Abstract/Zusammenfassung
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Johannes Otepka (October, 2004)<br />
Precision Target Mensuration in Vision Metrology (PhD Thesis, TU-Wien)<br />
Assessor 1: O.Univ.Prof. Dipl.-Ing. Dr.techn. Karl Kraus<br />
Assessor 2: Professor Clive S. Fraser (BAppSc, MSurvSc, PhD)<br />
Im weiteren Verlauf der Arbeit werden die Ergebnisse von Simulationsrechnungen präsentiert, welche<br />
den Einfluss von zwei unterschiedlichen Fehlerarten aufzeigen. Der erste Teil der Simulationen<br />
untersucht die Auswirkung der oben angeführten Exzentrizität auf die Objektpunkte. Die zweite<br />
Gruppe der Simulationsrechnungen analysiert den Fehlereinfluss von gekrümmten Zielmarken auf den<br />
Zielmarkenmessprozess. Dieser Einfluss ist vor allem bei der Vermessung von gewölbten Oberflächen<br />
interessant, da hier die Zielmarken direkt auf den zu bestimmenden Oberflächen fixiert werden.<br />
Obwohl bei den vorliegenden Untersuchungen primär theoretische Fragestellungen im Vordergrund<br />
stehen, widmet sich ein Teil der Arbeit auch der praktischen Relevanz der entwickelten Prozesse und<br />
Algorithmen. Dabei konnte bewiesen werden, dass die Berücksichtigung der Exzentrizitäten<br />
entsprechende Genauigkeitsvorteile bei hochgenauen Vermessungen bringt. Zusätzlich werden<br />
Vorteile für Oberflächenanalysen sowie Aufgaben mittlerer Genauigkeit aufgezeigt.