3 REM-KL Untersuchungen an Halbleitern
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<strong>REM</strong>-<strong>KL</strong> <strong>Untersuchungen</strong> <strong>an</strong> <strong>Halbleitern</strong> 27<br />
Für Niederinjektion und konst<strong>an</strong>te Temperatur erhält m<strong>an</strong> aus (3.4) und (3.13) für die<br />
Minoritäts-Überschussladungsträgerdichte q(r,t) (q=∆p im n- bzw. q=∆n im p-Halbleiter):<br />
b g (3.14)<br />
2 1<br />
− ∂ + ∇ − − = −<br />
∂t q( r, t) D q( r, t) µ∇ F( r, t) q( r, t) () q( r,<br />
r<br />
t) g( r,<br />
τ<br />
t)<br />
Die Feldstärkeverteilung bestimmt sich aus (3.5) und k<strong>an</strong>n bei totaler Verarmung in einer<br />
Raumladungszone konst<strong>an</strong>t gesetzt werden (Schottky-Näherung).<br />
Die stationäre Minoritätsträgerverteilung q(r) in Anwesenheit eines ausgedehnten Effektes<br />
ohne Driftfelder (F=0) ergibt sich aus der stationären Kontinuitätsgleichung:<br />
2 1<br />
D∇ q()<br />
r − q() r = −g()<br />
r<br />
τ() r<br />
(3.15)<br />
Die ortsabhängige Lebensdauer τ(r) weist dabei unmittelbar auf den lokalen Einfluss des<br />
Volumendefektes hin. Grenzflächen am Ort r S werden durch die R<strong>an</strong>dbedingung der Form<br />
∂<br />
D q ∂n<br />
r=r<br />
S<br />
= vq( r ) (3.16)<br />
S<br />
S<br />
berücksichtigt, durch die ein Diffusionsstrom in Richtung der Grenzflächennormalen fließt.<br />
Die i.Allg. nichtstrahlende Grenzflächenrekombination erfolgt mit einer Geschwindigkeit v S .<br />
In Raumrichtungen mit praktisch unendlicher Ausdehnung verschwindet die Ladungsträgerdichte<br />
( q( r)<br />
→0für r → ∞ ).<br />
Die Kontinuitätsgleichung k<strong>an</strong>n mit Hilfe der Methode der Greenschen Funktion gelöst<br />
werden, welche für verschiedene Probengeometrien bek<strong>an</strong>nt ist [roo55, don78]. G(r,r‘)<br />
entspricht der Ladungsdichteverteilung bei Generation durch eine Punktquelle bei r‘. Die<br />
ungestörte Ladungsträgerdichte in einem defektfreien Halbleiter für beliebige Generation<br />
folgt d<strong>an</strong>n durch Integration über das Probenvolumen Ω S zu:<br />
z<br />
1<br />
q0<br />
D d 3<br />
() r = r' 4<br />
g (') r G (', r r)<br />
(3.17)<br />
π Ω<br />
S<br />
Gleichungen (3.14) und (3.15) sind die Grundlage für die Berechnung des <strong>KL</strong>-Kontrastes<br />
in Anwesenheit ausgedehnter Defekte und werden in Kapitel 7 benutzt.<br />
3.2.1.5 Spektrale optische Absorption<br />
Der spektrale optische Absorptionskoeffizient α(hν) ist eine weitere für das optische<br />
Verhalten eines Halbleiters relev<strong>an</strong>te Größe. Er steht im Zusammenh<strong>an</strong>g mit der komplexen<br />
dielektrischen Funktion ε(hν) bzw. dem komplexen Brechungsindex n(hν):<br />
4πνχ<br />
ε = n = n+ iχ,<br />
α = , (3.18)<br />
c<br />
wobei n und χ als (reeller) Brechung- bzw. Absorptionskoeffizient bezeichnet werden. Der<br />
Verlauf des Absorptionskoeffizienten am fundamentalen Überg<strong>an</strong>g bei hν≈E g spielt dabei die<br />
größte Rolle. Für parabolische Bänder erhält m<strong>an</strong> einen wurzelförmigen Verlauf der direkten<br />
Absorptionsk<strong>an</strong>te:<br />
αbhνg~ hν−Eg<br />
(h ν≥ Eg)<br />
. (3.19)