7 Zusammenfassung
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7 <strong>Zusammenfassung</strong><br />
Die im Rahmen dieser Arbeit durchgeführten Untersuchungen dienen der Aufgabe,<br />
eine haftfeste Entspiegelung auf Polycarbonat zu realisieren und diese Entspiegelung<br />
mit einem UV-Schutz auszurüsten, der die Anwendung der resultierenden beschichteten<br />
optischen Komponente unter natürlicher Sonneneinstrahlung ohne Qualitätsverlust<br />
hinsichtlich der optischen Transmission und des unter UV-Exposition eintretenden<br />
Haftungsversagens der Beschichtung ermöglicht.<br />
Optische Interferenzschichtsysteme bestehen aus vielen Schichten mit Einzeldicken im<br />
nm-Bereich. Sie werden mit einer hohen Präzision der Schichtdicken und der optischen<br />
Eigenschaften der Materialien mittels Plasma-IAD-Verfahren im Hochvakuum auf das<br />
Polycarbonat aufgedampft. Die Auswirkungen dieses Plasmaprozesses haben allerdings<br />
im speziellen Fall des Polycarbonats unerwünschte Nebenwirkungen auf die Haftung<br />
der aufgedampften Schichten.<br />
So konnte an allen in dieser Arbeit untersuchten Schichtsubstanzen (SiO 2 , TiO 2 , Nb 2 O 5 ,<br />
Ta 2 O 5 , ZrO 2 ) gezeigt werden, dass die Schichthaftung der mittels Elektronenstrahl-<br />
Verdampfer gefertigten Schichten auf Polycarbonat umso schlechter wird, je stärker die<br />
Plasmastützung im Beschichtungsprozess eingesetzt wird. Entscheidend für die Auswirkungen<br />
des untersuchten Parameterfeldes der Prozessgrößen ist dabei nicht die<br />
Stärke der Plasmastützung allein, sondern auch ihr Zusammenwirken mit der Beschichtungsrate.<br />
Diese beiden Größen bestimmen den Energieeintrag je Teilchen der<br />
Schichtsubstanz und sind verantwortlich für die erreichte Packungsdichte der Schichten.<br />
Eine starke Verdichtung der Schichten durch den Einsatz einer hohen Plasmaenergie<br />
führt zu Haftversagen auf Polycarbonat, wie in dieser Arbeit deutlich belegt<br />
werden konnte.<br />
Des Weiteren konnte gezeigt werden, dass sich eine lange Argonplasma-Vorbehandlung<br />
negativ auf die Haftung nachfolgend aufgedampfter Referenzschichten auswirkt.<br />
Im Gegensatz dazu erzielte eine lange Plasmabehandlung unter Sauerstoffzufuhr eine<br />
deutliche Haftverbesserung für hoch verdichtetes TiO 2 – eine Referenzschicht mit normalerweise<br />
sehr schlechter Haftung auf PC. Diese nach der langen Argon-Sauerstoff-<br />
Plasmavorbehandlung aufgedampften TiO 2 -Schichten blieben auch nach den Standard-<br />
Klimatests gemäß DIN ISO 9022-2 sehr gut haftfest. Diese Plasmabehandlung bewirkt<br />
einen Materialabtrag an der PC-Oberfläche und geht mit einer deutlichen Erhöhung<br />
der Oberflächenrauheit sowie einer um ca. 1% verringerten Reflexion einher.<br />
Mit Hilfe der Analyseverfahren XPS und TOF-SIMS wurden die Ursachen der Haftungsunterschiede<br />
nach Plasmavorbehandlungen mit und ohne Sauerstoff untersucht. An<br />
den Trennstellen enthafteter Schichten fanden sich deutliche Anzeichen von Kettenbrüchen,<br />
und zwar sowohl nach einer Argonplasma-Behandlung als auch nach einer<br />
Argon-Sauerstoff-Plasmabehandlung. An der Substratstelle des Polycarbonats, von der<br />
die schlecht haftenden Schichten abgezogen wurden, fanden sich in allen Fällen Strukturen,<br />
die denen von unbeschädigtem Polycarbonat entsprechen. Es wurde keine<br />
Trennstelle gefunden, an der sich das Schichtmaterial vom Substrat getrennt hätte. Die<br />
Trennung erfolgte immer zwischen geschädigtem und ungeschädigtem Polycarbonat.<br />
Dieses Ergebnis lässt sich hinsichtlich der Ursache von Haftversagen an Schichten im<br />
Zusammenhang mit dem Plasma-Prozess dahingehend interpretieren, dass das Ionenbombardement<br />
und/oder kurzwellige Strahlung aus dem Plasma zu Kettenbrüchen an<br />
der Polycarbonatoberfläche führen können. Diese weak boundary layers verhindern<br />
eine haftfeste Anbindung von Schichten. Ein wichtiges Ergebnis ist in diesem Zusam-
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menhang, dass eine poröse SiO 2 -Schicht bei nachfolgender Plasmabehandlung (also<br />
einer UV-Bestrahlung unter Vakuumbedingungen) kein Haftungsversagen entwickelt<br />
und damit als Schutz für die Grenzfläche während des weiteren Aufdampfprozesses<br />
optischer Systeme auf PC ausreicht.<br />
Für die haftfeste Anbindung der Beschichtungssysteme ist es demnach wichtig, die Diffusion<br />
in der Grenzfläche zu ermöglichen und die Polymeroberfläche bereits im Prozess<br />
vor dem Einfluss der energiereichen Plasmaionen zu schützen. Dies ist unabhängig von<br />
einem innerhalb der Additivausrüstung des Polycarbonats vorhandenen UV-Stabilisator,<br />
dessen An- oder Abwesenheit innerhalb dieser Arbeit keinerlei Auswirkungen auf die<br />
Schichthaftung zeigte.<br />
Die Untersuchungen zur Haftfestigkeit der Schichtsubstanzen auf Polycarbonat führen<br />
zu der Schlussfolgerung, dass sich bei der Anbindung des Schichtmaterials an die Polycarbonatoberfläche<br />
durch das Plasma-IAD-Verfahren vorrangig kovalente Bindungen<br />
bilden. Zum einen sind die zur Enthaftung der schlecht haftenden Schichten benötigten<br />
Abreißkräfte relativ hoch. Zum anderen befindet sich die Trennstelle dieses Schicht-<br />
Substrat-Verbundes nicht zwischen Schicht und Substrat, sondern am Übergang zwischen<br />
geschädigtem und unbeschädigtem Polycarbonat. Die Abreißkraft überwindet<br />
demnach erst die herabgesetzte Bindung innerhalb der Polycarbonatmatrix nach deren<br />
oberflächennaher Schädigung durch Kettenbruch-Prozesse. Dies sollte ein deutliches<br />
Indiz dafür sein, dass sich zwischen Schicht und Substrat stärkere chemische Bindungen<br />
befinden, die in ihrer Größenordnung folgerichtig denen einer intakten kovalenten Anbindung<br />
entsprechen.<br />
Zur Anbindung der Schichtsubstanzen kommen gemäß der Literatur sowohl direkte<br />
Bindungen mit dem Polycarbonat in Frage als auch eine indirekte Anbindung über<br />
adsorbierte Gase [48]. Das bedeutet am Beispiel der in dieser Arbeit untersuchten<br />
Schichtsubstanzen SiO 2 und TiO 2 ein mögliches Vorhandensein folgender Bindungstypen:<br />
Si – C bzw. Ti – C, Si – O – C bzw. Ti – O – C, von denen jedoch die zweite<br />
aufgrund der hohen Reaktivität des Sauerstoffs und seiner reichlichen Verfügbarkeit im<br />
Beschichtungsprozess wesentlich wahrscheinlicher ist.<br />
Außerdem ermöglichen die Carboxylgruppen des Polycarbonats an dessen Oberfläche<br />
die Ausbildung heteropolarer Bindungen mit Metallionen [70]. Auch eine Säure-Basen-<br />
Interaktion zwischen der sauer wirkenden Carboxylgruppe und dem Beschichtungsmaterial<br />
kommt für Polycarbonatoberflächen nach einer Argon-Plasmabehandlung in<br />
Frage [53]. Des Weiteren besteht im speziellen Fall des SiO 2 die Möglichkeit, dass auch<br />
Bindungen vom Typ Si-O-H vorhanden sind, da man ihnen haftungsvermittelnde<br />
Wirkung zuschreibt und im Polycarbonat auf jeden Fall genügend chemisorbierte OH-<br />
Gruppen vorhanden sind, die zur Bildung von Wasserstoffbrückenbindungen zur Verfügung<br />
stehen.<br />
Der UV-Schutz von Polycarbonat beinhaltet sowohl den Schutz vor Vergilbung des<br />
Werkstoffes als auch den Schutz vor UV-bedingtem Haftversagen an vor der Exposition<br />
sehr gut haftenden Schichten. Der UV-bedingte Haftungsverlust der Schichten wird<br />
durch andere Strahlungswellenlängen ausgelöst als die Vergilbung des Polycarbonatsubstrates.<br />
Offenbar sind alle Wellenlängen unterhalb von 400 nm an Luft und<br />
wahrscheinlich im Zusammenhang mit der Luftfeuchtigkeit grundsätzlich in der Lage,<br />
ein nachträgliches Haftversagen der Schichten auszulösen. Aufgrund ihrer spektralen<br />
Absorption ist keine der untersuchten hochbrechenden Schichtsubstanzen in der Lage,<br />
allein die Schutzwirkung gegen die UV-induzierte Haftungsschädigung der Schichten<br />
auf Polycarbonat zu gewährleisten.<br />
Deshalb wird als Alternative im Bereich der optischen Beschichtungen die Anwendung<br />
eines Bandpass-Designs vorgeschlagen, welches durch eine Erhöhung der Reflexion im<br />
kurzwelligen Bereich eine mangelnde Absorption ausgleicht.
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Folgende beispielhafte Spezifikation erfüllt die Aufgabenstellung dieser Arbeit:<br />
Bandpassdesign mit Kantenlage 400 nm und ca. 850 nm<br />
zwischen 340 nm und 400 nm: Reflexion > 95%<br />
zwischen 400 und 850 nm: Reflexion < 1% (je Fläche)<br />
niedrigbrechendes Material: SiO 2 , Rate ca. 1,2 nm/s, Bias-Spannung 80 V<br />
hochbrechendes Material: TiO 2 , Rate ca. 0,25 nm/s, Bias-Spannung 80 V<br />
Startschicht des Systems ist immer eine SiO 2 -Schicht<br />
Um die Probleme der Schichthaftung auf Polycarbonat durch ein geeignetes Prüfverfahren<br />
quantifizieren zu können, wurde der Tape-Tests am Gitterschnitt nach DIN EN ISO<br />
2409 hinsichtlich seiner Reproduzierbarkeit verbessert. Ein im Rahmen dieser Arbeit<br />
konstruiertes mechanisches Gerät realisiert den Klebebandabriss unter Ausschluss der<br />
bisher vorhandenen subjektiven Einflüsse des Prüfers. Aufgrund der viskoelastischen<br />
Eigenschaften der Klebebänder dient sie jedoch nur einem schnellen, praxisorientierten<br />
Vergleich von Haftungseigenschaften.<br />
Der Abgleich zu anerkannten Methoden der Adhäsionsprüfung gestaltet sich schwierig,<br />
da zum einen die Kombination aus weichem Substrat und sprödharter Schicht eine<br />
ungünstige Konstellation für alle Ritzverfahren ist und zum anderen die Oberflächen<br />
der Oxidschichten einen klebetechnischen Problemfall darstellen, was der Anwendung<br />
von Abreißverfahren entgegensteht.<br />
Zur zukünftigen Anwendung beschichteten Polycarbonats, z.B. für Displayabdeckungen<br />
im Automobilbereich, sind die in dieser Arbeit untersuchten Beschichtungen prinzipiell<br />
geeignet. Unter Einhaltung der beschriebenen Prozessparameter und optischen Spezifikation<br />
können haftfeste Anti-Reflex-Systeme mit integriertem UV-Schutz für die<br />
Anwendung realisiert werden.