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Application Manual Power Semiconductors - Deutsche ... - Semikron

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3 Datenblattangaben für MOSFET, IGBT, Dioden und Thyristoren<br />

V G(on)<br />

V G( off)<br />

Q G<br />

Bild 3.3.6 Gateladungsdiagramm eines IGBT<br />

Aus Q G<br />

ist über I G(AV)<br />

= Q G<br />

· f s<br />

(f s<br />

: Schaltfrequenz) der durch den Treiber zur Ansteuerung aufzubringende<br />

Ausgangsstrom-Mittelwert I G(AV)<br />

ermittelbar.<br />

Interner Gatewiderstand R Gint<br />

Parameter: Chiptemperatur T j<br />

= 25°C (R Gint<br />

ist temperaturabhängig.)<br />

Um Schwingungen zwischen parallel geschalteten Chips zu verhindern, enthalten heute viele<br />

IGBT-Chips integrierte Gatewiderstände. Tabelle 3.3.1 enthält die Widerstandswerte für IGBT4<br />

Chips.<br />

Chipstrom I Cnom<br />

Gatewiderstand R Gint<br />

75 A 10,0 W<br />

100 A 7,5 W<br />

150 A 5,0 W<br />

Tabelle 3.3.1 Widerstandswerte integrierter Gatewiderstände in IGBT4 Chips (Infineon)<br />

In IGBT-Modulen mit parallel geschalteten IGBT-Chips liegen somit auch deren interne Gatewiderstände<br />

parallel und R Gint<br />

ist der aus der Parallelschaltung resultierende Gesamtwiderstand. Bei der<br />

Auswahl einer Treiberschaltung nach niedrigstzulässigem Gatewiderstand bzw. höchstzulässigem<br />

Gate-Spitzenstrom muss die Summe aus externem Gatewiderstand R Gon<br />

, R Goff<br />

und dem R Gint<br />

lt.<br />

Datenblatt berücksichtigt werden.<br />

Schaltzeiten t d(on)<br />

, t r<br />

, t d(off)<br />

, t f<br />

und Schaltverlustenergien E on<br />

, E off<br />

Parameter: Betriebsspannung V CC<br />

, Kollektorstrom I C<br />

, Steuerspannungen V GG+<br />

, V GG-<br />

(bzw. V GE<br />

), externe<br />

Gatewiderstände R Gon<br />

, R Goff<br />

, Kollektorstromsteilheit di/dt on<br />

beim Einschalten bzw. di/dt off<br />

beim<br />

Ausschalten, Chiptemperatur T j<br />

(Schaltzeiten und Schaltverluste steigen mit der Temperatur an).<br />

Zu berücksichtigen ist, dass Schaltzeiten, Strom-/Spannungsverläufe und Schaltverluste in der<br />

Praxis stark durch Wechselwirkungen zwischen modulinternen und äußeren Kapazitäten, Induktivitäten<br />

und Widerständen im Gate- und Kollektorkreis beeinflusst werden. In Anwendungen, die<br />

deutlich von den Messbedingungen abweichen (z.B. kapazitive Last von Motorkabeln, Schalten<br />

mit V GG(off)<br />

= 0) können die Datenblattangaben lediglich Grundlage einer Grobauswahl sein. Eigene<br />

Messungen in der finalen Schaltungsumgebung sind dann für eine sichere Schaltungsdimensionierung<br />

unumgänglich.<br />

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