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Grundlagen der Spektrumanalyse.pdf - Ing. H. Heuermann

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<strong>Grundlagen</strong> <strong>der</strong> <strong>Spektrumanalyse</strong><br />

Häufige Messungen und Funktionserweiterungen<br />

1RM *<br />

CLRWR<br />

* RBW 30 kHz Delta 2 [T1 PHN]<br />

VBW 300 kHz<br />

-112.76 dBc/Hz<br />

Ref -10 dBm * Att 0 dB * SWT 5 s<br />

100.00000000 kHz<br />

1<br />

-10 PHN -12.292 d Bm<br />

Marker 1 [T1 FXD]<br />

-12.25 dBm<br />

-20<br />

497.00000000 MHz<br />

-30<br />

A<br />

Aufgrund <strong>der</strong> hohen Mindest-Sweep-Zeiten bei schmalen ZF-Bandbreiten<br />

sind in <strong>der</strong> Praxis möglichst hohe Auflösebandbreiten wünschenswert.<br />

Ausgehend von einem breiten ZF-Filter ist daher die Auflösebandbreite<br />

schrittweise zu reduzieren, bis sich die Phasenrauschmeßwerte nicht mehr<br />

verringern.<br />

-40<br />

-50<br />

PRN<br />

6.1.3 Dynamikbereich<br />

a)<br />

b)<br />

-60<br />

-70<br />

-80<br />

-90<br />

-100<br />

-110<br />

1RM *<br />

CLRWR<br />

-30<br />

PHN<br />

Center 497.06 MHz<br />

-40<br />

-50<br />

-60<br />

-70<br />

-80<br />

-90<br />

-100<br />

20 kHz/<br />

2<br />

Span 200 kHz<br />

* RBW 3 kHz Delta 2 [T1 PHN]<br />

VBW 30 kHz<br />

-116.29 dBc/Hz<br />

Ref -10 dBm * Att 0 dB * SWT 5 s<br />

100.00000000 kHz<br />

1<br />

-10 PHN -12.292 d Bm<br />

Marker 1 [T1 FXD]<br />

-12.25 dBm<br />

-20<br />

497.00000000 MHz<br />

PHN<br />

-110<br />

Center 497.06 MHz 20 kHz/<br />

Span 200 kHz<br />

2<br />

A<br />

PRN<br />

Durch reziprokes Mischen wird in den umsetzenden Stufen des Spektrumanalysators<br />

das Phasenrauschen <strong>der</strong> Lokaloszillatoren auf das umgesetzte<br />

Eingangssignal übertragen (vgl. auch Kapitel 5.3, Phasenrauschen). Weist<br />

das Eingangssignal einen hinreichend hohen Pegel auf, so daß Einflüsse<br />

des thermischen Rauschens des Spektrumanalysators vernachlässigt werden<br />

können, so wird die erzielbare Dynamik bei geringen Trägerabständen<br />

ausschließlich durch das Phasenrauschen <strong>der</strong> LO-Signale des Analysators<br />

bestimmt. Diese Begrenzung durch das systemeigene Phasenrauschen ist<br />

unabhängig vom Pegel des Eingangssignals.<br />

Da stets die Summe aus dem Phasenrauschen des Meßobjekts und<br />

<strong>der</strong> Lokaloszillatoren des Spektrumanalysators gemessen wird, lassen sich<br />

daher nur Meßobjekte mit vergleichsweise höherem Phasenrauschen vermessen.<br />

Das systemeigene Phasenrauschen von Spektrumanalysatoren nimmt wie<br />

in Bild 5-11 dargestellt mit größer werdendem Trägerabstand ab. Für<br />

große Trägerabstände wird die Meßgrenze daher zunehmend durch das<br />

thermische Rauschen des Analysators begrenzt. Der Übergang von <strong>der</strong><br />

einen Begrenzung zur an<strong>der</strong>en erfolgt fließend.<br />

Um die Begrenzung durch thermisches Rauschen zu minimieren, ist<br />

ein möglichst hoher Signal-Rausch-Abstand, also ein möglichst hoher Signalpegel<br />

am Eingang des ersten Mischers anzustreben. Neben einem<br />

möglichst niedrigen Rauschmaß ist deshalb auch ein möglichst hoher<br />

1-dB-Kompressionspunkt für eine große Meßdynamik weitab vom Träger<br />

wichtig.<br />

Bild 6-4 Wahl <strong>der</strong> richtigen Auflösebandbreite: (a) Auflösebandbreite zu breit, <strong>der</strong><br />

Träger wird nicht ausreichend unterdrückt. (b) Auflösebandbreite genügend klein<br />

176<br />

177

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