IEKP-KA/2013-8 - Institut für Experimentelle Kernphysik - KIT
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3.4. Der Silizium Spurdetektor 19<br />
Abbildung 3.5.: Der AMS-02 Permanentmagnet in der Seitenansicht (links) und das von<br />
ihm erzeugte Magnetfeld in der Draufsicht (rechts) [22].<br />
Das System zur Spurbestimmung besteht aus neun Lagen, die jeweils aus doppelseitigen<br />
Siliziumstreifensensoren aufgebaut sind. Dabei bilden die Lagen zwei bis acht innerhalb<br />
des Magneten den inneren Spurdetektor. Lage eins, oberhalb des Übergangsstrahlungsdetektors<br />
und Lage neun vor dem Kalorimeter bilden den oberen- und unteren Spurdetektor<br />
und erweitern den Messbereich für Rigiditäten bis zu 2 TeV. Insgesamt wurden 192 Siliziumstreifen<br />
verbaut. In Abbildung 3.6 ist der Aufbau des Spurdetektorsystems zu sehen.<br />
Abbildung 3.6.: Schematische Darstellung der Spurdetektorplatten (links) und Fotos vor<br />
deren Integration in den Detektor (rechts) [23].<br />
Durchdringt ein geladenes Teilchen einen der Siliziumstreifen, produziert es im Halbleitermaterial<br />
Elektronen-Loch Paare, die innerhalb von 10 ns durch ein anliegendes elektrisches<br />
Feld von etwa 80 V in entgegengesetzte Richtung abgesaugt und damit an der Rekombination<br />
gehindert werden. Die Elektronen werden von Leiterstreifen auf der Oberfläche des<br />
Sensors in direkter Umgebung des Teilchendurchgangs aufgenommen. Diese Elektronenströme<br />
kann man messen und damit den Ladungsschwerpunkt als Durchstoßpunkt des<br />
Teilchens mit einer Genauigkeit von 10 µm in der Krümmungsebene und 30 µm in der<br />
nicht gekrümmten Bahnebene bestimmen. Außerdem ist die Menge erzeugter Elektronen-<br />
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