahl des Bauelementnamen aus einer Datenbank geladen (Bild 5.2.19). Hier benötigt<br />

der Anwender bereits eine Vorstellung welches Produkt er eventuell einsetzen könnte. Dies betrifft<br />

sowohl die Gehäuseform als auch die verschiedenen Chiptechnologien. Als einen ersten Anhaltspunkt<br />

ohne Überlast kann man sich einen Produktvorschlag im Programmteil „Device proposal“<br />

machen lassen.<br />

Bild 5.2.19 Bauteilauswahl<br />

Als Einflussmöglichkeiten auf die Bauteilparameter hat der Anwender die Möglichkeit, zwischen<br />

typischen und maximalen Durchlassparametern zu wählen. Außerdem können die Schaltverluste<br />

mit Hilfe eines Korrekturfaktors geändert werden. Dies kann zum Beispiel notwendig sein, wenn<br />

die Ansteuerbedingungen von den Nennbedingungen im Datenblatt abweichen oder wenn „Weiches<br />

Schalten“ erfolgt. Der Korrekturfaktor wird ermittelt, in dem die Schaltverluste am Nennar-<br />

297

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!