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Abstract/Zusammenfassung

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Johannes Otepka (October, 2004)<br />

Precision Target Mensuration in Vision Metrology (PhD Thesis, TU-Wien)<br />

Assessor 1: O.Univ.Prof. Dipl.-Ing. Dr.techn. Karl Kraus<br />

Assessor 2: Professor Clive S. Fraser (BAppSc, MSurvSc, PhD)<br />

Im weiteren Verlauf der Arbeit werden die Ergebnisse von Simulationsrechnungen präsentiert, welche<br />

den Einfluss von zwei unterschiedlichen Fehlerarten aufzeigen. Der erste Teil der Simulationen<br />

untersucht die Auswirkung der oben angeführten Exzentrizität auf die Objektpunkte. Die zweite<br />

Gruppe der Simulationsrechnungen analysiert den Fehlereinfluss von gekrümmten Zielmarken auf den<br />

Zielmarkenmessprozess. Dieser Einfluss ist vor allem bei der Vermessung von gewölbten Oberflächen<br />

interessant, da hier die Zielmarken direkt auf den zu bestimmenden Oberflächen fixiert werden.<br />

Obwohl bei den vorliegenden Untersuchungen primär theoretische Fragestellungen im Vordergrund<br />

stehen, widmet sich ein Teil der Arbeit auch der praktischen Relevanz der entwickelten Prozesse und<br />

Algorithmen. Dabei konnte bewiesen werden, dass die Berücksichtigung der Exzentrizitäten<br />

entsprechende Genauigkeitsvorteile bei hochgenauen Vermessungen bringt. Zusätzlich werden<br />

Vorteile für Oberflächenanalysen sowie Aufgaben mittlerer Genauigkeit aufgezeigt.

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