28.02.2014 Aufrufe

3 REM-KL Untersuchungen an Halbleitern

3 REM-KL Untersuchungen an Halbleitern

3 REM-KL Untersuchungen an Halbleitern

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Erfolgreiche ePaper selbst erstellen

Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.

<strong>REM</strong>-<strong>KL</strong> <strong>Untersuchungen</strong> <strong>an</strong> <strong>Halbleitern</strong> 27<br />

Für Niederinjektion und konst<strong>an</strong>te Temperatur erhält m<strong>an</strong> aus (3.4) und (3.13) für die<br />

Minoritäts-Überschussladungsträgerdichte q(r,t) (q=∆p im n- bzw. q=∆n im p-Halbleiter):<br />

b g (3.14)<br />

2 1<br />

− ∂ + ∇ − − = −<br />

∂t q( r, t) D q( r, t) µ∇ F( r, t) q( r, t) () q( r,<br />

r<br />

t) g( r,<br />

τ<br />

t)<br />

Die Feldstärkeverteilung bestimmt sich aus (3.5) und k<strong>an</strong>n bei totaler Verarmung in einer<br />

Raumladungszone konst<strong>an</strong>t gesetzt werden (Schottky-Näherung).<br />

Die stationäre Minoritätsträgerverteilung q(r) in Anwesenheit eines ausgedehnten Effektes<br />

ohne Driftfelder (F=0) ergibt sich aus der stationären Kontinuitätsgleichung:<br />

2 1<br />

D∇ q()<br />

r − q() r = −g()<br />

r<br />

τ() r<br />

(3.15)<br />

Die ortsabhängige Lebensdauer τ(r) weist dabei unmittelbar auf den lokalen Einfluss des<br />

Volumendefektes hin. Grenzflächen am Ort r S werden durch die R<strong>an</strong>dbedingung der Form<br />

∂<br />

D q ∂n<br />

r=r<br />

S<br />

= vq( r ) (3.16)<br />

S<br />

S<br />

berücksichtigt, durch die ein Diffusionsstrom in Richtung der Grenzflächennormalen fließt.<br />

Die i.Allg. nichtstrahlende Grenzflächenrekombination erfolgt mit einer Geschwindigkeit v S .<br />

In Raumrichtungen mit praktisch unendlicher Ausdehnung verschwindet die Ladungsträgerdichte<br />

( q( r)<br />

→0für r → ∞ ).<br />

Die Kontinuitätsgleichung k<strong>an</strong>n mit Hilfe der Methode der Greenschen Funktion gelöst<br />

werden, welche für verschiedene Probengeometrien bek<strong>an</strong>nt ist [roo55, don78]. G(r,r‘)<br />

entspricht der Ladungsdichteverteilung bei Generation durch eine Punktquelle bei r‘. Die<br />

ungestörte Ladungsträgerdichte in einem defektfreien Halbleiter für beliebige Generation<br />

folgt d<strong>an</strong>n durch Integration über das Probenvolumen Ω S zu:<br />

z<br />

1<br />

q0<br />

D d 3<br />

() r = r' 4<br />

g (') r G (', r r)<br />

(3.17)<br />

π Ω<br />

S<br />

Gleichungen (3.14) und (3.15) sind die Grundlage für die Berechnung des <strong>KL</strong>-Kontrastes<br />

in Anwesenheit ausgedehnter Defekte und werden in Kapitel 7 benutzt.<br />

3.2.1.5 Spektrale optische Absorption<br />

Der spektrale optische Absorptionskoeffizient α(hν) ist eine weitere für das optische<br />

Verhalten eines Halbleiters relev<strong>an</strong>te Größe. Er steht im Zusammenh<strong>an</strong>g mit der komplexen<br />

dielektrischen Funktion ε(hν) bzw. dem komplexen Brechungsindex n(hν):<br />

4πνχ<br />

ε = n = n+ iχ,<br />

α = , (3.18)<br />

c<br />

wobei n und χ als (reeller) Brechung- bzw. Absorptionskoeffizient bezeichnet werden. Der<br />

Verlauf des Absorptionskoeffizienten am fundamentalen Überg<strong>an</strong>g bei hν≈E g spielt dabei die<br />

größte Rolle. Für parabolische Bänder erhält m<strong>an</strong> einen wurzelförmigen Verlauf der direkten<br />

Absorptionsk<strong>an</strong>te:<br />

αbhνg~ hν−Eg<br />

(h ν≥ Eg)<br />

. (3.19)

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!