Schüler besuchten Infineon im Rahmen des Projektes âZeitung in ...
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Regensburg edition<br />
eMag Newsletter by Internal Communications Regensburg<br />
KW 03<br />
http://<strong>in</strong>tranet.<strong>in</strong>f<strong>in</strong>eon.com/emag/regensburg/de/ Januar 2011<br />
Schüler <strong>besuchten</strong> <strong>Inf<strong>in</strong>eon</strong> <strong>im</strong> <strong>Rahmen</strong> <strong>des</strong> <strong>Projektes</strong> „Zeitung<br />
<strong>in</strong> der Schule“<br />
E<strong>in</strong>e Schulklasse <strong>des</strong> Johann-Andreas-Schmeller Gymnasiums aus Nabburg<br />
besuchte am 19.1.2011 das Zuverlässigkeitslabor am Standort. Die Schüler<strong>in</strong>nen<br />
und Schüler bekamen <strong>in</strong> kle<strong>in</strong>en Gruppen E<strong>in</strong>blicke <strong>in</strong> die verschiedenen<br />
Testbereiche und staunten über die ausgefeilten Methoden.<br />
Unter dem Motto „Was muss e<strong>in</strong> Mikrochip aushalten und wie kann man das testen?“<br />
besuchte e<strong>in</strong>e Gruppe fiktiver Reporter am vergangenen Mittwoch den Standort.Seit 2005<br />
unterstützt <strong>Inf<strong>in</strong>eon</strong> „Zeitung <strong>in</strong> der Schule" und lädt Schulklassen e<strong>in</strong>, die als potentielle<br />
Berichterstatter wechselnde Unternehmensbereiche kennenlernen können. Ziel ist, die<br />
Medienkompetenz bei jungen Menschen zu stärken und ihnen zugleich e<strong>in</strong>en E<strong>in</strong>blick <strong>in</strong><br />
die spannende Welt der Technik zu geben.<br />
Zunächst wurden die Schüler<strong>in</strong>nen und Schüler von Georg Forster mit e<strong>in</strong>er Vorstellung<br />
<strong>des</strong> Standortes auf ihre anstehende Entdeckungstour e<strong>in</strong>gest<strong>im</strong>mt, bevor Dr. Stefan<br />
Gallus e<strong>in</strong>en Überblick über die Tätigkeitsbereiche <strong>im</strong> Zuverlässigkeitslabor gab.<br />
Anschließend wurde die Klasse <strong>in</strong> drei Gruppen aufgeteilt und von den jeweiligen<br />
Gruppenleitern zu den Testanlagen geführt.<br />
Josef Heitzer und Thomas Seidl zeigten den<br />
aufmerksamen Zuschauern zunächst, wie die<br />
Kontakte und Leiterbahnen auf den Chipkarten<br />
aussehen und warum diese äußerst stabil und<br />
trotzdem flexibel se<strong>in</strong> müssen. Als EC- oder<br />
Krankenkassenkarte werden sie be<strong>im</strong> Tragen<br />
<strong>im</strong> Geldbeutel <strong>im</strong>mer wieder gebogen und<br />
zusammengedrückt. Die Schüler duften auch<br />
selbst Hand anlegen und e<strong>in</strong>ige Karten auf den<br />
Versuchsapparaten testen.<br />
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eMagNewsletter – Internal Communication Rbg<br />
E<strong>in</strong>e andere Gruppe bekam die Funktionsweise<br />
der Salznebeltests von Gisela Wurdack,<br />
anhand von Testchips erklärt. Da elektronische<br />
Bauteile be<strong>im</strong> täglichen Gebrauch <strong>in</strong><br />
erheblichem Maße Staub, Dreck und Schweiß<br />
ausgesetzt s<strong>in</strong>d, ist es wichtig, die<br />
Auswirkungen von Verunre<strong>in</strong>igungen zu<br />
erkennen und auszuwerten. Auch hier wurden<br />
die Schüler<strong>in</strong>nen und Schüler e<strong>in</strong>gebunden und<br />
durften selbst e<strong>in</strong>ige Testabläufe durchführen.<br />
Die dritte Gruppe betätigte sich unter Leitung<br />
von Christian Birzer bei den Drop-Tests. Hier<br />
wurde anschaulich dargestellt, was mit Chips <strong>in</strong><br />
Handys passiert, die auf den Boden fallen und<br />
was sie aushalten müssen. Dazu wurden Drop-<br />
Tests durchgeführt und die Ergebnisse<br />
anschließend unter dem Mikroskop<br />
begutachtet. Daraus kann man wiederum<br />
Schlüsse ziehen, wie die Stabilität der Chips<br />
verbessert werden kann.<br />
In der abschließenden „Pressekonferenz“ stellten sich die jeweiligen Gruppenleiter<br />
zusammen mit Stefan Gallus und Georg Forster den Fragen der Jungreporter. Die<br />
Bandbreite reichte dabei von Fragen zur Größe <strong>des</strong> Werksgelän<strong>des</strong> und Fertigungsdauer<br />
e<strong>in</strong>es Chips, bis h<strong>in</strong> zum Interesse daran, was passiert, wenn e<strong>in</strong> Mitarbeiter e<strong>in</strong>en Fehler<br />
macht. Stefan Gallus versicherte den Schüler<strong>in</strong>nen und Schülern darauf, dass es ke<strong>in</strong>en<br />
Bestrafungskatalog für Fehler gebe, sondern, dass es vielmehr wichtig sei, Probleme zu<br />
erkennen und diese auch offen anzusprechen, damit sie <strong>in</strong> Zukunft vermieden werden<br />
können.<br />
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