Grundlagen der Spektrumanalyse.pdf - Ing. H. Heuermann
Grundlagen der Spektrumanalyse.pdf - Ing. H. Heuermann
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<strong>Grundlagen</strong> <strong>der</strong> <strong>Spektrumanalyse</strong><br />
Häufige Messungen und Funktionserweiterungen<br />
1RM *<br />
CLRWR<br />
* RBW 30 kHz Delta 2 [T1 PHN]<br />
VBW 300 kHz<br />
-112.76 dBc/Hz<br />
Ref -10 dBm * Att 0 dB * SWT 5 s<br />
100.00000000 kHz<br />
1<br />
-10 PHN -12.292 d Bm<br />
Marker 1 [T1 FXD]<br />
-12.25 dBm<br />
-20<br />
497.00000000 MHz<br />
-30<br />
A<br />
Aufgrund <strong>der</strong> hohen Mindest-Sweep-Zeiten bei schmalen ZF-Bandbreiten<br />
sind in <strong>der</strong> Praxis möglichst hohe Auflösebandbreiten wünschenswert.<br />
Ausgehend von einem breiten ZF-Filter ist daher die Auflösebandbreite<br />
schrittweise zu reduzieren, bis sich die Phasenrauschmeßwerte nicht mehr<br />
verringern.<br />
-40<br />
-50<br />
PRN<br />
6.1.3 Dynamikbereich<br />
a)<br />
b)<br />
-60<br />
-70<br />
-80<br />
-90<br />
-100<br />
-110<br />
1RM *<br />
CLRWR<br />
-30<br />
PHN<br />
Center 497.06 MHz<br />
-40<br />
-50<br />
-60<br />
-70<br />
-80<br />
-90<br />
-100<br />
20 kHz/<br />
2<br />
Span 200 kHz<br />
* RBW 3 kHz Delta 2 [T1 PHN]<br />
VBW 30 kHz<br />
-116.29 dBc/Hz<br />
Ref -10 dBm * Att 0 dB * SWT 5 s<br />
100.00000000 kHz<br />
1<br />
-10 PHN -12.292 d Bm<br />
Marker 1 [T1 FXD]<br />
-12.25 dBm<br />
-20<br />
497.00000000 MHz<br />
PHN<br />
-110<br />
Center 497.06 MHz 20 kHz/<br />
Span 200 kHz<br />
2<br />
A<br />
PRN<br />
Durch reziprokes Mischen wird in den umsetzenden Stufen des Spektrumanalysators<br />
das Phasenrauschen <strong>der</strong> Lokaloszillatoren auf das umgesetzte<br />
Eingangssignal übertragen (vgl. auch Kapitel 5.3, Phasenrauschen). Weist<br />
das Eingangssignal einen hinreichend hohen Pegel auf, so daß Einflüsse<br />
des thermischen Rauschens des Spektrumanalysators vernachlässigt werden<br />
können, so wird die erzielbare Dynamik bei geringen Trägerabständen<br />
ausschließlich durch das Phasenrauschen <strong>der</strong> LO-Signale des Analysators<br />
bestimmt. Diese Begrenzung durch das systemeigene Phasenrauschen ist<br />
unabhängig vom Pegel des Eingangssignals.<br />
Da stets die Summe aus dem Phasenrauschen des Meßobjekts und<br />
<strong>der</strong> Lokaloszillatoren des Spektrumanalysators gemessen wird, lassen sich<br />
daher nur Meßobjekte mit vergleichsweise höherem Phasenrauschen vermessen.<br />
Das systemeigene Phasenrauschen von Spektrumanalysatoren nimmt wie<br />
in Bild 5-11 dargestellt mit größer werdendem Trägerabstand ab. Für<br />
große Trägerabstände wird die Meßgrenze daher zunehmend durch das<br />
thermische Rauschen des Analysators begrenzt. Der Übergang von <strong>der</strong><br />
einen Begrenzung zur an<strong>der</strong>en erfolgt fließend.<br />
Um die Begrenzung durch thermisches Rauschen zu minimieren, ist<br />
ein möglichst hoher Signal-Rausch-Abstand, also ein möglichst hoher Signalpegel<br />
am Eingang des ersten Mischers anzustreben. Neben einem<br />
möglichst niedrigen Rauschmaß ist deshalb auch ein möglichst hoher<br />
1-dB-Kompressionspunkt für eine große Meßdynamik weitab vom Träger<br />
wichtig.<br />
Bild 6-4 Wahl <strong>der</strong> richtigen Auflösebandbreite: (a) Auflösebandbreite zu breit, <strong>der</strong><br />
Träger wird nicht ausreichend unterdrückt. (b) Auflösebandbreite genügend klein<br />
176<br />
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