Katalog - OEK - OVE
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<strong>Katalog</strong><br />
Österreichische Bestimmungen für die Elektrotechnik<br />
Ausgabe: 2012-03-01<br />
Norm Titel Preis in €*<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60746-1:2003-10-<br />
01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60746-2:2003-10-<br />
01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60746-3:2003-07-<br />
01<br />
Angabe zum Betriebsverhalten von elektrochemischen Analysatoren<br />
-- Teil 1: Allgemeines<br />
Angabe zum Betriebsverhalten von elektrochemischen Analysatoren<br />
-- Teil 2:pH-Wert<br />
Angabe zum Betriebsverhalten von elektrochemischen Analysatoren<br />
-- Teil 3: Elektrolytische Leitfähigkeit<br />
100<br />
100<br />
100<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60747-15:2004-<br />
09-01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60747-16-1:2007-<br />
11-01<br />
Einzel-Halbleiterbauelemente -- Teil 15: Isolierte Leistungshalbleiter 145<br />
Halbleiterbauelemente -- Teil 16-1: Integrierte Mikrowellen-<br />
Verstärker<br />
156<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60747-16-<br />
10:2005-04-01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60747-16-3:2009-<br />
12-01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60747-16-4:2011-<br />
10-01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60747-5-5:2011-<br />
12-01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60749-1:2004-01-<br />
01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60749-10:2003-<br />
10-01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60749-11:2003-<br />
10-01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60749-12:2003-<br />
10-01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60749-13:2003-<br />
10-01<br />
ÖVE/ÖNORM EN 60749-14:2004-<br />
08-01<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60747-16-1:2002-09-01<br />
Halbleiterbauelemente -- Teil 16-10: Prüfplan für die<br />
Technikanerkennung (Technology Approval Schedule - TAS) für<br />
monolithische integrierte Mikrowellenschaltkreise<br />
Halbleiterbauelemente -- Teil 16-3: Integrierte Schaltungen zur<br />
Frequenzumsetzung von Mikrowellen<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60747-16-3:2003-05-01<br />
Halbleiterbauelemente -- Teil 16-4: Integrierte<br />
Mikrowellenschaltkreise - Schalter<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60747-16-4:2005-04-01<br />
Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente -- Teil 5-5:<br />
Optoelektronische Bauelemente - Optokoppler<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60747-5-3+A1:2003-04-01<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60747-5-2+A1:2003-03-01<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60747-5-1+A1+A2:2003-03-01<br />
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren<br />
-- Teil 1: Allgemeines<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60749+A1+A2:2002-11-01<br />
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren<br />
-- Teil 10: Mechanisches Schocken<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60749+A1+A2:2002-11-01<br />
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren<br />
-- Teil 11: Rascher Temperaturwechsel - Zweibäderverfahren<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60749+A1+A2:2002-11-01<br />
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren<br />
-- Teil 12: Schwingen, variable Frequenz<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60749+A1+A2:2002-11-01<br />
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren<br />
-- Teil 13: Salzatmosphäre<br />
Ersatz für: ÖVE/ÖNORM EN 60749+A1+A2:2002-11-01<br />
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren<br />
-- Teil 14: Festigkeit der Bauelementeanschlüsse (Unversehrtheit<br />
der Anschlüsse)<br />
156<br />
145<br />
110<br />
89<br />
45<br />
45<br />
58<br />
45<br />
58<br />
89<br />
*Nettoverkaufspreis für Papierversion (elektronische Version –20%). Preisänderungen vorbehalten.<br />
PAF = Preis auf Anfrage<br />
Seite 231
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