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Application Manual Power Semiconductors - Deutsche ... - Semikron

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3 Datenblattangaben für MOSFET, IGBT, Dioden und Thyristoren<br />

300<br />

[A]<br />

V CC = 600 V<br />

T j = 150 °C<br />

V GE = ± 15 V<br />

I = 300 A<br />

F<br />

R G [ ] =<br />

2.4<br />

1.9<br />

1.4<br />

200<br />

3.4<br />

6.4<br />

100<br />

I RRM<br />

0<br />

0 di /dt 2000 4000 [A/µs] 6000<br />

F<br />

Bild 3.3.25 Rückstromspitze der Freilaufdiode (CAL-Diode) eines IGBT-Moduls<br />

[Fig. 12] Typische Sperrverzögerungsladung Q rr<br />

einer Inversdiode in Abhängigkeit von der<br />

Kommutierungssteilheit –di F<br />

/dt und dem Durchlassstrom I F<br />

vor dem Abschalten<br />

Für Arbeitspunkte mit hoher Dioden-Auslastung sind in Bild 3.3.26 typische Werte der Sperrverzögerungsladung<br />

Q rr<br />

in Abhängigkeit von der (Ab-) Kommutierungssteilheit –di F<br />

/dt beim Ausschalten<br />

der Diode und vom vorher geflossenen Durchlassstrom I F<br />

dargestellt. -di F<br />

/dt wird durch die<br />

Einschaltgeschwindigkeit des den Strom übernehmenden IGBT (di C<br />

/dt) bestimmt, die abhängig<br />

von dessen Gatevorwiderstand R G<br />

= R Gon<br />

ist. Als Dimensionierungshilfe sind in diesem Diagramm<br />

für eine spezifizierte Steuerspannung den di F<br />

/dt – Werten Widerstandsangaben für R G<br />

= R Gon<br />

des<br />

einschaltenden IGBT zugeordnet. Die Sperrverzögerungsladung der Freilaufdiode steigt mit dem<br />

Kollektorstrom und geringfügig mit der Kommutierungssteilheit.<br />

80<br />

[µC]<br />

60<br />

R G [ ] =<br />

1.9 1.4<br />

2.4<br />

3.4<br />

6.4<br />

600<br />

450<br />

300<br />

40<br />

150<br />

20<br />

Q rr<br />

V CC = 600 V<br />

T j = 150 °C<br />

V = ± 15 V<br />

GE<br />

75<br />

= I [A] F<br />

0<br />

0 di /dt 2000 4000<br />

[A/µs]<br />

6000<br />

F<br />

Bild 3.3.26 Sperrverzögerungsladung der Freilaufdiode (CAL-Diode) eines IGBT-Moduls<br />

180

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